Hallo, ich möchte mit einem µC (STM8S003) mit dem 10Bit-ADC mehrere Spannungen messen (Vref = Vdd = 5,0 V). Der absolute Messfehler ist für meine Anwendung uninteressant, weil zwischen den AD-Pins nur relativ gemessen wird. Ich meine damit beispielsweise, wenn durch einen Gain-Fehler und/oder Offset-Fehler AD-Pin1 2% zu viel misst und AD-Pin2 auch 2% zu viel misst, kürzt sich das raus und ist somit egal. Mir ist klar, dass ich die Nichtlinearitätsfehler nicht los werde (die Spannungen haben unterschiedliche Beträge). Aber wie sieht es grundsätzlich aus mit den Fehlern, wenn man die gemultiplexten AD-Kanäle miteinander vergleicht? Ich würde vermuten, dass die Fehler bei allen Kanälen nahezu gleich sind, weil es ja im Endeffekt immer der selbe AD-Wandler ist, der auf die verschiedenen AD-Pins geschaltet wird. Das Datenblatt schweigt sich dazu aus, oder ich habe es nicht gefunden. Was meint ihr dazu? Schöne Grüße Third Eye
Third E. schrieb: > Aber wie sieht es grundsätzlich aus mit den Fehlern, wenn man die > gemultiplexten AD-Kanäle miteinander vergleicht? Bei einem 10Bit-Wandler spielen die Unterschiede zwischen den gemultiplexten Kanälen überhaupt keine Rolle. Auch bei hochauflösenden A/D-Wandler integriert man sogar kleine Multiplexer, um die von Dir erwähnte Verhältnismessungen mit minimaler externer Beschaltung und Fehlerquellen durchführen zu können. Wichtig sind jedoch die folgenden zwei Punkte, die von Anfänger leicht vergessen werden: 1. Einhalten einer ausreichenden Wartezeit zwischen Umschalten und Starten der Wandlung 2. Vermeiden einer Übersteuerung eines Multiplexereinganges, da es sonst Übersprechen zwischen den Eingängen auftreten kann
Third E. schrieb: > Das Datenblatt schweigt sich dazu aus, oder ich habe es nicht gefunden. In der Regel sind der MUX-Ausgang und der ADC-Eingang nicht separat herausgeführt, d.h. die ADC-Parameter beziehen sich immer auf die Zusammenschaltung von beiden.