Wie messen ohne Signalverfälschung?

Gast #926682 
Hallo,
Ich habe bei einem Platineaufbau folgendes Problem:

Auf der Platine befinden sich 2 parallel
zueinander geroutete Leiterbahnen(1.Masse,2.Siggnal).
Diese sollen eine bestimmte Kapazität bilden.
Die entsprechende Kapazität wird mit einer Messchaltung
(Aufladung/Entladung über C mit Komperator dessen Ausgang
einen Counter enabled) detektiert.

Mein Problem:
Das Problem ist nun,das für eine Pegelmessung mittels
Oszi(1MOhm,~30pF,1:10)die Kapazitätsmessung total
beeinträchtigt wird.Die Schaltung ist so empfindlich
das die Anwesenheit des Tastkopf als Störung ausreicht.

Meine Fragen:
1.Welche Messmöglichkeiten gibt es noch ohne das
  Signal verfälscht wird?
2.Wie groß ist den die vom Oszi in die Platine eingekoppelte
  Kapazität,Spannung?

Danke für eure Mühen.
MFG
Christian
Antwort Zitieren Bearbeiten Thread verschieben Thread sperren Langsamer Modus Anmeldepflicht aktivieren Anpinnen Thread löschen Thread mit anderem zusammenführen Melden Danke
(Firma: eHaJo.de) Persönliche Seite 
Das Oszi wird leider immer irgendwelche Störungen einbringen.
Es gibt noch die Möglichkeit (eventuell) den Tastkopf auf 10x zu 
stellen, dann werden die Störungen um den Faktor 10 kleiner.
Die Kapazität vom Oszi ist abhängig vom verwendeten Kabel das du zum 
Messen verwendest. Die üblichen Koaxialkabel bilden ja eine "relativ" 
große Kapazität. Besser wären dann schon weit auseinanderliegende 
Einzelleitungen.
Eventuell kannst du die Kapazität des Kabels mit nem Hochpass/Tiefpass 
und nem Funktionsgenerator messen.
Wenn du die Werte hast kannst du sie ja linear in die Berechnung 
einfließen lassen (Kondensator/Widerstand parallel zur Schaltung) und 
die benötigten Werte hochrechnen.

/hannes
Antwort Zitieren Bearbeiten Löschen Melden Danke
Moderator (Firma: Titel) Persönliche Seite 
>2 parallel zueinander geroutete Leiterbahnen.
>Diese sollen eine bestimmte Kapazität bilden.
>:
>Das Problem ist nun,das für eine Pegelmessung mittels
>Oszi(1MOhm,~30pF,1:10)die Kapazitätsmessung total beeinträchtigt...

Ja klar, hast du mal ausgerechnet was du da für eine Kapazität hast?
Das bewegt sich doch im fF Bereich. Da ist mit so handelsüblichen 
Messgeräten mit handelsüblichen Tastköpfen nichts mehr los.

Sieh dich mal nach einem aktiven Tastkopf (active FET Probe) um, das 
könnte was bringen. Die haben Eingangskapazitäten unter 1pF.


>Die Schaltung ist so empfindlich das
>die Anwesenheit des Tastkopf als Störung ausreicht.
Ist es nicht eher so, dass die Schaltung so empfindlich ist,
dass irgendwas als Störung ausreicht.
Antwort Zitieren Bearbeiten Löschen Melden Danke
Thread beobachten

Antwort schreiben

Eine eigene Frage? Dieser Thread ist über 18 Jahre alt. Stell sie in einem eigenen Thread – dort lesen mehr Leute mit, und sie wird öfter und schneller beantwortet.

Neuen Thread starten

Eine Lösung, Ergänzung oder Rückmeldung zu diesem Thread? Dann antworte hier.

Formatierung
  • [c]C-Code[/c]
  • [code]Code in anderen Sprachen, ASCII-Zeichnungen[/code]
  • [math]Formel in LaTeX-Syntax[/math]
  • [[Titel]] – Link zu einem Artikel
  • Verweis auf einen anderen Beitrag: Rechtsklick auf dessen Beitrags-ID (#8078628), „Adresse kopieren“, in den Text einfügen

Mehr zur Formatierung

Längeren Sourcecode als Anhang, nicht in den Text. JPG nur für Fotos und Scans; Zeichnungen und Screenshots als PNG oder GIF. Siehe Bildformate.

Dein Name und deine E-Mail-Adresse

Schon registriert? Anmelden

Wird nicht angezeigt. Wir schicken dir einen Link; sobald du damit bestätigst, erscheint dein Beitrag.

Mit dem Abschicken legst du einen kostenlosen Account an und erkennst die Nutzungsbedingungen und die Datenschutzerklärung an.