Gast
#1183573
Hi, in einem Microcontroller Projekt berechne ich eine CRC32 Prüfsumme (Standard CRC32) der Daten des FLASH Speichers um die Integrität des FLASHs zu checken. Da mein Code (u. konstante Daten) über weite Bereiche des FLASHs verteilt sind, habe ich zwischendrin ziemlich große "Lücken" (tw. ein bis mehrere kb lange '0'-Folgen). Jetzt habe ich mich gefragt, ob diese langen '0'-Folgen einen Einfluss auf die zuverlässigkeit des CRC's haben (also auf die Wahrscheinlichkeit, dass ein oder mehrere Bitfehler fälschlicherweise nicht erkannt werden...) Kann jemand dazu was sagen? Grüße, Daniel