"Lebenserwartung" Bauteile, Speicher etc.

Bastler Gast #2549217
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Hallo,

in vielen Datenblättern ist ja die zu erwartende "Lebensdauer" eines 
Bauteils unter verschiedenen Bedingungen angegeben.
Bei Bauteilen wie Elkos ist ja eine Jahrzehnte lange Erfahrung vorhanden 
und die in den Datenblättern angegebenen "Lebensdauer" bewegt sich in 
direkt nachprüfbaren Daten (mehrer 100 bis mehrere 1000 h).

Wie kommen aber die Hersteller auf eine zu erwartende Lebensdauer von 
zum Teil mehreren Jahrzehnte bis teilweise 100 Jahre für bestimmte 
Speicher ?
Also eine Technik die erst wenige Jahrzehnte exestiert, bzw. wo die 
direkt angesprochnen Typen erst wenige Jahre produziert werden (z.B. PIC 
und AVR ),sind das "einfach" nur eine Hochrechnungen von Daten aus der 
Klimakammer und Daten aus theoretischen Vorgängen ?

Wieviel Wert haben dann diese Daten in der Praxis wenn es erforderlich 
ist das ein Bauteil (eine programmierung eines µC) dann auch wirklich 
z.B. 20 Jahre funktioniert (bzw. nichts "vergisst").

mfg

      "Bastler"
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(prx) A. K. #2549232
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Bastler schrieb:

> Wie kommen aber die Hersteller auf eine zu erwartende Lebensdauer von
> zum Teil mehreren Jahrzehnte bis teilweise 100 Jahre für bestimmte
> Speicher ?

Wenn man die physikalischen Grundlagen der Alterung kennt, und deren 
Abhängigkeit von Parametern wie Temperatur, dann kann man diese Prozesse 
bei hoher Temperatur beschleunigt testen und auf Normalwerte 
extrapolieren.
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Stefan Gast #2549238
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Man kann Bauteile künstlich "altern" lassen, z.B. durch schnelle 
Temperaturwechselzyklen, mechanische Belastung durch Vibration, erhöhte 
Luftfeuchtigkeit etc. Daraus kann man theoretische Ausfallquoten 
bestimmen. Wie sehr dies allerdings der Realität nahekommt ist sehr 
fraglich. Deshalb schreiben die meisten Hersteller auch nur Angaben im 
Sinne von "85% aller IC's / Bauteile funktioniert nach x Jahren unter 
bestimmen Bedingungen". Sprich: eine 100%-ige Sicherheit für eine 
Baugruppe gibt es nicht....
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Ulrich Gast #2549577
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Die Elkos von heute unterscheiden sich schon von den Typen von vor 30 
Jahren. Da hilft einem die Erfahrung auch nur begrenzt. Bei den ersten 
Elkos aus den Röhrenradios war man davon ausgegangen das die Elkos eher 
nicht so lange halten wie sie es nachher getan haben. Andersherum war 
man mit den Elkos auf Mainboard auch mal reichlich optimistisch und 
hatte entsprechend reichlich frühe Ausfälle.  Genau weiß man das immer 
erst hinterher.

Bei den EEPORMs kann man ggf. auch Zwischenstufen des 
Informationsverlustes nachmessen - nicht unbedingt an der fertigen 
Schaltung, aber an Testschaltungen. Dazu kommt, das viele Speicher eine 
interne Fehlerkorrektur haben und so einige Ausfälle vertragen. Für die 
Alterungsversuche kann man ggf. die Zellen ohne Fehlerkorrektur prüfen 
und so schon Fehler feststellen die sonst die Fehlerkorrektur abfängt.
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