Ja, so etwas Ähnliches geht.
Aber ehrlich gesagt, nach dem was ich von Dir jetzt gelesen habe, musst
Du noch ein wenig Erfahrung sammeln, damit Du verstehst, wie es
funktioniert.
Du kannst die jeweils leitenden Body-Dioden entlasten, indem Du den
dazugehörigen FET aktivierst.
Das klingt aber leichter als es ist, denn Du weißt nicht, wie lange der
Strom fließt. Läßt Du die FETs zu lange an, fließt der Strom in die
andere Richtung.
Um den Strom daran zu hindern, in die falsche Richtung zu fließen,
kannst Du einen FET einschalten und den anderen offen lassen.
Das Verfahren nennt sich aktives bzw. semiaktives Decay.
Am besten Du verinnerlichst die möglichen Zustände:
LL slowDecay
LH fastRise+ / fastDecay-
HL fastRise- / fastDecay+
HH slowDecay
z.B. ist im Datenblatt des L6208 das recht schön beschrieben, der macht
nämlich semiactives Decay.
Dann gibt es noch was anderes zu beachten: man sollte vermeiden, "in
eine leitende BodyDiode zu schalten", d.h. wenn der Strom schon in der
BodyDiode fließt, sollte der FET nicht mehr eingeschaltet werden, da die
Diode dann "entladen" werden muss und dabei ein immenser Strom fließt.
Habe ich selbst gemessen, der Strom geht kurzzeitig (einige Dutzend ns)
in die zig bis hunderte Ampere.
http://www.krucker.ch/Skripten-Uebungen/AnSys/ELA4-D.pdf Bild 1.9
trr = Sperrverzögerungszeit (Reverse Recovery Time)
Das Timing (Verhältnis DeadTime / Dioden"entlade"zeit) muss sehr exakt
passen, da habe ich lange daran gesessen.
MOSFET body diode recovery mechanism in a phase-shifted ZVS full bridge
DC/DC converter
http://www.st.com/stonline/products/literature/an/13908.pdf
Predictive Gate Drive Frequently Asked Questions
http://focus.ti.com/lit/an/slua285/slua285.pdf
Examination of reverse recovery losses in a synchronous buck converter
circuit
http://www.siliconsemi.com/PDF_Files/reverse_recovery_effects_r6.pdf
Es gibt noch ein Dokument mit Titel ähnlich "dos and don'ts for
mosfets", glaube war von www.ST.com, finde es aber gerade nicht.