Gast
#1671299
Hallo zusammen, auf die µC-Hauptplatine wird eine weitere Platine aufgesteckt, deren Version durch die Pegel an den drei Pins des Steckers kodiert wird. Diese Pins werden vom µC der Hauptplatine an drei IO-Pins (weiter unten als Versions-Pins genannt) eingelesen. Die Platine wird in sehr kleinen Stückzahlen hergestellt. Für sie soll ein Testgerät (eine Art Testplatine) gemacht werden, die per Stecker und Kabel mit der Hauptplatine verbunden wird und mit dessen Hilfe die Funktion der Hauptplatine getestet wird. Und jetzt meine vielleicht etwas primitive Frage: Wie kann die Funktion der µC-IOs sinnvoll getestet werden, an denen die Version der aufsteckbaren Platine eingelesen wird. Am einfachsten könnte man an alle Versionspins bestimmte Kombination (z.B. 101) anlegen und im Controller per Testsoftware prüfen, ob er diese Kombination auch einliest. Wenn ja, Funktionstest der Versionspins erfolgreich, wenn nein - Fehlermeldung! Es kann aber ja ein Fehler/Defekt auf der Platine oder im Controller (IO-Treiber) auftreten, durch den rein zufällig die gleiche Kombination eingelesen wird. Aus diesem Grund ist ein solcher Test nicht besonders zuverlässig. Eine andere Möglichkeit wäre, z.B. mit DIP-Schaltern die Kombination zu verändern und die eingelesene mit der eingestellten zu vergleichen. Das ist zwar aufwendiger aber zuverlässiger. Und jetzt möchte ich euch um ein paar Anregungen bitten. Wie würdet ihr so etwas machen? Bin für jeden Vorschlag dankbar!!!