Thermisches Management für MOSFETs

OP #8084775
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Hallo,

Kurze Hintergrundinfo: Ich bin gerade dabei einen LED-Treiber zu designen. Ich verwende den MAX20078 und möchte diesen etwas "zweckentfremden". Das Eval-Board ist für 2 A ausgelegt, ich möchte den IC aber bis 18 A und 18 V nutzen.

Ich habe ausgerechnet, dass einer der Mosfets im Worst-Case ca. 2 W an Verlustleistung verbrät.

Das eigentliche Problem / die philosophische Frage: Ich habe ein Board entworfen mit ISZ0702NLSATMA1 als (High- und Low-Side-)MOSFET. Der ISZ0702NLSATMA1 ist ziemlich klein, soll aber bis zu 86 A können (bei entsprechender thermischer Anbindung).

Ich wundere mich etwas, da bei den MOSFETS das Drain-Pad gleichzeitig die Heat-Sink ist. Beim Low-Side MOSFET ist daher die Heat-Sink die Switch-Node, also der Teil, der sehr schnell hohe Spannungen schaltet. In allen Design-Regeln steht, dass diese Switch-Node möglichst klein gehalten werden soll. Gleichzeitig soll ich aber die Kupferfläche möglichst groß machen, damit die Wärme gut abgeführt werden kann. Außerdem kann ich nicht einfach Vias benutzen, weil die zweite Lage ja Ground sein sollte... Ich meine, selbst wenn ich unter der Switch-Node ein Polygon mit dem gleichen Netz vorsehen würde, wohin würde dann die Wärme "abfließen"? Die würde doch nur in die Platine gehen und dort bleiben. Sobald die Platine aufgeheizt ist, bringen mir die Vias in innenliegende Schichten nichts mehr. Wenn ich die Vias komplett durchgehend machen möchte, müsste ich auf allen Lagen das Polygon mit Switch-Node vorsehen(?) Das würde mir dann wieder meine schöne durchgehende Ground-Plane verhunzen.

Oder ich würde als zweite Lage Ground vorsehen und das Switch-Node Polygon an der gegenüberliegenden Seite der PCB (BOT) vorsehen. Halte ich für eine gute Idee, aber dann würde ich 48 V, 18 A mit 400 kHz mit steilen Flanken einmal komplett durch die Platine routen... das gibt doch eine schöne Antenne oder?

Beim derzeitigen Design habe ich bemerkt, dass die Wärme wohl nicht so gut in die Kupferfläche fließt. Während der MOSFET glühend heiß ist, fühlt sich die angrenzende Kupferfläche gerade mal handwarm an. Beim letzten Test ist mir der MOSFET kaputt gegangen.

Jetzt wäre meine erste Idee, einfach einen größeren MOSFET mit einem größeren Pad zu verwenden. Der RJ1L04BBGTL1 sieht vielversprechend aus.

Aber deshalb die philosophische/grundsätzliche Fragen: Die MOSFETs mit dem großen thermischen Pad und insgesamt kleinen Bauform (3mm x 3mm) scheinen "state-of-the-art" zu sein und häufig eingesetzt zu werden. Sehe ich es mit der Switch-Node zu kritisch und sollte sie einfach groß auslegen? Oder was ist da der Trick? Wie wird das gehandhabt?

Ich könnte auch ein TO-220 Gehäuse verwenden und das isoliert (mit Folie) auf einen größeren Kühlkörper schrauben. Dann freuen sich aber die Leute in der Produktion für die zusätzlichen Arbeitsschritte...

#8084794
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Zeig uns dein Design. Prosa nutzt hier nix. Außerdem, welches Boardmaterial, wieviel Cu Auflage, usw. Es macht schon einem Unterschied, ob 35µ (1 Oz) oder 70µ (2 Uz) drauf sind. Außerdem gibt es noch Alu-Kern Boards. Auch die könnte (richtig eingesetzt) Wunder bewirken. Und wenn das nicht reicht, Cu-Kern. Ältere FETs können dir für andere, neue Probleme sorgen. Möglicherweise braucht der mehr Spannung auf dem Gate, oder er hat mehr Gatekapazität, die umgeladen werden will. Oder der Kanalwiderstand ist höher. 4,5 Milliohm sind schon eine Hausnummer. Hast du mal mit dem Oszi geguckt, ob er richtig aufmacht? Ein modernes Bauelement hat zwar bessere Parameter, verzeiht aber weniger Fehler, wegen einem meist kleineren Die und geringerer thermischer Kapazität.

#8085108
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Max schrieb:

Ich wundere mich etwas, da bei den MOSFETS das Drain-Pad gleichzeitig die Heat-Sink ist. Beim Low-Side MOSFET ist daher die Heat-Sink die Switch-Node, also der Teil, der sehr schnell hohe Spannungen schaltet. In allen Design-Regeln steht, dass diese Switch-Node möglichst klein gehalten werden soll.

Klassisches Problem. Zwischen den beiden sich widersprechenden Anforderungen muss man einen Kompromiss finden. Mach den switch-node groß genug dass der Transistor ausreichend gekühlt wird, aber nicht größer. Es gibt Halbbrücken-ICs mit zwei MOSFETs drin die ihre Heat-Sink auf GND haben, da ist der isolierte thermische Übergang intern gelöst (dünne Aluminium-Oxid Schicht vermutlich). Aber das dürfte in deinem Fall überdimensioniert sein. https://www.ti.com/product-category/power-management/power-stages/gallium-nitride/overview.html

#8085148
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Hallo Max,

genau das Problem hat Infineon auch erkannt und deswegen das Source-Down-Package entwickelt. Du kannst für den High-Side-Schalter einen Drain-Down verwenden und für den Low-Side einen Source-Down, damit wird das Problem elegant umgangen. Dafür käme beispielsweise der hier infrage https://www.infineon.com/part/IQE030N06NM5

Es gibt auch Packages mit zwei integrierten Transistoren, da ist einer dann Drain- und einer Source-Down. Das wäre dann der https://www.infineon.com/part/ISG0614N06NM5H

Wenn du auf der zweiten Lage im geringen Abstand (etwa 100-200µm) sowieso eine Massefläche hast, musst du dir auch nicht so viele Sorgen machen, dass eine große Fläche beim geschalteten Knoten deutlicher abstrahlen würde. Du hast da schon ein bisschen Spielraum, bis es in der EMV-Messung wirklich problematisch wird. Eine Seitenlänge von λ/8 bis λ/6 (Lambda entsprechend höchster Frequenz, bis zu der du testen musst) gilt meines Wissens als unproblematisch.

Andererseits möchtest du die parasitäre Kapazität des geschalteten Knotens möglichst gering halten, um die Schaltverluste zu reduzieren, was wiederum für eine möglichst kleine Fläche spricht. Für diesen Fall gibt es dann natürlich diverse Produkte aus dem Temperaturmanagement von Thermal-Jumper bis Thermal-Pad. Da bist du dann aber an dem Punkt, wo du einen Kühlkörper oder zumindest einen Heat-Spreader brauchst, gegen den du dich koppeln kannst. Für diesen Fall gibt es bei Infineon dann auch immer noch Gehäusevarianten mit exponiertem Die, sodass man den gut an einen Kühlkörper anbinden kann.

Ich hoffe die Infos helfen dir.

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