Hallo zusammen, ich suche nach einem immer wieder genannten Speicher-Test-Algorithmus namens Walkpath . Kann mir jemand dazu irgendwelche Informationen geben oder nennen? Google ist gerade nicht sehr informativ über diesen mysteriösen Algorithmus. Ich finde dort viele "Walking ones" und "Walking zeros" aber keinen "Walkpath". Dachte schon, dass das evtl. irgend ein "Walking Pattern" Algorithmus ist, aber auch hier komme ich bei der Suche nicht weiter. Vielleicht hat ja jemand einen Tip für mich. Vielen Dank Leo
Hallo! Es ist ein "walking Pattern"-Algorithmus. Beschrieben z.B. in DIN EN 61508-7.
Gast
#5028337
Schau mal hier: https://webstore.iec.ch/p-preview/info_iec61508-7%7Bed1.0%7Den_d.pdf Das ist zwar nur das Inhaltverzeichnis, aber da steht immerhin was von:
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Der Standard IEC 61508-7 koennte also ein anlaufpunkt sein. https://webstore.iec.ch/publication/5521
Heise memtest?
Gast
#5028402
Wegstaben V. schrieb: > Heise memtest? Er wollte Infos über den genannten Algorithmus. Nicht den Namen eines Programmes.
ich habe angenommen, daß in den Sourcen vom Memtest infos vorliegen zu diesem Thema
Gast
#5028506
Hallo, schau einfach mal in die Safety Libraries von den Chipherstellern rein. Einige bieten da bereits kostenlos was an, wie Atmel und Freescale. Also generell ist ein guter Memory test nicht so einfach, weil du die physikalische Struktur deines Speichers gar nicht kennst. Die Hersteller geben da auch nichts preis. Da die Maske ihrer Chips Firmengeheimniss ist. Und dann kann es selbst bei 4K Byte Stunden dauern bis so ein Test auf einen Mikrocontroller fertig ist. Man muss also immer irgendwo etwas vereinfachen um die Zeit zu gewinnen. Dazu sind die meisten Algos die ich bis jetzt im Web gefunden habe nicht richtig umgesetzt. Vermutlich wegen der Zeit ! Gruß Sascha PS. Mikrocontroller mit Fehlerkorrektur (FEC/EEC usw.)verwenden.
Vielen Dank für die vielen hilfreichen Antworten! Ich freue mich immer wieder wie gut dieses Forum doch ist. Sascha schrieb: > Also generell ist ein guter Memory test nicht so einfach, weil du die > physikalische Struktur deines Speichers gar nicht kennst. Die Hersteller > geben da auch nichts preis. Da die Maske ihrer Chips Firmengeheimniss > ist. Leider wahr, aber dennoch geht es darum das best mögliche aus gegebenen Umständen heraus zu holen. Und ich behaupte mal, wenn man einen guten allgemeinen Speichertest findet, und dieser keine Fehler anzeigt, kann man mit gutem Gewissen hoher Zuverlässigkeit sagen, dass auch alles passt. Wie wahrscheinlich ist es, dass speicher ausfällt? Wie wahrscheinlich ist es, dass ein Test das nicht merkt und die Anwendung abstürzt? Ich glaube hier kommen wir dann in den bereich von "unwahrscheinlich" ;) Danke euch allen. Grüße Leo