FT232RL unbenutzte Eingänge

OP #997650
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Kann mir jemand sagen was ich mit unbenutzten Pins am FT232RL mache? 
Garnichts? Auf +5V oder GND? Direkt oder über Widerstand?

RTS#, CTS#, DTR#, DSR#, DCD# und RI# würden mich interessieren. OSCI und 
OSCO kann man laut Datenblatt ja offen lassen. TEST und AGND kommen auf 
Masse.

Was bedeutet das # am Ende eigentlich? Low aktiv?

Falls ich welche der Pins aufs falsche Potential lege, verhinder ich 
dann dass das Teil funktioniert? Würde gern nur RXD und TXD an den µC 
anschließen.
#997710
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Sorry, aber einfach alle unbenutzten Pins offen lassen ist FALSCH.
So dachte ich auch zuerst, dann funktionierte die Kommunikation aber 
nicht (Flowcontrol).
Wie es funktioniert siehst du im Schaltplan anbei. VCCIO kannst du 
natürlich auch auf 5V legen, wenn dein uC 5V IO Pegel erwartet.
Angehängte Dateien:
#997814
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Doch, muss er.

"26 TEST Input Puts the device into I.C. test mode. Must be tied to 
GND for normal operation." Meistens gehts, wenn er offen ist, aber ab 
und zu macht der Chip dann seltsame Sachen....

Flusskontroll-Pins kann man offen lassen, schließlich kann man ja im 
Betriebssystem einstellen, ob man mit oder ohne Hardware-Handshake 
arbeiten will. Funktioniert definitiv mit offenen Pins.
Gast #997818
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>> Du hast den Test Pin nicht auf Masse gelegt.
> Muss er auch nicht.
Doch, muss er, Auszug aus Datenblatt:

Puts the device into IC test mode. Must be tied to GND for normal
operation, otherwise the device will appear to fail.

Ralf
#997858
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Oha, stimmt. TEST muss auf GND. Bei mir funktionierte es zwar trotzdem, 
das heisst aber natürlich nicht, dass es immer so sein muss.

@gast: Leider ist der Anschluss an einen uC lediglich über Rx und Tx 
nicht als Beispiel im Datenblatt zu finden.
Am ehesten kommt Fig. 7.2 in Frage.
Dann funktioniert es aber nicht, da DTR und DSR offenbar dem FT232 
signalisieren müssen (=low), dass der uC empfangsbereit ist.
Persönliche Seite #997880
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Ralf wrote:
>>> Du hast den Test Pin nicht auf Masse gelegt.
>> Muss er auch nicht.
> Doch, muss er, Auszug aus Datenblatt:
>
> Puts the device into IC test mode. Must be tied to GND for normal
> operation, otherwise the device will appear to fail.
>
> Ralf

Habe ich da was verwechselt oder haben die das im aktuellen Datenblatt 
geaendert... hm.

Hab mal grad das Datenblatt gezogen, ueberarbeitet wurde das definitiv. 
Interessant...

EDIT: OK ich hab TEST in meinen Layouts auch auf GND (puh...) ;)

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