Εrnst B✶ schrieb:
> Es geht um die Lebensdauer der Daten, nicht um die Lebensdauer des
> Datenträgers.
Es geht um beides.
Die Thematik ist etwa so lange bekannt, wie es elektrisch löschbare
PROMs gibt.
Bei hohen Temperaturen sinkt durch thermisch erzeugte Ladungsträger die
Isolation des Dielektrikums und die gespeicherten Ladungen verschwinden
allmählich.
In den 1970ern hatte man noch nicht so feine Strukturen wie heute, das
Oxid war dicker und man brauchte bis zu 60V zum Programmieren.
Damals wurden für Chips wie den 1702 (2kBit EPROM) Zeiten für den
Datenerhalt von 300 Jahren bei 125°C genannt.
Das ist Geschichte.
Heute garantieren die Hersteller oft nur noch 10 Jahre für den
Datenerhalt.
Die neuerlich verwendeten analogen Speichertechniken, bei denen mehrere
Bits in einer Zelle gespeichert werden, dürften diese Situation nicht
gerade verbessern, obwohl man mit Fehlerkorrekturverfahren das
Abbröckeln der Information lange verbergen kann.
Der Betrieb mit hoher Temperatur hat als Hintergrund Verunreinigungen
des Dielektrikums. Herstellungsbedingte Na-Ionen wurden genannt.
In der Nähe dieser Ionen bilden sich Potentialmulden, in welchen beim
Programmieren die Tunnelelektronen, die eigentlich die Speicherelektrode
aufladen sollen, hängen bleiben.
Einerseits fehlen diese Elektronen natürlich auf der Speicherelektrode,
aber was schlimmer ist: Sie lassen sich beim Löschen nicht entfernen.
Dadurch setzt sich im Dielektrikum unter der Speicherelektrode eine
Ladung fest, die die Gate-Schwellspannung des Lesetransistors verändert.
Freundlicher Weise sind die von den Verunreinigungen hervorgerufenen
Potententialmulden so flach, so daß schon Wärme ausreicht, um die dort
gefangenen Elektronen allmählich wieder zu entfernen.
Die Löschbarkeit ist also der Grund, weshalb es eine in Betrieb
befindliche SSD gerne warm hat.
