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#2397007
Hallo zusammen, ich entwickle derzeit ein Steuergerät, welches im aktuellen Musterstand einen Surge Test auf der Versorgungsleitung (L-N) nach DIN 61000-4-5 bestehen soll. Versorgt wird das Steuergerät während des Tests wie im späteren Einsatz über eine 12V Bleibatterie, die Störbeaufschlagung erfolgt (wie gefordert) über 50cm lange Zuleitungen direkt (nicht über eine Koppelzange) mit einem UCS 500 M4 von EM-Test. Getestet wird der 1,2/50 Surge Impuls mit 500V. Das interne Schaltnetzteil (siehe Schaltregler.PNG) ist auf eine Ausgangsspannung von 3,3V ausgelegt und mit ca. 200mA belastet. Um die leitungsgebundene Abstrahlung zu reduzieren, befindet sich zwischen den Versorgungsanschlüssen und dem Schaltnetzteil ein Pi-Filter (siehe Filter.PNG), ein Verpolschutz (Q001) und, speziell für den Surge Test, eine bidirektionale TVS-Diode (D002), welche bei ca. 36V aufmacht. Das Problem besteht nun darin, dass das Steuergerät infolge des Surge Impulses einen Reset aufgrund eines Einbruchs der 3,3V macht. Während des Tests wurden an vier Stellen die Spannungsverläufe aufgenommen (siehe Messung.PNG); die Zuordnung ist wie folgt: Ch1 -> 3,3V direkt hinter Schaltnetzteil Ch2 -> TP4 (Spannung über C003 und C004, also vor Verpolschutz) Ch3 -> VBat (Spannung hinter Verpolschutz) Ch4 -> 3,3V direkt am Prozessor jeweils bezogen auf GND gemessen an TP3 Trotz intensiver Versuche ist es mir weder gelungen zu verstehen, warum die Spannung am Elko (Ch2) soweit einbricht, noch das Verhalten in einer Simulation nachzustellen. Versuche mit größeren Elkos (100uF - 330uF) und niedrigerem ESR haben lediglich zu einer Vergrößerung der Periodendauer der Schwingung geführt. Hat jemand vielleicht eine gute Idee, wo der Grund für dieses Verhalten zu suchen ist und wie ich dem Problem begegnen könnte? Vielen Dank schon mal für jede Hilfe. Chris


