STM32F407 ADC Übersprechen zwischen Kanälen

Okay,

ich habe die Samplezeit der Temperatur- und Refrenzmessung auf 28 Zyklen 
hochgestellt. Und schwupps, die Störungen sind nicht mehr zu sehen.

Jetzt ist trotzdem meine Frage: Warum? Sind die internen Signale so 
"hochohmig" angebunden?

Das Umladen des S&H-Kondensators dauert halt einen Moment und braucht 
Strom.

M. H. schrieb:
> Jetzt ist trotzdem meine Frage: Warum? Sind die internen Signale so
> "hochohmig" angebunden?

(meine STM32 Kenntnisse sind eher , naja, )

Dir fehlte offensichtlich die Zeit zum Umladen des Sample&Hold 
Kondensators.
Ein Spannungsfolger/Impedanzwandler vor dem Eingang, kann das Umladen 
beschleunigen.

Das Datenblatt sollte die Details benennen und Empfehlungen geben.

M. H. schrieb:
> Jetzt ist trotzdem meine Frage: Warum? Sind die internen Signale so
> "hochohmig" angebunden?

Sind Sie nicht aber es ist doch logisch, dass das SH eine Zeit x braucht 
um den richtigen Wert an zu nehmen. Je mehr Strom dir zur Verfügung 
steht desto schneller geht das. Daher macht man wie bereits erwähnt 
eigentlich immer einen Impedanzwandler vor den ADC um diesen 
entsprechend treiben zu können. Zumal wenn man schnell messen möchte.

Ich rate mal, du hast falls überhaupt ein RC-Glied an deinem Eingang, 
das vermutlich noch einen recht großen Widerstand beinhaltet. Das mag 
bei den Bastelprojekten für Arduino mit den langsamen ADCs funktionieren 
in der Praxis aber eher nicht.

Schau dir für zukünftige Projekte mal aktive Filter an. Beispielsweise 
Sallen-Key. Du kannst natürlich auch die Sample Zeit hochstellen wenn du 
die Geschwindigkeit nicht brauchst aber selbst dann schadet das nicht.

Arduino Fanboy D. schrieb:
> Ein Spannungsfolger/Impedanzwandler vor dem Eingang, kann das Umladen
> beschleunigen.

Guest schrieb:
> Sind Sie nicht aber es ist doch logisch, dass das SH eine Zeit x braucht
> um den richtigen Wert an zu nehmen. Je mehr Strom dir zur Verfügung
> steht desto schneller geht das. Daher macht man wie bereits erwähnt
> eigentlich immer einen Impedanzwandler vor den ADC um diesen
> entsprechend treiben zu können. Zumal wenn man schnell messen möchte.

Wie bereits geschrieben: Die betroffenen Signale sind Chipintern. Da 
kann ich keinen Einfluss drauf nehmen. Die extern angebundenen Signale 
sehen i.O. aus.
Ich hatte nur irgendwie erwartet, dass man bei den internen Signalen des 
STMs auch kürzere S&H-Zeiten fahren kann, da das sonst den kompletten 
ADC ausbremst.

Ich werde das einfach auf einen anderen ADC auslagern, dann wird die 
Samplerate des "Haupt"-ADCsnicht beeinflusst.

Hab ich leider auch schon erlebt. Ursache ist ganz
einfach, dass bei mehreren Channeln immernoch der
selbe S&H-Kondensator verwendet wird. Hat dieser
nicht Zeit zu fast 100% den neuen Spannungswert
anzunehmen, z.b. durch einen externen Widerstand,
ist noch ein Teil von der alten Spannung auf dem
Kondensator, und beeinflusst das Ergebnis.

Du kannst es dir wie:

1

Spannung_Kondensator = 10% letzte Messung + 90% diese Messung

vorstellen.

M. H. schrieb:
> Ich werde das einfach auf einen anderen ADC auslagern, dann wird die
> Samplerate des "Haupt"-ADCsnicht beeinflusst.

Es gibt ellenlange Abhandlungen zu kapazitiven ADC's.

Lesen und verstehen.

Gem. Datenbltt brauchen sowohl die Interne Bandgap-Referenz (ADC_IN17) 
als auch die Interner Temperatursensor (ADC_IN16) einen Samplingtime von 
10us. (DocID022152 Rev 8 Table 69, 72)

@void
Danke.
@Nachricht an mich.
Bei Abfrage des internen Temperatursensors von STM32F0 mindestens eine 
Sambletime von 55.5 Cycles bei 14 Mhz ADC Frequenz beachten. Bei Messung 
von Vrefint ähnliches beachten.

void schrieb:
> Gem. Datenbltt brauchen sowohl die Interne Bandgap-Referenz (ADC_IN17)
> als auch die Interner Temperatursensor (ADC_IN16) einen Samplingtime von
> 10us. (DocID022152 Rev 8 Table 69, 72)

Alles klar. Danke. Das habe ich nicht gesehen.
Dann werde ich mit ADC1 die interen Signale samplen und mit ADC2 die 
externen.