Lego Education 9688 Energiemeter Schaltplan

Rammsteiner schrieb:
> Es geht in erster Linie um den Ladestrom des Gerätes, da dieser bei
> konstanter Spannungsquelle (z.B. Solarzelle mit konstanter Einstrahlung
> oder Netzteil) stark schwankt. Intern wird vermutlich der Lastwiderstand
> durch die Elektronik geschaltet. Mit dem Oszilloskop ist leider keine
> gute Messung des Ladestroms realisierbar. Ab höheren Spannungen von ca
> 3,3 V kann keine Kurve mehr aufgenommen werden. Ich bin ziemlich ratlos.
> Habe das Teil nun zerlegt und versuche den Stromlaufplan von + nach -
> des Akkus herzustellen, aber das ist schier unmöglich, da die Platine
> mehrere Lagen hat.

Unmöglich ist das nicht, nur eben invasiv (kann man das so sagen?). 
Zunächst müssen alle Bauteile von der Platine runter, also also ICs, 
Widerstände, Kondensatoren, eben alles. Beim Runterlöten kann man das 
Kleinzeug gleich durchmessen/bestimmen, die ICs muss man eben 
nachschauen oder als Blackbox sehen. Dann kann man die Platine eben 
lageweise anschauen, ich hab darüber aber noch nie gelesen oder so. Es 
ist bestimmt möglich den Stoplack und Bestückungsdruck chemisch 
abzuätzen, dann ein hochauflösendes schwarzweiß Foto der Platine machen, 
dann chemisch oder mechanisch die nächste Lage freilegen. Die Bilder 
kann man dann zu Vektorgrafiken machen und dann sollte sich das 
Auswerten recht einfach gestalten, kann man dann ja automatisieren. Ob 
das so gemacht wird, kA, ist nur eine Idee, die große Frage ist einfach, 
wie kriegst du die Lagen freigelegt ohne alles andere kaputt zu machen.

Die andere, vermutlich sinnvollere Variante ist es die großen ICs zu 
checken. Also zB. ist da bestimmt irgendein Prozessor drin, dann 
versucht man rauszufinden welcher das ist, das Datenblatt zu beschaffen, 
und dort steht dann ja meist ein Reference-Design oder Ähnliches. Das 
macht man für alle ICs und versucht dann daraus einen Sinn abzuleiten.

Erste Methode ist genau und führt sicher zum gewünschten Ergebnis, macht 
aber die Platine unwiederbringlich kaputt, zweite Methode ist schnell 
und schadet der Platine nicht, muss aber kein Ergebnis bringen (zB 
Datenblätter nicht auftreibbar) und man kann sich nicht immer ganz 
sicher sein wie es genau ist, vorallem Bauteilwerte wird man nicht 
rausfinden.