RAM-Test Algorithmus"Walkpath"

[Leo B. (luigi)]

Hallo zusammen,

ich suche nach einem immer wieder genannten Speicher-Test-Algorithmus 
namens Walkpath .
Kann mir jemand dazu irgendwelche Informationen geben oder nennen?
Google ist gerade nicht sehr informativ über diesen mysteriösen 
Algorithmus. Ich finde dort viele "Walking ones" und "Walking zeros" 
aber keinen "Walkpath". Dachte schon, dass das evtl. irgend ein "Walking 
Pattern" Algorithmus ist, aber auch hier komme ich bei der Suche nicht 
weiter.

Vielleicht hat ja jemand einen Tip für mich.
Vielen Dank
Leo

[Route_66 H. (route_66)]

Hallo!
Es ist ein "walking Pattern"-Algorithmus. Beschrieben z.B. in DIN EN 
61508-7.

[Kaj (Gast)]

Schau mal hier:
https://webstore.iec.ch/p-preview/info_iec61508-7%7Bed1.0%7Den_d.pdf

Das ist zwar nur das Inhaltverzeichnis, aber da steht immerhin was von:

A.5.2 RAM test "walkpath"..........

Der Standard IEC 61508-7 koennte also ein anlaufpunkt sein.
https://webstore.iec.ch/publication/5521

[Wegstaben V. (wegstabenverbuchsler)]

Heise memtest?

[npn (Gast)]

Wegstaben V. schrieb:
> Heise memtest?

Er wollte Infos über den genannten Algorithmus.
Nicht den Namen eines Programmes.

[Wegstaben V. (wegstabenverbuchsler)]

ich habe angenommen, daß in den Sourcen vom Memtest infos vorliegen zu 
diesem Thema

[Sascha (Gast)]

Hallo, schau einfach mal in die Safety Libraries von den Chipherstellern 
rein.
Einige bieten da bereits kostenlos was an, wie Atmel und Freescale.

Also generell ist ein guter Memory test nicht so einfach, weil du die 
physikalische Struktur deines Speichers gar nicht kennst. Die Hersteller 
geben da auch nichts preis. Da die Maske ihrer Chips Firmengeheimniss 
ist.

Und dann kann es selbst bei 4K Byte Stunden dauern bis so ein Test auf 
einen Mikrocontroller fertig ist. Man muss also immer irgendwo etwas 
vereinfachen um die Zeit zu gewinnen.

Dazu sind die meisten Algos die ich bis jetzt im Web gefunden habe nicht 
richtig umgesetzt. Vermutlich wegen der Zeit !

Gruß Sascha

PS. Mikrocontroller mit Fehlerkorrektur (FEC/EEC usw.)verwenden.

[Leo B. (luigi)]

Vielen Dank für die vielen hilfreichen Antworten!
Ich freue mich immer wieder wie gut dieses Forum doch ist.


Sascha schrieb:
> Also generell ist ein guter Memory test nicht so einfach, weil du die
> physikalische Struktur deines Speichers gar nicht kennst. Die Hersteller
> geben da auch nichts preis. Da die Maske ihrer Chips Firmengeheimniss
> ist.

Leider wahr, aber dennoch geht es darum das best mögliche aus gegebenen 
Umständen heraus zu holen. Und ich behaupte mal, wenn man einen guten 
allgemeinen Speichertest findet, und dieser keine Fehler anzeigt, kann 
man mit gutem Gewissen hoher Zuverlässigkeit sagen, dass auch alles 
passt.
Wie wahrscheinlich ist es, dass speicher ausfällt?
Wie wahrscheinlich ist es, dass ein Test das nicht merkt und die 
Anwendung abstürzt?
Ich glaube hier kommen wir dann in den bereich von "unwahrscheinlich" ;)

Danke euch allen.
Grüße
Leo