Gast
#124182
Hallo, ich bin auf der Suche nach Daten/Studien über die Zuverlässigkeit von µC. Hier auch insbesondere von ATMega Prozessoren, da ich gerade damit arbeite. Auch nach längerer Google-Suche hab ich leider keine Daten von der Form gefunden, die ich brauche. Also: - Fehlerquellen (z.B. Spannungsschwankungen, Strahlung) - Statistiken für Anfälligkeit der Daten bei diesen Fehlerquellen (Strahlung? Temperatur?) - Wirksame Gegenmaßnahmen (Spannungsschwankungen -> BrownOut ist das einzige, was ich gefunden habe) Ist von Euch einer schonmal irgendwo über Informationen zu diesem Thema gestolpert und hat die URL dazu nach parat? Kennt ihr vielleicht die optimale Newsgroup für Fragen dieser Art? Vielen Dank im Voraus Bodo P.S.: Daten der gleichen Art für ASIC, FPGA (flash/sram), CPLD würden mir auch schon etwas helfen.