log Stromverstärker pA - nA

Hallo Ihr,

sorry ich habe nicht ausführlich genug erklärt wie der Aufbau 
funktioniert.
Also, das AFM ist mit einer leitenden Spitze ausgestattet und diese ist 
über den Scankopf geerdet. Die Probe hingegen ist über eine 
Kontaktierung auf einer DC Spannung (im Moment vom Keithley vorgegeben) 
im Bereich 1V-2V. Es wird also der Strom durch die Spitze und damit 
durch die Probe lokal aufgelöst syncron zur Topographie aufgezeichnet.

Dieser Strom hängt aber nicht nur von den Schichteigenschaften ab, 
sondern auch von der Kontaktfläche zwischen Probe und Spitze. Daher 
schwankt der Strom über einen großen Bereich.

Ich hoffe dies hilft ein wenig den Aufbau zu verstehen. Hier ein Bild 
vom Prinzip: http://ipc.iisc.ernet.in/~ipcafm/1742.gif

Hallo,

Nein, der Messmodus ist im Kontakt-Modus. Keine Tunnelströme oder 
dergleichen....

Da es eher nicht auf die absolute Genauigkeit ankommt, könnte man so 
etwas aufbauen wie einen Transimpedanzverstärker mit 1-2 Dioden in der 
Rückkopplung.

Die Schwierigkeit wird eher darin liegen das der Verstärker relativ 
schnell sein muss - man will ja nicht Stunden auf ein Bild warten. Da 
sollte ggf. der Verstärker dicht an die Spitze mit ran um die Kapazität 
klein zu halten. Wenn die Anforderungen an die Dynamik nicht so extrem 
sind, geht ggf. erst ein normaler TIA (dicht an der Spitze) und dann ein 
Logarithmierer einacher bzw. besser - weil dann z.B. die Bandbreite 
weitgehend konstant bleiben kann.

Dynamischer schrieb:
> Weiss einer von euch vielleicht wo ich ein solches Gerät kaufen kann??

Hast Du neben http://www.femto.de/german/index.html
schon mal bei

  http://www.thinksrs.com/products/preamp.htm

oder

  http://www.zhinst.com/products/hf2preamps

geschaut. Auf den ersten Blick scheinen sie aber keine logarithm. 
Stromverstärker zu haben.

Michael Köhler schrieb:
> Harald Wilhelms schrieb:
>> Bei einem AFM im Kontaktmodus fliessen keine Ströme.
>
> Seh ich auch so. Scheint sich hier wirklich um ein RTM oder aber um ein
> neues Messverfahren zu handeln.

Im ersten Beitrag schreibt er doch:

Dynamischer schrieb:
> Wir möchten bei uns ein bestehendes atomic force microscope (AFM)
> umbauen oder erweitern zu einem conductive AFM (c-AFM)

Siehe z.B.
http://en.wikipedia.org/wiki/Conductive_atomic_force_microscopy

Hallo Leute,

danke für eure Beiträge. Der 160dB IC hört sich schonmal sehr gut an. 
Das Eval-Board ist auch eine tolle Sache ;)

Die Nähe zur Spitze und die Kapazitätsbetrachtungen muss ich mir noch 
genauer angucken!

@Michael: Das c-AFM Verfahren ist ziemlich alt und schon seit den 70ern 
in Verwendung. Es handelt sich nicht um ein RTM oder dergleichen. Das 
AFM wird normal an Luft betrieben, die Spitze besteht aus Silizium das 
mit einer PtIr Schicht leitfähig gemacht wird und der Cantilever geerdet 
ist. Der Kontakt ist in den meisten Fällen sogar Ohmisch und es können 
lokale IV Kennlinien aufgenommen werden....

> Der 160dB IC hört sich schonmal sehr gut an.

Ich glaube nicht, daß du 10mA brauchst. Nimm das 60dB Teil, das liegt 
näher an deinem Messbereich.