Gast
#2204389
Kurze Frage zum immer wiederkommenden Thema Geigerzähler usw: Ab welcher Energiemenge kippt ein Bit in einem (Low Voltage) RAM? Könnte man die Fehlerrate als ein Maß für die Radioaktivität verwenden?
Gast
#2204391
Wenn Du Deinen RAM in den Reaktor steckst schon. Die Tschernobyl-Wolke hat damals keine auffälligen RAM-Fehler in D erzeugt. Heute sind die Strukturen etwas feiner wie die Fehlerkorrektur intern im konkreten RAM aussieht wäre noch interessant.
Dass der Inhalt von Speicherzellen durch Alphastrahlung verändert wurde, war einge Zeit Thema bei dynamischen RAM's. Quelle der Strahlung war dabei v.A. das Umhüllungsmaterial. Eine Aussage zur Energiemenge ist nicht direkt machbar, ein Teilchen mit der üblichen hohen Energie bei Radioaktivität (keV oder MeV) wird auf jeden Fall solch eine Zelle löschen. Maßgebend ist eher die Trefferwahrscheinlichkeit mit der die Teilchen eine Speicherzelle erreichen. Als Sensor sind allerdings arrays von Fotozellen wie Kamera-IC's geeigneter. Bei denen muss man das Die nicht mühsam freilegen - und eine SiO2-Schutzschicht haben sie dann auch.
oszi40 schrieb: > [...] wie die Fehlerkorrektur intern im konkreten RAM > aussieht wäre noch interessant. Bei welchem RAM wird den die Fehlerkorrektur intern gemacht? Bei PCs z.B. ist die ECC-Logik nur extern, im Chipsatz, und nicht in den eigentlichen RAM-Chips, falls man ECC-RAM verwendet. Edit: Und ECC bei DRAM wird hier grob umrissen: http://en.wikipedia.org/wiki/Dynamic_random_access_memory#Errors_and_error_correction
Gast
#2204880
Suchtipp: Soft Error
Gast
#2205027
Neuere DRAMs haben schon länger auch intern eine Fehlerkorrektur. Dabei geht es nicht nur um zufällige Fehler, sondern auch darum defekte Speicherstellen zu ersetzen. So kann eine deutlich bessere Ausbeute erreicht werden. Wenn da schon ein paar Hardware defekte drin sind, sind zwar nicht mehr alle Zellen noch gegen zufällige Fehler geschützt, aber immerhin noch die meisten.