In-Circuit-Test Risiko

Wie ist es aber mit Guard-Spannungen, also Spannungen die mal anlegt, um 
Widerstände unbeeinflusst von dem Rest der Schaltung messen zu können. 
Die können doch dazu führen, dass unerwünschter Strom in manchen Pfaden 
fließt.

Konkret sowas hier:
http://www.ni.com/white-paper/3486/en/

Danke

Ich hab den OP484 bei dem eventuell drei wegen dem Test ausgefallen 
sind. Wird noch untersucht.
Im Anhang habe ich ein Ersatzschaltbild des OP484 beigefügt.

Eval_Board2 schrieb:
> Ich hab den OP484 bei dem eventuell drei wegen dem Test
> ausgefallen
> sind. Wird noch untersucht.
> Im Anhang habe ich ein Ersatzschaltbild des OP484 beigefügt.

Ich würde sagen, die B-E-Strecke von Q10 wurde überlastet :-)

Nein, Spass bei Seite.
Wenn du das wissen willst, wirst du so vorgehen müssen:
Im Handbuch des Testers dürfte stehen, welche Spannungen und Ströme beim 
Guarding und auch so ganz allgemein auftreten können.
Dann wirst du kucken müssen, an welchem Port des OPV das denn zum 
Problem werden kann.

Alternativ:
Du misst das. Während des ICT, zum Beispiel mit einem Scope. Nachdem die 
Testpunkte üblicherweise unten sind, sollte es möglich sein, die Signale 
zum Beispiel mit einem Flachbandkabel herauszuführen.

Aus der "Schaltung" vom OPV wird dir das keiner sagen können...

Danke, ja da bin ich gerade dran die Messpannungen herauszufinden. Ein 
Scope wurde ebenfalls besorgt und wird ans ICT-Gerät angeschlossen.

Ich wollte nur wissen welches Risiko es bei dem OP484 gibt und ob die 
Eingangsstufe da empfindlich sei könnte und was dabei passiert, wenn man 
an der falschen Stelle eine zu hohe Spannung anlegt. (Alles bei 
ausgeschaltetem OP)

Im Datenblatt z.B. steht, dass absolute max. rating für Diff. Voltage 
0.6V beträgt. Wenn das im ICT nicht eingehalten wird oder wenn irgendwie 
durch Messspannung und Guardspannung da 0,6V Differenzspannung im 
Bauteil anliegen, könnte ja die Eingangsstufe degradieren. (bei nicht 
korrekter Strombegrenzung)

Wie sieht es mit ESD aus?
Möglicherweise ist da das Problem.

Petra schrieb:
> Wie sieht es mit ESD aus?
> Möglicherweise ist da das Problem.

Ja könnte ebenfalls ein Problem gewesen sein. Das werden wir als letzten 
Schritt durchführen und das Package aufmachen um eine Internal Visual 
Inspection und eine Rasterelektronenmikroskopuntersuchung durchzuführen. 
Vielleicht kann man da ein ESD-Schaden erkennen.

Danke

So der Operationsverstärker wurde getestet: quad OP484
Alle vier OPs des Packages haben einen erhöhten Bias-Strom von 2772nA 
(Spec.Wert ist 350nA), obwohl für die Schaltung nur 2 OPs verwendet 
werden. Spricht das für ein ESD-Schaden? Temperatuschaden beim Löten?

Das Problem gibt es in der Tat. Beim ICT wird zum Beispiel geprüft, ob 
der richtige IC verbaut und gut verlötet ist. Dabei werden die 
Schutzdioden durchgenmessen. Maximale Spannung und Strom können dabei 
schon mal überschritten werden.
Das Programm für den ICT kann daraufhin untersucht werden und diese 
Prüfschrittee entfernt werden. Das geht natürlich auf Kosten der 
Testtiefe, aber defekte Bauteile sind noch blöder.

Peter schrieb:
> Das Problem gibt es in der Tat. Beim ICT wird zum Beispiel
> geprüft, ob
> der richtige IC verbaut und gut verlötet ist. Dabei werden die
> Schutzdioden durchgenmessen. Maximale Spannung und Strom können dabei
> schon mal überschritten werden.
> Das Programm für den ICT kann daraufhin untersucht werden und diese
> Prüfschrittee entfernt werden. Das geht natürlich auf Kosten der
> Testtiefe, aber defekte Bauteile sind noch blöder.

Danke, das werde ich mal überprüfen. D.h. ja, dass an die Diode eine 
Spannung von über 0,6V 0,7V angelegt wird um die zu prüfen. Der OP484 
könnte da schon kritisch reagieren.