Hi, ich soll die Magnetisierungskurve von dünnen Schichten (Schichtdicke 10µm-100µm, Material Nickel-Eisen-Kobalt-Legierungen) messen. Die Schichten werden galvanisch hergestellt, daher kann ich mir Form & Größe des Substrates innerhalb vernünftiger Grenzen aussuchen. Ich habe nach einigem Googlen folgende Möglichkeiten gefunden: 1) Die Schicht auf einem ringförmigen Substrat abscheiden und dann zum Messen einen Ringkerntrafo wickeln. Vorteil: genaue Methode, Nachteil: Serienversuche sind mühsam 2) die Schicht auf einem länglichen Streifen abscheiden, in eine Spule stecken, dann a) den magnetischen Kreis mit Trafoblechen vollständig schließen und wie bei 1) an einer Sekundärspule messen b) den magnetischen Kreis mit Trafoblechen fast schließen und einen Magnetfeldsensor (Hall oder magnetoresistiv?) in den Luftspalt einbauen Meine Fragen: Gibt es noch andere, vielleicht bessere Methoden? Welche würdet Ihr nehmen? Grüße aus Wien, Rudi
Wien ist nicht grad am Weg. Wir haetten ein paar Maschinen fuer diesen Zweck. Aber vielleicht gibt's auch von denen in der Naehe. hier noch die Infos zur PPMS (Physical property measurement system) http://www.qdusa.com/products/ppms.html AGM (Alternating Gradient Magnetometer) http://www.princetonmeasurements.com/agmfeata.htm VSM (Vibrating Sample Magnetometer) http://www.princetonmeasurements.com/twohds02.htm und zu guter letzt der SQUID Magnetometer http://www.2genterprises.com/srm_755.html
Hi, das wäre mit Kanonen auf Spatzen schießen. Ich will keine quantenmechanische Grundlagenforschung betreiben, sondern schlicht & einfach wissen, was die magnetischen Eckdaten meiner Schichten (Sättigungsmagnetisierung, Remanenz, Koerzitivfeldstärke) sind. Rudi
Hi, eine Methode hab' ich noch gefunden: 2 möglichst identische Helmholtzspulen bauen, in Serie schalten und mit einer spannungsgesteuerten Stromquelle speisen. In eine Spule kommt die Probe, die andere bleibt leer. Beide Spulen sind mit je einem Instrumentenverstärker versehen, die die Spannungsabfälle an den beiden Spule messen; die Ausgänge der Instrumentenverstärker gehen in einen Differenzverstärker. Ob ein analoger Integrator hinter dem Differenzverstärker sinnvoll ist, weiß ich noch nicht. Die Steuerung der Stromquelle und das Auslesen & Aufbereiten der Daten würd' ich mit einem USB-Messwerterfassungssystem und LabVIEW machen. Ist das sinnvoll oder hab' ich mich verrannt? Grüße aus Wien, Rudi
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