Hallo zusammen,
wir haben bei einer Dual Active Half Bridge (DAHB) ein Problem, das wir uns nicht erklären können.
Aufbau (Schaltplan im Anhang):
- Primär: Halbbrücke an 640 V DC, Trafo zwischen Switchnode und kapazitivem Mittelpunkt (Vcc/2)
- Sekundär: Vollbrücke auf 24 V Konstantspannung
- MOSFETs: SiC 1200 V, Isolierter Gate Treiber
- Gatespannung: [+18 V / 0 V]
- Schaltfrequenz: ca. 22 kHz, Totzeit: 140 ns, Gatewiderstände: Rg,on 10 Ω / Rg,off 2 Ω
Messung (Bild im Anhang, 200 ns/div):
- Grün: Switchnode (250 V/div)
- Magenta: Spulenstrom (5 A/div)
- Cyan: Gate Low-Side (10 V/div)
Was passiert, wenn die High-Side ausschaltet:
- Der Spulenstrom (ca. 8 A) entlädt die Switchnode sauber in ca. 30 ns auf 0 V (ZVS funktioniert also eigentlich).
- Gleichzeitig wird das Low-Side-Gate kurz auf ca. -5 V gezogen (vermutlich Miller über Cgd).
- Die Switchnode bleibt ca. 60 ns bei 0 V. Genau in dem Moment, in dem das Low-Side-Gate einschaltet, steigt die Switchnode aber nochmal auf ca. 400 V an.
- Danach zieht der Low-Side-FET die Switchnode hart auf 0 V. Am Low-Side-Gate sieht man dabei einen Einbruch bzw. ein Miller-Plateau, er schaltet also hart.
Der Spulenstrom ändert dabei kaum seine Richtung. Unserer Meinung nach kann die Ladung für den zweiten Anstieg also nicht aus der Spule kommen. Wir wissen leider nicht wo das her kommt. Unser Verdacht ist, dass der High-Side-FET kurz wieder einschaltet. Das kann aber irgendwie nicht sein, da die Spannung dort bereits 0V beträgt.
Komisch: Wenn man unten zuerst anmacht, dann oben (also die andere Flanke: Low-Side aus → High-Side ein), tritt das Problem nicht auf. Es betrifft nur die Flanke High-Side aus → Low-Side ein.
Was wir schon probiert haben:
- Trafo getauscht → keine Änderung
- Gatewiderstände erhöht → keine Besserung
- Totzeit verkürzt → hat Protection getriggert
Danke für eure Ideen was es sein kann.



