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Forum: Mikrocontroller und Digitale Elektronik Testen von Funktion der IO-Pins eines µC


Autor: noips (Gast)
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Hallo zusammen,

auf die µC-Hauptplatine wird eine weitere Platine aufgesteckt, deren 
Version durch die Pegel an den drei Pins des Steckers kodiert wird. 
Diese Pins werden vom µC der Hauptplatine an drei IO-Pins (weiter unten 
als Versions-Pins genannt) eingelesen.

Die Platine wird in sehr kleinen Stückzahlen hergestellt. Für sie soll 
ein Testgerät (eine Art Testplatine) gemacht werden, die per Stecker und 
Kabel mit der Hauptplatine verbunden wird und mit dessen Hilfe die 
Funktion der Hauptplatine getestet wird.

Und jetzt meine vielleicht etwas primitive Frage:

Wie kann die Funktion der µC-IOs sinnvoll getestet werden, an denen die 
Version der aufsteckbaren Platine eingelesen wird. Am einfachsten könnte 
man an alle Versionspins bestimmte Kombination (z.B. 101) anlegen und im 
Controller per Testsoftware prüfen, ob er diese Kombination auch 
einliest. Wenn ja, Funktionstest der Versionspins erfolgreich, wenn nein 
- Fehlermeldung! Es kann aber ja ein Fehler/Defekt auf der Platine oder 
im Controller (IO-Treiber) auftreten, durch den rein zufällig die 
gleiche Kombination eingelesen wird. Aus diesem Grund ist ein solcher 
Test nicht besonders zuverlässig. Eine andere Möglichkeit wäre, z.B. mit 
DIP-Schaltern die Kombination zu verändern und die eingelesene mit der 
eingestellten zu vergleichen. Das ist zwar aufwendiger aber 
zuverlässiger.

Und jetzt möchte ich euch um ein paar Anregungen bitten. Wie würdet ihr 
so etwas machen?

Bin für jeden Vorschlag dankbar!!!

Autor: MaWin (Gast)
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Natürlich werden von aussen durch eine Elektronik im Teststecker 
zeitlich nacheinander alle 8 möglichen (oder zumindest 3) Kombinationen 
angelegt und diese von der uC-Testsoftware ausgewertet ob alle stimmen

Autor: noips (Gast)
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Und noch was anderes:

Eine SPI-Schnittstelle des uC wird als SPI-Slave verwendet. Wenn ich 
diese Schnittstelle zum Test als Master konfiguriere und MOSI mit MISO 
kurzschließe (eine Art loop-back) und Daten von MOSI wegschicke und an 
MISO einlese und vergleiche. Wäre das eine gute Möglichkeit zum Testen? 
Es geht mir darum, auf der Testplatine nicht auch eine SPI-Schnittstelle 
einrichten zu müssen!

Autor: MaWin (Gast)
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> loop-back

Na ja, eins ist ein Ausgang, der andere ein Eingang, wenn dein 
Testadapter beide verbindet, reicht es ja, den Ausgang mal 1 und 0 zu 
schalten und zu gucken ob das auch am Eingang ankommt, ganz ohne SPI.

Du brüfst damit zumindest die Verbindungskontakte des Testadapters :-)

Autor: noips (Gast)
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>reicht es ja, den Ausgang mal 1 und 0 zu schalten und zu gucken ob das
>auch am Eingang ankommt, ganz ohne SPI.

Aber SPI-Modul des uC ist doch mehr als nur dig. Eingang und Ausgang. Es 
hat ja die Schieberegister, evtl. Pufferregister, Taktsignalauswertung 
und SS-Logik  (im Slave-Mode) wobei natürlich die letzten zwei mit 
meiner Methode oben sich nicht testen lassen. Und der Fehler kann irgend 
wo liegen, auch wenn der zugehörige Ausgang/Eingang in Ordnung ist.

Autor: noips (Gast)
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Ich hol den Thread mal nach oben, vielleicht hat jemand ja was dazu zu 
sagen!

Autor: Walter Tarpan (nicolas)
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Sicher. Die Chance, daß der Fehler auf dem Board liegt ist aber 
sicherlich deutlich höher, als wenn er im Chip liegt.

Oder andersherum: Wenn Du der internen Peripherie nicht mehr traust 
-Puffer, Treiber, Schieberegister - welchen Grund gibt es dann noch, dem 
Kern zu trauen?

Viele Grüße
Nicolas

Autor: Joachim (Gast)
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Hallo

In unserer Abteilung werden Prüfmittel erstellt, Incircuit und 
Funktiontest.
Beim ICT sehen wir zu, das jeder Ausgangspin mindestens einmal toggelt.
Jeder Eingangspin sollte ebenfalls mindestens einmal toggeln, und dieses
Toggeln sollte an einem Ausgang bemerkbar sein. Wir wollen damit testen, 
das
auch jeder Pin angelötet ist.

Du solltest also deine Versionspins von außen toggeln lassen und das
ganze auf anderen Pins wieder ausgeben. Dann kannst due sicher sein, das
deine Versionspins funktionieren.

Gruß
Joachim

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