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Forum: Mikrocontroller und Digitale Elektronik Negativen Impuls verstärken


Autor: Elias B. (bouni)
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Hi,

Ich habe ein kleines Problem:

Ein Testsystem schickt mir im Fall A wie im Fall B einen positien impuls 
um ein peripherie Gerät zu schalten.

Das Gerät erwartet jedoch im Fall B einen negativen impuls.

Fall A funktioniert einwandfrei.

Für Fall B hatte ich noch einen NAND Schmitt Trigger rumliegen 
(CD4093BE).
Da habe ich die beiden eingänge zusammen auf Signal B vom Testsystem 
gehängt und den Ausgang auf eingang B der peripherie.

Ohne Erfolg.

Oszi angehängt, und siehe da: Signal A Amplitude von etwa 4,8V

,,,,,,,,,,....,,,,,,,,,,,,,,, 5V
         |    |
.........|    |.............. GND

Signal B ( nach dem NAND ) Amplitude von ca. 2,5V !?

.........      ...............5V
         |....|

,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,GND

Der Low Impuls reicht also nicht aus um wirklich ein low zu sein!

Meine ASCII Art soll das ganze etwas verdeutlichen :)


Wie kann ich diesen impuls weiter in richtung GND verstärken ??

Ich habe noch einen OP200 Operationsverstärker rumfahren.


Danke für jede Hilfe :)

Bouni

Autor: Ralf Schwarz (spacedog) Benutzerseite
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Da nützt "verstärken" auch nichts, da ist was kaputt.

Was hängt da alles am Ausgang deines NAND? Möglicherweise ist da etwas, 
das das Potential hochzieht -> Lötbrücke, etc.

Oder dann ist das NAND einfach kaputt -> Ausgang abhängen und nochmals 
messen.

Autor: Elias B. (bouni)
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Hallo,

Ich habe gerade noch mal alles kontrolliert:

So sieht der aufbau aus:

Testsystem              Peripherie

Pin 13 ----------------- Pin 1,13  :: +5V
              |
               --------- Pin 14 NAND (VCC)

Pin 25 ----------------- Pin 3 :: GND
              |
               --------- Pin 7 NAND (GND)

Pin 21 ----------------- Pin 21 Signal A


Pin 8  ------------------ Pin 1 und 2 NAND Input
                               ______

NAND Output Pin 3 ------ Pin 5 Signal B


Das NAND hab ich mit einem Funktionsgenerator und dem Oszi bis 1 Mhz 
getestet und die flanken waren super und auch die Pegel waren annähernd 
perfekt!!

Bouni

Autor: Ralf Schwarz (spacedog) Benutzerseite
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Dann hängt wohl noch etwas am Ausgang, was ein höheres Potential bringt. 
Was ist denn das für ein/e Testsystem/Peripherie?

Autor: Elias B. (bouni)
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Hi,

Die Peripherie ist ein Handler.

Ich hab mal ein Bild vom Signal vor und nach dem nand gemacht.


Bouni

Autor: Ralf Schwarz (spacedog) Benutzerseite
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Ah, ein Handler; dann ist ja alles klar.

Aber was hängt alles dort dran, wo das blaue Signal herkommt. Und was 
für ein Potential hat dieser Punkt, wenn dein "Testsystem" nicht 
angehängt ist?

Autor: Elias B. (bouni)
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Und hier noch ein bild wenn Eingang B vom Handler abgehängt ist!!!

Scheint der Handler zu sein!!

Bouni

Autor: Elias B. (bouni)
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Hi,

Es ist ein Axialhandler zum testen von Dioden undanderen Axialen 
bauteilen :)

Das Gelbe Signal geht vom Testsystem in das NAND, das balu kommt dort 
wieder raus und geht zum Handler.

Wenn der Handler dran ist geht das Signal nicht auf LOW sonst schon.

Bouni

Autor: Ralf Schwarz (spacedog) Benutzerseite
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Was ja dann wohl bedeutet, dass am Pin 5 deines Handlers irgend ein 
Potential anliegt.

Was ist denn das für ein Handler (Hersteller, Typ) und was genau willst 
du damit erreichen?

Autor: Michael U. (amiga)
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Hallo,

die Infos zur Last sind... naja... spärlich...

Vielleicht reicht es aus, wenn Du alle Gatter parallel nimmst.
Ist bei CMOS auf dem gleichen Chip zulässig.

Ansonten bleibt nur stärkeren Treiber nehmen.

Wenn ich Dein Oszi-Bild richtig interpretiere scheint es relative 
langsame Geschichte zu sein?

Simplen Transistor als Inverter nehmen?

Gruß aus Berlin
Michael

Autor: Helmut -dc3yc (dc3yc)
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Welchen Strom liefert denn der Eingang des Handlers bei Low? 
Wahrscheinlich kann dein CMos-Gatter das nicht "sinken". Musst du TTL 
verwenden oder einen Transistor hinterher.

Servus,
Helmut.

Autor: Elias B. (bouni)
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Hallo zusammen,

Ich bastel grade wieder mal am Handler:

Ich bin einen entscheidenden Schritt weiter!

Ich versorge das Interface des Handlers mit 5V und GND.
Der handler holt sich das erste Teil und kontaktiert es.
Ich bekomme vom handler den sog. SOT (Start of test) impuls.

Das testsystem gibt mir im erfolgsfall einen negativen impuls am EOT
( end of test ) Pin und der Handler erkennt ein Gutteil und holt sich 
das nächste.

Wenn das testsystem das teil schlecht misst, gibt es mir einen negativen 
impuls aum FAIL Pin.

Der Handler reagiert nicht.

Ich habe rausgefunden das ich erst einen negativen impuls am FAIL Pin 
brauche und anschließend, aber noch während dem FAIl Impuls einen EOT 
Impuls.

Dann erkennt der Handler ein FAIL Teil.

Wie kann ich die Zeit des Signals am EOT ein wenig verzögern ?

Ich dachte an irgend etwas mit einem Kondenstaor der das signal zum EOT 
Pin im FAIL Fall verzögern soll.

Ich hab aber keinen Plan wo und was für einen C ich nehemn soll.
Die Zeitspanne kann ruhig lange sein, ich habe es mittels "HAND 
SCHALTUNG" getestet.

Ich habe schon mittels eines PNP Transistors das signal auf EOT 
geschalten, aber wenn die Zeitspanne zwischen fail und EOT zu gering ist 
erkennt der Handler ein Gutteil :(

Bin für jeden Tipp dankbar!

Mfg Bouni

Autor: Elias B. (bouni)
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Hier noch eine grafik zu den Impulsen die funktionieren.

1: SOT Start des Testvorgangs
2: Gutteil
3: Failteil

Mfg Bouni

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