RAM bzw ROM Test bei Microcontroller Systemen

Gast #2161084
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Hallo Zusammen,

im Netz [google] etc. findet man vieles zum Thema RAM (ext. SRAM)bzw ROM 
Test (Flash). Wobei der ROM - Test denke ich Recht einfach während eines 
Programmablaufes mittes CRC Methodiken überprüfbar ist. Auch viele 
Artikel behandel RAM-Test Mehoden (March X usw.) um fehler zu 
diagnostizieren. Alles verständlich und nicht meine Frage.

Nun meine Frage gibt es Ansätze eine SRAM Test auch on-the-fly 
auszuführen das heißt während mein Programm im SRAM läuft teste ich z.B. 
sektionsweise SRAM Bereiche. Wenn ja welche SRAM Fehler liessen sich mit 
einer solchen Methode finden welche nicht? Hab Ihr weitere Literatur 
oder Links die mir bei der Lösungsfindung meines Problems helfen 
könnten.

Danke udn Gruß

Detlev
Gast #2161107
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Detlev Neumann schrieb:
> Wenn ja welche SRAM Fehler liessen sich mit
> einer solchen Methode finden welche nicht?

Manchmal-Fehler
Adressfehler mit zu großem Abstand
blockierter Bus (gar kein Test möglich)

Programm durch RAM schieben und prüfen ist schon ein guter Test unter 
realen Bedingungen im Gegensatz zu nur 0 od. 1 schreiben. Bleibt nur die 
Frage, ob reservierte Speicherplätze übersprungen werden müssen.
Gast #2161159
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suche mal nach marching pattern algorithmen, BIST, BIST RAM, BIST ROM... 
ist besonders interessant bei unter/übertemperatur im grenzbereich der 
spec.

einmal als power-on self test, bevor das eigentliche anwendungsprogramm 
losläuft und im laufenden betrieb geht das auch mit einschränkungen 
(z.B. call stack usw.).

ansonsten könnte ich dir da gerne auch kommerziell weiterhelfen, da wir 
so etwas schon mehrfach für kunden realisiert haben 
(sicherheitskritische applikationen).

email an tom at tktronic punkt de bei interesse.

gruss, tom.
Gast #2161167
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Hallo ozzi40

oszi40 schrieb:
>Programm durch RAM schieben und prüfen ist schon ein guter Test

Ich möchte den RAM test aber Zyklisch d.h. im Laufenden Betrieb 
durchführen. Also muss der Rest meines µC Programm weiterlaufen.

Gruß

Detlev

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