Hallo, ich habe hier schon viele interessante Beiträge gelesen und
möchten mich nun neben dem Löten auch ein wenig mehr mit der Elektronik
beschäftigen. Bisher habe ich nur mit Multimeter, ESR meter usw
gearbeitet um geräte zu reparieren. Nur komme ich nicht mehr weiter,
wenn es drum geht herrauszufinden ob ein DSP Chip oder ein Ram bei z.B.
einem Synth defekt sind.
Dazu überwege ich nun mir ein Oszi oder einen Logic analyzer zu kaufen.
Und genau das wäre meine Frage. Womit wären solche Messungen möglich,
also Ic Bausteine, DSP´s und Rams auf funktion zu prüfen in
eingeschaltetem Zustand.
Gedanken dauz habe ich mir schon gemacht z.B. mit dem Oszi den
datenstrom (Strombewegung)des Ram anzeigen lassen und mit einem daneben
z.B. vergleichen.
Wäre über jede Hilfe dankbar, weil ich da wirklich auf dem Schlauch
stehe und mit nicht recht vorstellen wie ich das richtig messen kann.
MfG
Stefan
Wenn du noch kein Oszilloskop hast, dann fang damit an.
Der Logic Analyser ist auch ein nettes Messgerät aber wenn da nicht das
rauskommt was du erwartest, nimmst du auch zu aller erst das Oszilloskop
um zu sehen, ob die Signale gut genug sind (also anständig "digital").
Wenn du das Geld zur Verfügung hast, lohnt sich auf alle Fälle ein
Oszilloskop mit 4 Kanälen, zwei sind schon sehr schnell knapp.
>Gedanken dauz habe ich mir schon gemacht z.B. mit dem Oszi den>datenstrom (Strombewegung)des Ram anzeigen lassen und mit einem daneben>z.B. vergleichen.
Ja und wenn nur eine Zelle im Ram kaputt ist meinst du das die Ströme
messbare Unterschiede haben???? So ein Quatsch.
>Wäre über jede Hilfe dankbar, weil ich da wirklich auf dem Schlauch>stehe und mit nicht recht vorstellen wie ich das richtig messen kann.
So sieht es aus.
Gruß Jonas
Stefan schrieb:> gibt es kein anderes welches genau dafür da ist?
Ds Ding ist doch eigentlich, daß ICs und DSPs (DSPs sind auch ICs) nicht
durch eine simple Messung als defekt oder in Ordnung eingestuft werden
können. Da müßtest du sämtliche Funktionen, die diese ICs beinhalten,
testen und auch alle Anschlußpins mit allen möglichen Bitmustern.
Für den Vergleich mit einer anderen funktionierenden Baugruppe könnte
man zwar einzelne Signale mit zwei Kanälen eines Oszis vergleichen, aber
dazu müßte die beiden Baugruppen auch völlig zeitsynchron laufen, sonst
wirst du auf jeden Fall Unterschiede feststellen. Auch bei einem RAM zu
Beispiel, wie schon angesprochen, können einelne Zellen defekt sein. Das
wirst du so einfach nicht rausmessen können. Auch bei anderen ICs (µC)
kann durchaus mal ein Port oder auch nur ein Pin defekt sein und der
Rest des Prozessors ist noch in Ordnung.
Kurze Zusammenfassung: Es kann kein Gerät geben, was dir sagt: "Dieses
IC ist in Ordnung oder defekt". Aber bei der Eingrenzung eines Fehlers
können Oszi und Logikanalyzer sehr hilfreich sein. Vorausgesetzt, man
weiß, was an einem bestimmten Punkt der Schaltung für ein Signal
anliegen muß.
Es gibt für den profesionellen Platinentest noch die Möglichkeit des
"boundary scan". Das lohnt aber nur für eine Serie. Und die eingesetzten
ICs müssen dafür geeignet sein. Damit lassen sich defekte ICs und
Leiterplattenfehler feststellen.
Hi,
professionelle 'legacy' IC-Tester kosten locker mal den Preis eines
Luxuskleinwagens, aber die einfacheren Tests macht man wie gesagt per
boundary scan, bzw. kann über das zugrundeliegende JTAG-Protokoll
typischerweise noch eine Menge anderes auf dem Chip getestet werden.
SRAMs und asynchrone Bausteine testet man typischerweise am lebenden
Objekt, für defekte Ramzellen also eher direkt an einem Test-Prozessor.
SDRAM- bzw. DDRAM-Timings zu monitoren benötigt Analyzer, die wiederum
etwa preislich im Kleinwagenbereich liegen..
Für einfache Chips ist schon ein Buspirat ab 25€ geeignet.
Wenn die Bausteine Boundary-Scan fähig sind, kann man schon viel machen.
Aber auch DDR-RAMs usw. sind da mittlerweile gut testbar. Wir arbeiten
mit dem Göpel System und da haben die mit VarioTap mittlerweile eine
Software, die solche RAMs direkt über die entsprechenden Funktionen des
Prozessors anspricht. Klappt auch bei den FPGAs, da können die über
eigene IP Cores z.B. auch die schnellen transceiver testen. Wir hatten
uns das mal vorführen lassen, war schon beeindruckend. Aber leider nicht
ganz billig.
Eigentlich ist boundary scan ziemlich einfach, das könnte jeder
Mikrocontroller übernehmen. Man muss nur derart tief in die Bedeutung
jedes einzelne Bits einsteigen, eine Automatisierung der Programmierung
der Testroutine ist kaum möglich.
Eine große Sammlung der BSDL-Files vieler Hersteller gibts hier
http://www.bsdl.info/index.htm
Einfach ist das schon. Die Kunst besteht ja dann darin, aus der
Netzliste des CAD Systems die passenden Bauelemente automatisch zu
erkennen, die Verbindung der BS-Zellen herzustellen und dann auch noch
möglichst effizient, als mit wenig Testschritten alle testbaren
Leitungen abzutesten, und zwar auf Kurzschluss mit GND, Kurzschluss mit
VCC, Kurzschluss mit einer anderen Leitung oder halt nicht
angeschlossen. Da sind bei den Herstellern sicherlich viele Mannjahre
reingeflossen.
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