RAM-Test für µC

Gast #278104
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Sowas ist kreuzgefährlich und verringert die Zuverlässigkeit drastisch.

Wenn man nicht höllisch aufpaßt, können Stackfehler oder verlorene
Interrupts die Folge sein.

Wenn überhaupt, darf man sowas auch nur in Assembler programmieren, da
ja C-Routinen selber SRAM benutzen können, d.h. die C-Routine kann sich
ihre eigenen Variablen zerstören.

Mein Rat: Finger weg von solchem Unsinn !!!


Peter
#278105
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Mal eine Gegenfrage: Wofür soll das gut sein?!?!
Ich denke das SRAM ist der letzte Speicher der bei einem µC der eine
Tendenz hat kaputt zu gehen. Vorher verabschieden sich wahrscheinlich
EEPROM und Flash. Zugegeben, eine SRAM Zelle ist komplexer als eine
EEPROM oder Flash Zelle, aber bei Betrieb innerhalb der Specs sollte
die extrem zuverlässig sein.

Gruß,
  Bastian
Gast #278108
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Externen RAM zu testen, macht meines Erachtens auch Sinn, besonders bei
steckbaren (erweiterbaren) Systemen. Bei internem RAM ist das wohl -
wie oben angedeutet - überflüssig und auch "gemeingefährlich".

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