Wenn Burst / Surge die MCU in die Ecke hängt, wird der Debugger Dir auch
nicht helfen.
Conducted / radiated Messung ist hinfällig wenn Du etwas so veränderst
das es nicht mehr der Serie entspricht. Dazu zähle ich mal den Debugger.
Burst / Surge ist eigentlich das Unproblematischte.
In positive Richtung muss man nur die Energie vernichten, ins negative
muss zusätzlich der Buffer Cap (der per Diode abgekoppelt ist!), lange
genug versorgen bis das Ereigniss vorbei ist.
Zu schwache Dimensionierung ist beim Surge zumindest dauerhaft gut zu
erkennen. Kaputt oder geht. Viel mehr ist da nicht.
Viel einfacher zu finden als so manch andere EMI Sauerei.
HF susceptibility ist zwar fies, aber auch da sehe ich keinen Debugger
als mögliche Lösungshilfe.
pcuser schrieb:
> Ich habe hier zwar einen USB/LWL-Wandler, jedoch verabschiedet sich die
> USB-Verbindung (oder der ST-Link) trotzdem.
Also ST Link an der gestörten MCU, an der gleichen VCC?
Was lässt Dich vermuten das die MCU dann überhaupt noch was tut, bzw.
warum sollte der STlink das Ereigniss durchstehen, wenn die MCU das
schon nicht packt?
Deux schrieb:
> Ich überprüfe bei der EMV
> Messung ja keine Software.
Oh doch.
Die Software ist durchaus Teil der Messung, kann selbst eine Störursache
sein oder wie in dem Fall des TO der schlüssige Beweis das hier kein
Watchdog triggert der die Kiste aus dem Nirvana zurückholt.
Oder die Brown out detection ist nicht aktiv, die MCU kommt in Bereiche
in denen sie nicht mehr zuverlässig arbeitet und führt zufälligen Cide
auszuführen.
Genau sowas hat uns mal eine große Rückholaktion bescherrt, weil die
Softies das für nicht relevant hielten.
Software die Leistungsteile ansteuert würde ich sogar als ganz
wesentlich für das Bestehen der Prüfung ansehen.
Schön mit fixer PWM ohne spread sprectrum, mit knappen Brückentimings
rumtackern und der Test ist gelaufen.