Ich wollte nicht in die üblichen Fehler laufen.
Mir geht es um die Kalibrierung eines Quarz einer RTC, der sich auf der
Platine befindet. Zusätzlich befindet sich auf der Platine ein
Temperaturchip. Mein Testaufbau besteht aus der Platine etc. mit CPU,
die jede Sekunde die Temperatur vom Sensor liefert. Die RTC liefert ein
32768Hz Signal das mit einem Eingang der Meßeinheit verbunden ist. Die
Meßeinheit hat als zweiten Eingang ein 1Hz Signal von einem
GPS-Empfänger. Die Anzahl der HIGH-Flanken, von der RTC, werden 31
Sekunden gemessen (sollten ideal 1015808 betragen) und ausgegeben.
Soviel zum Testaufbau.
Ich habe heute zwei Methoden getestet.
Die erste lief über eine regelbare Heißluftpistole die auf die Platine
bläst, die Platine war in einem kleinen Metallgehäuse mit einer Öffnung.
Die Platine konnte sich so auf die Temperatur erwärmen und die
ausgegebenen Werte nach einer gewissen Zeit (wenn die Temperatur
konstant ist) aufgezeichnet werden. Der Temperaturbereich ist aber nicht
sehr genau einstellbar.
Als zweite Methode habe ich das Metallgehäuse mit 2 Billiglampen erwärmt
und gemessen. Diese Variante war für die Tonne ;-). Der Temperatursensor
erwärmt sich nicht gleichzeitig mit dem Quarz.
Die Temperaturkammer sollte auf jeden Fall die Kammer und das "Target"
auf die eingestellte Temperatur erwärmen und die auch halten. Ich denke
mal die Kammer muss isoliert werden und während einer Messung muss der
Lüfter+Lampe abgeschaltet werden damit keine Temperaturveränderungen
mehr auftreten. Ich bin mir jetzt nicht sicher ob die Temperatur in
einer Kammer 30 Sekunden der mehr gehalten werden kann. Evtl. hat damit
jemand Erfahrungen gemacht und kann diese berichten.