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Forum: Mikrocontroller und Digitale Elektronik Reliability - Daten vorhanden?


Autor: Bodo Felger (Gast)
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Hallo,
ich bin auf der Suche nach Daten/Studien über die Zuverlässigkeit von
µC. Hier auch insbesondere von ATMega Prozessoren, da ich gerade damit
arbeite. Auch nach längerer Google-Suche hab ich leider keine Daten von
der Form gefunden, die ich brauche.
Also:
 - Fehlerquellen (z.B. Spannungsschwankungen, Strahlung)
 - Statistiken für Anfälligkeit der Daten bei diesen Fehlerquellen
(Strahlung? Temperatur?)
 - Wirksame Gegenmaßnahmen (Spannungsschwankungen -> BrownOut ist das
einzige, was ich gefunden habe)

Ist von Euch einer schonmal irgendwo über Informationen zu diesem Thema
gestolpert und hat die URL dazu nach parat?
Kennt ihr vielleicht die optimale Newsgroup für Fragen dieser Art?

Vielen Dank im Voraus
Bodo

P.S.: Daten der gleichen Art für ASIC, FPGA (flash/sram), CPLD würden
mir auch schon etwas helfen.

Autor: Läubi (Gast)
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Steht doch im Datenblatt drin was die Temperatur betrifft, und was für
Strahlung meinst du?
EM ist auf jeden Fall nicht gut aber eher selten.
Und gegen Spannungsschwankungen hilft immer noch ne gute
Stromversorgung... zu dem Thema gibt es aber auch viele Threads.

Im allgemeinen sind die AVR's aber ganz robust.

Autor: Bodo Felger (Gast)
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Was ich meinte sind Daten, wie zuverlässig der Prozessor ist, wenn er am
Rande der Spezifikation betrieben wird (oder knapp drüber). Also nicht
nur allgemeine Daten: "Ab Wert xyz wirds kritisch", sondern
Statistiken, wie gefährdet die Daten dann sind. Quasi
Zuverlässigkeitsanalysen über statistisch aussagekräftige Mengen von
µC, die in ihren Grenzbereichen getestet werden. (Hat Atmel solche
Daten veröffentlicht? Ich habe solche Dokumente leider nicht gefunden)

Was ich mit Strahlung meinte: Weltraumstrahlung, Strahlung in
Kernkraftwerken etc.
Kann es passieren, daß sich ein Bit im SRAM ändert, wenn es von einem
Gamma-Strahl getroffen wird (zB), wenn ja: mit welcher
Wahrscheinlichkeit.

Fallen jemandem noch weitere Möglichkeiten ein, die dem Einsatz in
Sicherheitskritischen Anwendungsbereichen entgegenstehen würden.

Das war so der Bereich, in dem ich gedacht habe.

mfg
Bodo

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