Forum: Mikrocontroller und Digitale Elektronik Prüfverfahren Elektronik


von Tom K. (tom73)


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Guten Tag Zusammen,

ich suche nach nützliche Informationen, bezüglich verschiedenster 
Prüfverfahren von elektrischen Baugruppen.

ICT, AOI, Funktionsprüfung

Hierbei bin ich auf der suche nach Fachbüchern, die die einzelnen 
Prüfverfahren beschreiben.

Beispiel: Was kann ich alles mittels ICT ermitteln und wie sieht hierzu 
die Messtechnik aus, um die einzelnen Parameter der Bauteilwerte zu 
bestimmen.

Ich bin auch dankbar über jede Fachzeitschrift , die sich mit dieser 
Thematik beschäftigt. Auch bezüglich neuer Maschinen oder 
Automatisierungsprozesse in der Elektronikfertigung.

Vielen Dank
Tom

von 0x4E (Gast)


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Also der AOI ist ein optisches Prüfverfahren, dass direkt nach dem 
Bestücken eingesetzt wird. Mittels AOI, kann man das Vorahndensein von 
Bauteilen, Versatz von Bauteilen, etc. erkennen.
aber Vorsicht. Es können meistens nicht alle Bauteile von der Kamera " 
gesehen " werden, wenn sie zum Beispiel hinter einem Stecker platziert 
sind.
D.h. also, dass die klassische Sichtprüfung nicht komplett ersetzt 
werden kann. Schwierig ist es auch, wenn Bauteile ( meinstens 
Transistoren, etc.  )
um 180° gedreht nur auf der Platine geklebt sind und die Pins nach oben 
schauen. Das wird oft auch nicht erkannt.

Nach dem AOI und der SIP kommt dann meisten der ICT. Beim ICT wird die 
Platine in einen Testadapter auf Arrtierbolzen gesetzt und mittels 
Vacuum
an die Kontaktiernadeln kontaktiert. Es können alle Werte abgefragt 
werden, Spannungen, Widerstände, Induktivitäten, etc.....

Beim FAT wird die Baugruppe auf Funktion geprüft, d.h. es wird  Spannung 
angelegt, und es wird auch eine Last betreiben. Beim FAT werden meistens 
auch verschiedene einstellungen vorgenommen ( Jumper setzen, Spannugen 
einstellen, Software flaschen, etc.... )

Bücher kenn ich darüber nicht. ;-)

von Tom K. (tom73)


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Hallo,

erst einmal vielen Dank für deine Antwort, vielleicht habe ich meine 
frage nicht sehr präzise gestellt.Wofür die einzelnen Prüfverfahren da 
sind , ist mir soweit klar.

Zeitschrift: eine Zeitschrift die sich allgemein mit der Produktion von 
elektrotechnischen Produkten beschäftigt.
-  Neue Messtechnik, Abläufe bei der Produktion

Fachbücher: hier wäre eine Fachbuch toll welches sich genauer mit der 
ICT Messung beschäftigt.

-        Wie sieht die Messbeschaltung aus um z.b einen Kondensatoraus 
einer Schaltung auszulesen.

-        Welche Grenzen sind an so ein System gestellt, bezüglich der 
maximalen elektrotechnischen Größen die ausgelesen werden können. (z.b 
welche Kapazität eines Kondensators kann ermittelt werden)

Gruß

von aoi (Gast)


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von Tom K. (tom73)


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Hi,

Danke! Ich habe das buch gerade bestellt und werde mich aufjedenfall 
Rückmelden, wie gut es ist.

von 0x4E (Gast)


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Achso also da gibt´s viele:

1. Elektronik - Fachmedium für industrielle Anwender und Entwickler
2. Optik & Photonik
3. Markt & Technik
4. Elektronik Praxis
5. Embedded

Sorry für die Themaverfehlung. :-)

von Sebastian (Gast)


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Ein entscheidender Unterschied zwischen ICT und Funktionstest (ATE) ist, 
daß der ICT normalerweise ohne angelegte Betriebsspannung durchgeführt 
wird.
Der ICT ist ein Kurzschluß-, Verbindungs- und Bauteiltest. Der 
Bauteiltest im ICT erfolgt i.A. mit niedrigen Spannungen, um 
Verfälschungen durch andere, am selben Leitungsnetz hängende Bauteile 
(insbesondere Halbleiter) gering zu halten, teilweise werden auch 
benachbarte Netze auf ein definiertes Potential gelegt ("Guarding").
Beim Funktionstest hingegen werden Betriebsparameter überprüft 
(Versorgungsspannungen, Signale an bestimmten Punkten im Betrieb, je 
nach Baugruppenfunktion auch serielle Kommunikationsprotokolle etc. 
Dabei ist die Baugruppe mit Betriebsspannung versorgt.
Es gibt auch kombinierte Testgeräte, die beides können, da bestimmte 
Funktionseinheiten, z.B. der Relaismultiplexer zur Auswahl der 
Meßpunkte, bei beiden Verfahren gemeinsam verwendbar sind.

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