Gast
#3384593
Hallo, eine ca. 10x10 cm große Platine mit DC/DC-Wandler und nachgelagerter Elektronik ist über ein ungerschirmtes Kabel an eine 24 V-Versorgung angeschlossen. Die Abstrahlung wird im EMV-Labor gemessen. Nun wird zu Versuchszwecken (Nachbildung eines Schirmgehäuses) die Platine in Aluminiumfolie eingewickelt (natürlich ohne dass die Folie die Platine beruhrt) und die Alufolie an den leitfähigen Messtisch angebunden. Das Kabel bleibt weiterhin ungeschirmt. Im Vergleich zu vorher (ohne Alufolie) sind sowohl die gemessene Abstrahlung als auch die gemessenen Störungen auf der Powerleitung im Bereich 500 kHz - 100 Mhz stark angestiegen. Hat jemand dafür eine Erklärung? Der Entwickler hat jetzt Angst, dass wenn er die Platine in ein Gehäuse packt, sich dadurch die EMV-Eigenschaften verschlechtern (das Kabel muss ungeschirmt bleiben).