TC 1796 Boundary Scan

Hallo,

ich beschäftige mich zur Zeit mit dem Infineon TC 1766 und 1796.

Beide verwenden die Laut Handbuch IEEE 1149 konforme JTAG Schnittstelle
für ihre OCD Funnktionalität.

Mein Hauptinteresse liegt im Test von Schaltungen, die diesen uC 
beinhalten.

Nun ist IEEE 1149 ja nichts anderes als Boundary Scan.

Unterstützen die TriCore uCs von Infineon nun Boundary Scan? und was 
genau kann ich eigentlich mit OCD erreichen?


gruß
Michael