Hallo, ich bin auf der Suche nach Daten/Studien über die Zuverlässigkeit von µC. Hier auch insbesondere von ATMega Prozessoren, da ich gerade damit arbeite. Auch nach längerer Google-Suche hab ich leider keine Daten von der Form gefunden, die ich brauche. Also: - Fehlerquellen (z.B. Spannungsschwankungen, Strahlung) - Statistiken für Anfälligkeit der Daten bei diesen Fehlerquellen (Strahlung? Temperatur?) - Wirksame Gegenmaßnahmen (Spannungsschwankungen -> BrownOut ist das einzige, was ich gefunden habe) Ist von Euch einer schonmal irgendwo über Informationen zu diesem Thema gestolpert und hat die URL dazu nach parat? Kennt ihr vielleicht die optimale Newsgroup für Fragen dieser Art? Vielen Dank im Voraus Bodo P.S.: Daten der gleichen Art für ASIC, FPGA (flash/sram), CPLD würden mir auch schon etwas helfen.
Steht doch im Datenblatt drin was die Temperatur betrifft, und was für Strahlung meinst du? EM ist auf jeden Fall nicht gut aber eher selten. Und gegen Spannungsschwankungen hilft immer noch ne gute Stromversorgung... zu dem Thema gibt es aber auch viele Threads. Im allgemeinen sind die AVR's aber ganz robust.
Was ich meinte sind Daten, wie zuverlässig der Prozessor ist, wenn er am Rande der Spezifikation betrieben wird (oder knapp drüber). Also nicht nur allgemeine Daten: "Ab Wert xyz wirds kritisch", sondern Statistiken, wie gefährdet die Daten dann sind. Quasi Zuverlässigkeitsanalysen über statistisch aussagekräftige Mengen von µC, die in ihren Grenzbereichen getestet werden. (Hat Atmel solche Daten veröffentlicht? Ich habe solche Dokumente leider nicht gefunden) Was ich mit Strahlung meinte: Weltraumstrahlung, Strahlung in Kernkraftwerken etc. Kann es passieren, daß sich ein Bit im SRAM ändert, wenn es von einem Gamma-Strahl getroffen wird (zB), wenn ja: mit welcher Wahrscheinlichkeit. Fallen jemandem noch weitere Möglichkeiten ein, die dem Einsatz in Sicherheitskritischen Anwendungsbereichen entgegenstehen würden. Das war so der Bereich, in dem ich gedacht habe. mfg Bodo
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