Was bedeutet "non-repetetive current"?

[spatz (Gast)]

Hallo,

bei Bauteilen wie Dioden oder Thyristoren ist in den Datenblättern von 
einem "non repetetive current" die Rede. Insbesondere das "non 
repetetive" weiß ich nicht so richtig zu deuten. "Nicht wiederholbar" 
könnte bedeuten, dass dieser Impuls nur einmal im Leben des Halbleiters 
auftreten dürfte. Aber ich denke, dass diese Angabe keinen großen Sinn 
macht. Als sinnvoll könnte ich mir vorstellen, dass das Bauteil nach 
einem solchen Impuls wieder vollständig auf Raumtemperatur abkühlen 
müsste, bevor es einen weiteren solchen Impuls bekommt. Aber Mutmaßungen 
bringen hier nicht weiter. Weiß jemand, was diese Angabe wirklich sagen 
will?

[Uwe Bonnes (Gast)]

"Nicht sich wiederholend" erscheint mir besser uebersetzt. Also ein 
einmalige Ereignis.

[Udo S. (urschmitt)]

Ich denke (habe allerdings dazu keine Definition) das bezeichnet den 
Strom, den ein Bauteil gerade so noch überlebt. Wenn der regelmäßig 
kommt, dann hast du unterdimensioniert, solche Impulse dürfen nur in 
Ausnahmefällen auftreten.

[Pd G. (pdg)]

spatz schrieb:
> dass das Bauteil nach
> einem solchen Impuls wieder vollständig auf Raumtemperatur abkühlen
> müsste, bevor es einen weiteren solchen Impuls bekommt

Genau das ist die Bedeutung dieses Datenblattwerts.

[non-repetetive post (Gast)]

spatz schrieb:
> Weiß jemand, was diese Angabe wirklich sagen will?

Der Hersteller. z.b. Dioden hergest. von Microsemi

defining-diode-data-sheet-parameters
Seite 5, oben rechts.

http://www.microsemi.com/document-portal/doc_view/14695-defining-diode-data-sheet-parameters

Die haeflte von Durchschnitt des Zerstoerungsgrenzwerts,
wird bei denen ausgewiesen unter den angegeben Bedingungen.

> Als sinnvoll könnte ich mir vorstellen, dass das Bauteil nach
> einem solchen Impuls wieder vollständig auf Raumtemperatur abkühlen

[Peter R. (pnu)]

Mit dieser Angabe werden Werte angegeben, die den Halbleiter bis an die 
Grenze seiner thermischen Belastbarkeit bringen.

Das non repetitve bezieht sich zumindest auf die Zeit, bis sich der 
Halbleiter wieder auf seine ursprüngliche Temperatur abgekühlt hat. Das 
kann schon in den Bereich einiger Minuten kommen.
Zusätzlich sind mit solchen "Temperatursprüngen" auch erhebliche 
mechanische Belastungen durch Temperaturausdehnungen verbunden, sodass 
eine Folge von solchen Belastungsstößen bald zum Ausfall des Halbleiters 
führen kann.

Also: wenn so etwas kommt, gehts an die äußerste Grenze. Mehrmals 
innerhalb einiger Tage/Stunden kann die Lebensdauer auf einige hundert 
oder gar -zig solcher Vorgänge verkürzt werden.

[spatz (Gast)]

non-repetetive post schrieb:
> Der Hersteller. z.b. Dioden hergest. von Microsemi
>
> defining-diode-data-sheet-parameters
> Seite 5, oben rechts.
>
> 
http://www.microsemi.com/document-portal/doc_view/14695-defining-diode-data-sheet-parameters
>
> Die haeflte von Durchschnitt des Zerstoerungsgrenzwerts,
> wird bei denen ausgewiesen unter den angegeben Bedingungen.

Danke, Perfekt! :-)

Das Datenblatt sagt auch: "If not, the junction temperature
is allowed to return to 45°C,"

Womit die Richtung meines Deutungsversuches nicht ganz falsch gewesen 
wäre:

>> Als sinnvoll könnte ich mir vorstellen, dass das Bauteil nach
>> einem solchen Impuls wieder vollständig auf Raumtemperatur abkühlen