Gast
#5176589
Hallo! Ich entwickle gerade eine Schaltung, die es erlaubt die Versorgungsspannung per Magnet ein und aus zu schalten. Zentraler Bestandteil ist hier entweder eine klassische bistabile Kippstufe mittels Flip-Flop oder ein fertiges IC, welches Sensor, Signalaufbereitung und Flip-Flop bereits integriert. Beide Versionen werden evaluiert und in entsprechendem Maße simuliert oder theoretisch betrachtet. Mich würde nun interessieren, wie eine mögliche Charakterisierung und Tests für eine Kleinserie von ca. 50 Stück aussehen könnten. Da ein möglicher Ausfall des Magnetschalters das Versagen des gesamten Systems bedeutet, müssen natürlich entsprechende Bauteile verbaut werden. Die Tests gegen Schaltungs- und Designfehler oder Verhalten bei kurzen Spannungseinbrüchen, sind allerdings ein Problem. Diese können nach grundlegender Simulation ja nur in der Realität durchgeführt werden. Müssen bzw. können hier nur Langzeittests durchgeführt werden? Wann kann ich sicher sein, dass z.B. die Resetschaltung zuverlässig funktioniert und der Schalter nicht durch Race-Conditions mal im AN-Zustand und mal im AUS-Zustand hängt? Das ständige Auslösen eines Events per Funktionsgenerator und der Betrachtung der Antwort auf einem Oszilloskop würde ja sehr schnell den zeitlichen Rahmen ausdehen. Schöne Grüße