SLC & MLC Speichermatrix Auswertung

Gast #3019824
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Hallo an alle,

In den FGMOSFETs neuester Generation beträgt die Kantenlänge der 
quadratischen isolierten Gates gerade einmal 10nm. Jetzt frage ich mich: 
Die Ladungsmengen, die dort gespeichert sind, sind doch so minimal, wie 
kann man den Drain-Source Widerstand überhaupt noch effektiv von der 
ungeladenen Variante unterscheiden? Besonders bei Mult-Level Cells? Wie 
wird so etwas ausgewertet?

Danke schonmal

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