Hallo, erfolgt bei Bausteinen mit IEEE 1149.6 die erforderliche Taktzeugung eigentlich im Baustein selbst oder muss der Takt extern zugeführt werden? Leider kann ich bei den wenigen derzeit erhältlichen Bausteinen keine verbindlichen Informationen hierzu finden, z.B. beim Texas Instruments SCAN15MB200, und habe auch keinen Zugriff auf den Originaltext des IEEE. Ich kann mir nur schwerlich vorstellen, dass der Takt aus TDI abgeleitet wird.
Selbstverständlich berücksichtige ich die Informationen, die aus dem Datenblatt folgen. TI verweist für den o.g. Chip aber ausschließlich auf die IEEE 1149.6 und schweigt sich über die genaue Funktionsweise aus. Wie auch sonst bei Boundary Scan üblich gehe ich davon aus, dass das ganze auch mit minimalen Ressourcen, d.h. ohne separate Takterzeugung, funktionieren muss. Andererseits kann es ja durchaus sein, dass es irgendwo eine Taktquelle geben muss, die dann per Scanchain durchgeschaltet werden muss. Da ich keinen Zugriff auf den vollständigen Originaltext der Spezifikation habe, kann ich dort nicht nachschauen. Mittlerweile habe ich bei der geplanten Baugruppe aber die ohnehin nicht explizit geforderte Unterstützung für IEEE 1149.6 wieder gestrichen, sondern sichere für die entsprechenden Schaltungsteile nur die Testbarkeit gemäß 1149.1 zu.
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