Gast
#5833689
Hintergrund: in der Praxis selektiert man für Exponentialkonverter 2 Transistoren mit möglichst gleicher Ube bei konstantem Ic. Die Idee dabei ist, dass dann auch der Sättigungsstrom Is der beiden Tr. identisch ist, und sich selbiger in der Expo.konvertergleichung rauskürzt - s. z.B.: https://www.schmitzbits.de/expo_tutorial/ Im Gummel plot wird log(Ic) über Vbe aufgetragen. Wenn man viele Messwerte hat, bekommt man annähernd eine Gerade. Wenn man diese herunter interpoliert bis Vbe = 0, landet man bei Ic = Is. Die Steilheit dieser Geraden ist z.B.laut http://www.idea2ic.com/PlayWithSpice/pdf/G%20U%20M%20M%20E%20L%20-%20P%20O%20O%20N.pdf 2,3 NF vt ,also die bekannten ~60mV delta Ube pro Ic dekade bei Raumtemperatur Dabei wird in SPICE modellen oft der "forward current emission coefficient" NF mit 1.0 gewählt (default). Allerdings wenn NF mal spezifiziert, dann z.B. mit 1.008 ( LTSPICE BC547B) oder 1.01 (BC547C). Die Anzahl der Stellen suggeriert zumindest, dass die Streuungen nicht so groß sind. Wenn NF nun bei Transistoren gleichen Typs schwanken würde, kann das ja auch bedeuten, dass sich die Gummel plots eben in diesem Ube-Punkt schneiden, aber Is,NF unterschiedlich,also die beiden Geraden nicht deckungsgleich sind. Da anscheinend niemand diese umständlichere Mehrpunktmessung macht, gehe ich davon aus, dass NF "ausreichend" konstant ist, bzw. andere Effekte größere Fehler beitragen. Kann das jemand bestätigen/kommentieren oder etwas zur Streuung von NF sagen ?