Forum: Platinen strombelastbarkeit von durchkontaktierungen


von c. lechner (Gast)


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Hallo,

wieviel Strom kann man pro Via ungefähr dimensionieren, ohne dass die
Durchkontaktierung Schaden nimmt?

Ich frage weil ca. 3A von der Unterseite auf die Oberseite müssen und
ich folglich wissen muss, wieviele Vias ich parallel schalten muß.

MfG
- cl

von Ulrich (Gast)


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musst du dir ausrechnen.
Kommt auf die Dicke der Kupferfläche und des Durchmessers an.
Dazu musst du eventuel beim Hersteller deiner Platine nachfragen wie
dich das wird.

Einfach gesagt:
Der Umfang einer durchkontaktierung ist die Leiterbahnbreite

von c. lechner (Gast)


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Danke schon mal für die schnelle Antwort!

Wenn ich also z.B. 28mil Lochdurchmesser annehme und 20µ metallisierte
Schichtdicke, dann käme ich auf 0.05mm². Ist halt nur ne Annahme das es
20µ sind und die Frage ist jetzt, ob man da 0.5A durchschicken könnte
...

- cl

von Sebastian F. (haseluenne)


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von Andreas K. (homer5785)


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@ Sebastian F.

Danke, klasse Tip, genau wonach ich gesucht hab. Die Website hat sich 
allerdings mittlerweile zu: 
http://www.fs-leiterplatten.de/html/el__bemessung.html geändert.

Danke nochmal...

Andi

von Christian W. (Firma: www.360customs.de) (doctormord)


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von kevin (Gast)


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und nun sind sie leider komplett offline.

Hier eine Alternative:
http://www.fs-pcb.de/html/el__bemessung.html

von hee (Gast)


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Eine 35u Leiterplatte hat in der Regel 17u aufmetallisiert, also auch im 
Loch.

von 0815 (Gast)


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hee schrieb:
> Eine 35u Leiterplatte hat in der Regel 17u aufmetallisiert, also auch im
> Loch.

Und das ist dann noch eine sehr optimistische Annahme. Denn das Kupfer 
hat gerade im Loch weniger Interesse, sich abzulagern. Bzw. der Strom 
ist hier garantiert am geringsten. Wäre die Platine z.B. 10cm stark, 
wäre ne Duko (im normalen µ- oder mm-Bereich) praktisch unmöglich.

von Mike (Gast)


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0815 schrieb:
> Und das ist dann noch eine sehr optimistische Annahme.

Hast du nachgemessen?
Leiterplattenhersteller, wie z.B. Beta-Layout messen die in den 
Durchkontaktierungen aufgebrachte Kupferstärke sogar nach. Die geben für 
ihren Prozess bei FR4 1.5mm ein Kupferstärke von 25 µm im Loch an.

von 0815 (Gast)


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Mike schrieb:
> Hast du nachgemessen?

Was soll man denn an dieser rein physikalisch bedingten Tatsache 
nachmessen? Scheide ich 17µ auf den Platinenoberseiten ab, sind es im 
Loch weniger. Von mir aus 16,9, schätze jedoch keine 15. Die genannten 
17µ beziehen sich auf eine Platine mit anfangs 18µ, die komplett zur 
35µ-Platine galvanisiert wird. Natürlich kann man auch mehr als 17µ 
Kupfer in der DuKo haben, wenn man anfangs weniger als 18µ nimmt, oder 
aber nur die DuKos allein galvanisiert. Im Loch bleibt aber immer 
weniger Kupfer als an der Oberfläche des Via. Und genau darauf bezog 
sich mein Beitrag.

Davon völlig unabhängig ist der ganze Thread eher sinnlos, weil man 
ähnliche, scheinbar zu hohe Stromdichten auch anderswo hat, z.B. beim 
Thermalpad.
Da kann man auch Stromdichten deutlich über denen von Leiterbahnen 
fahren...

von Mike (Gast)


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0815 schrieb:
> Da kann man auch Stromdichten deutlich über denen von Leiterbahnen
> fahren...

... weil meist nicht die Stromdichte sondern die Erwärmung der 
begrenzende Parameter ist. Bei Dukos und Thermals wird die Wärme über 
die daran anschließenden (breiteren/dickeren) Leiterbahnen abgeführt.

von 0815 (Gast)


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Mike schrieb:
> ... weil meist nicht die Stromdichte sondern die Erwärmung der
> begrenzende Parameter ist.

Nicht meist, sondern immer. Nur zu hohe Temperaturen zerstören 
Elektroniken. Zu hohe Ströme gibt es praktisch gar nicht, es sei denn, 
die daraus resultierenden Kräfte wären zu stark. Ich kann alle 
Elektronen der Welt durch einen einzigen Bonddraht schicken, wenn ich 
den (wie auch immer) auf 20° halte...
Die ganzen Halbleiter-Durchschläge, das sind alles allein thermische 
Zerstörungen. Fast immer noch begünstigt durch drastisch schlechter 
werdende Kennlinien oberhalb der maximal erlaubten Temperatur.

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