Charakterisierung und Test in einer Kleinserie

[foobar (Gast)]

Hallo!

Ich entwickle gerade eine Schaltung, die es erlaubt die 
Versorgungsspannung per Magnet ein und aus zu schalten. Zentraler 
Bestandteil ist hier entweder eine klassische bistabile Kippstufe 
mittels Flip-Flop oder ein fertiges IC, welches Sensor, 
Signalaufbereitung und Flip-Flop bereits integriert. Beide Versionen 
werden evaluiert und in entsprechendem Maße simuliert oder theoretisch 
betrachtet.

Mich würde nun interessieren, wie eine mögliche Charakterisierung und 
Tests für eine Kleinserie von ca. 50 Stück aussehen könnten. Da ein 
möglicher Ausfall des Magnetschalters das Versagen des gesamten Systems 
bedeutet, müssen natürlich entsprechende Bauteile verbaut werden.
Die Tests gegen Schaltungs- und Designfehler oder Verhalten bei kurzen 
Spannungseinbrüchen, sind allerdings ein Problem. Diese können nach 
grundlegender Simulation ja nur in der Realität durchgeführt werden. 
Müssen bzw. können hier nur Langzeittests durchgeführt werden? Wann kann 
ich sicher sein, dass z.B. die Resetschaltung zuverlässig funktioniert 
und der Schalter nicht durch Race-Conditions mal im AN-Zustand und mal 
im AUS-Zustand hängt? Das ständige Auslösen eines Events per 
Funktionsgenerator und der Betrachtung der Antwort auf einem Oszilloskop 
würde ja sehr schnell den zeitlichen Rahmen ausdehen.

Schöne Grüße

[Joe F. (easylife)]

foobar schrieb:
> Die Tests gegen Schaltungs- und Designfehler oder Verhalten bei kurzen
> Spannungseinbrüchen, sind allerdings ein Problem. Diese können nach
> grundlegender Simulation ja nur in der Realität durchgeführt werden.

Ich sehe da kein grundsätzliches Problem.
Wenn du weisst, dass in der Realität Spannungseinbrüche von max. U Volt 
mit einer Dauer von max. T Millisekunden vorkommen können, dann 
entwickelst die Schaltung so, dass sie auch beispielsweise bei 0.8 x U 
und 2.0 x T noch funktioniert.

In der Realität testest du dann, ob deine Schaltung die 0.8 x U und 2.0 
x T einhält, und dann drückst du den GO Knopf, denn es gibt keinen 
Grund, warum es bei 1.0 x U oder 1.0 x T nicht funktionieren sollte.

[Purzel H. (hacky)]

Testen muessen ... testen wollen !

Alles was nicht taugt kommt zurueck. Und falls es nicht zurueck kommt, 
wurd's vielleicht noch nicht verbaut. Durch die Ruecksendung entstehen 
einem OEM vielleicht Verluste, wenn sein Produkt dadurch verzoegert 
wird. Das Produkt kommt uebriges genau dann zurueck wenn du sowieso 
keine Zeit hast dich damit zu beschaeftigen.

Und deine Reputation hat einen Schaden.

Es geht also nicht darum, moeglichst einfach, und preiswert testen zu 
muessen. Sondern darum moeglichst ausgedehnt und gruendlich testen zu 
wollen. Der Kunde macht alles falsch was moeglich ist, und noch etwas 
mehr. Und er findet jeden Fehler im Produkt. Natuerlich war er's nicht 
und hat nichts falsch gemacht...
Bedeutet, du musst wissen was geschieht wenn der Temperaturbereich 
ueberschritten wird. Was geschieht wenn der Spannungsbereich verlassen 
wird. Nicht dass sie grad kaputt geht, sondern vorher stimmen die Werte 
nicht mehr. Wie ?