Gast
#5489785
Ich habe via "USB-C" Stecker einen USB2.0 Audio DAC (TI PCM2705C) an ein Android Handy (Huawei Mate Pro) gebaut. Mit 1m Anschlusskabel und meine Leiterplatte dran im Plastikgehäuse. Wenn ich mit meiner Pistole am "ESD Testplatz" (manchmal schon ab 2kV) auf den Metallschirm direkt am Stecker (der im Handy steck) blitze. Wird die Musik unterbrochen und Handy meldet neues Audio Device usw., wenn ich das Bestätige geht das Fenster weg und Musik geht weiter. (Gleich so wie wenn ich den DAC ziehe und neu stecke) Kaputt geht ansich nichts (HW), da ich natürlich einen ESD Schutz auf der LP eingebaut habe. Aber ich vermute das auf den USB Leitungen "USB RESET Bedingung" entsteht (SW). Also D+/D- beide gleicher Pegel High oder Low je nachdem ob +2kV oder -2KV. 4 Lagen Layout ist mit "Masse auf einer ganzen 2. Top Lage" und Kabelanschluss am Leiterplattenrand 1. Top Lage und 20mm entfernt vom DAC Chip gestaltet. Ist das Verhalten erlaubt? Verstehe ich was falsch? Heist es nicht in der ESD Norm 10x ESD Puls bis +/-8kV und es darf keine Benutzeraktion erzwingen / auslösen ? USB Bus mit Oszi Messen ist schwer bei 2kV ;-( PS: andere Handys, andere Effekte z.B. die stürzen auch gern mal komplett ab, bzw. nur das Display oder Reboot. LG, Samsung usw. I.ü. habe ich gleiches Verhalten bei fertig gekauften "USB Audio DACs" . wie Terratec oder M-Audio deshalb: habe ich nun Verständnis Probleme ob es eventuell gar kein Mittel dagegen gibt oder/und das alles später im Prüflabor toleriert wird. Es darf halt nur nichts (betr. Hardware) echt kaputt gehen, Software usw. (Android Handy) darf schon reagieren oder abstürzen. Wenn ihr mich beruhigen könnt, her mit einem schlauen Hinweis
