Hallo, ich sehe in Datenblättern von komplexen Schaltungen manchmal Tabellen mit Ausfallwahrscheinlichkeiten. Dabei werden eine größere Anzahl Chips (hunderte) einem accelerated aging Test unterzogen (bei hoher Temperatur). Die Anzahl der defekten Bauteile wird dann ausgewertet. Ganz oft gibt der Hersteller an, dass bei dem Test kein einziges der Bauteile ausgefallen ist. Trotzdem wird aus der "Backzeit" und der Anzahl der Chips irgendwie eine zuverlässigkeit oder MTBF berechnet und mit einem Vertrauensintervall (?) angegeben. Kann mir jemand den Hintergrund davon erläutern, zum Beispiel durch passende Stichworte für Google oder Wikipedia? Auf eigene Faust finde ich nichts, würde die Zahlen aber gerne besser verstehen.
Gerhard schrieb: > Kann mir jemand den Hintergrund davon erläutern, zum Beispiel durch > passende Stichworte für Google oder Wikipedia? Für seltene Ereignisse gilt die Poissonverteilung. Trotz endlicher Wahrscheinlichkeit für Fehler besteht die Chance, das keine Fehler im Versuch auftreten. Damit läßt dann eine Aussage treffen, mit welcher Sicherheit eine Aussage "MTBF liegt bei xxx h" richtig ist.
Google doch mal nach dem Begriff B10-Wert. Kann sein, dass Dir das weiterhilft. Gruß Erich
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