Vollautmatischer FET-Tester

Hallo und guten Abend,

ich wollt mal in Erfahrung, ob jemand schon mal ein µC-Projekt gesehen 
oder realisiert hat, dass vollautomatisch einen FET vermisst und dessen 
UGS/ID-Kennlinie, vielleicht auch noch den ausgewerteten VP an einem PC 
zur Verfügung stellt.
Diverse "FET-Tester" mit analogem Zeigerinstrument sind mir durchaus 
bekannt, aber zu Zeiten von µC's bin ich etwas erstaunt da noch nichts 
gefunden zu haben.

Worum es mir im Einzelnen geht:

Gerade bei JFET's gibt es innerhalb einer Charge gewaltige Schwankungen 
der UGS-ID-Kennlinie. Jetzt wäre es natürlich schön man könnte den FET 
einfach in eine Schaltung mit Vorrichtung zur Aufnahme des FET (auch 
SMD-Packages) packen und sich die Messerei sparen, weil alle notwendigen 
Parameter vollautomatisch bestimmt würden. Im besten Fall gibt man noch 
UDSmax ein und das war's.

Gibt es sowas oder muss man das erst noch selbst "erfinden"?

Danke für eure Informationen.

branadic