Hallo und guten Abend, ich wollt mal in Erfahrung, ob jemand schon mal ein µC-Projekt gesehen oder realisiert hat, dass vollautomatisch einen FET vermisst und dessen UGS/ID-Kennlinie, vielleicht auch noch den ausgewerteten VP an einem PC zur Verfügung stellt. Diverse "FET-Tester" mit analogem Zeigerinstrument sind mir durchaus bekannt, aber zu Zeiten von µC's bin ich etwas erstaunt da noch nichts gefunden zu haben. Worum es mir im Einzelnen geht: Gerade bei JFET's gibt es innerhalb einer Charge gewaltige Schwankungen der UGS-ID-Kennlinie. Jetzt wäre es natürlich schön man könnte den FET einfach in eine Schaltung mit Vorrichtung zur Aufnahme des FET (auch SMD-Packages) packen und sich die Messerei sparen, weil alle notwendigen Parameter vollautomatisch bestimmt würden. Im besten Fall gibt man noch UDSmax ein und das war's. Gibt es sowas oder muss man das erst noch selbst "erfinden"? Danke für eure Informationen. branadic
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