Hat die Substratdehnung Einfluss auf ein Signal in Mikrostreifenleitungen?

Gast #4278477
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Hallo in die Runde,

mir geistert ein Gedanke im Kopf herum: Wird das Signal ein einer 
Mikrostreifenleitung irgendwie durch die Dehnung des Substrates 
(messbar) beeinflusst? D.h. wäre es möglich, die Dehnung des Substrates 
analog zu einem Widerstands-DMS oder einem kapazitiven DMS allein 
mittels Mikrostreifenelementen zu ermitteln? Ich habe bisher nie mit 
Mikrostreifen gearbeitet, von daher kann die Idee auch totaler Humbug 
sein, sagts mir einfach ;-)

Viele Grüße
Franz
Gast #4278483
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Franz schrieb:
> Wird das Signal ein einer
> Mikrostreifenleitung irgendwie durch die Dehnung des Substrates
> (messbar) beeinflusst?

"Irgendwie" schon, aber du kannst z.B. nicht davon ausgehen, dass die 
thermische Ausdehnung in allen drei Raumrichtungen gleichmäßig erfolgt.
Gast #4280470
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Ok, kannst du "irgendwie" näher definieren?

Gehen wir mal davon aus, dass die thermische Ausdehnung Null ist und das 
Substrat nur in einer Richtung gedehnt wird. Gibt es dann 
Mikrostreifenelemente, die darauf empfindlich reagieren? Ich vermute 
mal, dass sich irgendetwas im Dielektrikum tun muss, damit man etwas 
sieht?
#4281501
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Was ich mir vorstellen könnte wäre nicht die Laufzeit sondern 
Reflexionen auf Grund einer geänderten Impedanz zu detektieren. Wenn die 
Anpassung vorher gut war kann ich mir vorstellen, dass sich auch kleine 
absolute Änderungen leicht detektieren lassen. Sind ja dann große 
relative Änderungen.

Eine andere Idee wäre es einen Resonator aufzubauen und die Änderung der 
Resonanzfrequenz zu messen.

Zusammenfassend: Vermutlich keine praktischen Anwendungen, aber 
theoretisch möglich.

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