Gast
#4869308
Hallo, Folgendes Ausgangsproblem: Ich hab einen 8-Kanal ADC mit einem vorgeschaltetem Spannungsteiler (Verhältnis 1:15). Der ADC kann dementsprechend Messungen bis knapp 50V durchführen (hinter dem Spannungsteiler ist der Maximalwert dann irgendwo unter 3,3V). Des weiteren hab ich einen 2-Kanal DAC der Werte bis ca. 20V ausgeben kann. Nun soll das System einen Selbsttest durchführen können (der Grund dafür ist etwas seltsam, aber es soll halt so sein ;-) ) Das heißt: Jeweils vier ADC-Channel sollen auf einen DAC-Channel geschalten werden. Dann werden die Messergebnisse ausgewertet. (Währenden dem Selbsttest liegen natürlich keine externen Spannungen am ADC an). Im Anhang ist ein kleines Prinzipschaltbild für eine DAC-Channel und vier ADC-Channel (das ganze wäre also noch doppelt). Das Problem ist nun das "dynamische Zusammenschalten". Steuern würde ich das ganze gerne über einen GPIO (0V/3.3V). Im Normalzustand (kein Selbsttest) sollen sich ADC und DAC nicht gegenseitig beeinflussen, egal welche Spannungskombinationen anliegen. Beim Selbsttest sollten ADC und DAC möglichst ohne Qualitätsverluste verbunden sein. Die DAC-Spannung beim Selbsttest ist relativ egal, sollten aber optimaler weise 2-3 verschiedene Werte sein. Welches Schaltelement soll ich zum Zusammenschalten am Besten verwenden (bzw. wie soll es beschaltet werden)? Ich bin leider überhaupt kein Experte was MOS-FET's, Bip-Transistor und Dergleichen angeht, deshalb wäre ich froh, wenn ihr mir ein paar wichtige Eckdaten angeben könnten, auf die ich achten müsste (falls sowas in überhaupt in Frage kommt). Danke im Voraus! Schöne Grüße waelder
