Halli Hallo, mich beschäftigt die o.g. Frage. Was für Möglichkeiten fallen Euch denn so ein? Kann zwar Nichtlinearitäten, im Speziellen INL/DNL, mit in die Fehlerrechnung aufnhemen. Finde es aber relativ hässlich und mcöhte daher prüfen, ob ich diese nicht irgendwie doch eliminieren kann. Hierfür muss ich natürlich prüfen, ob mein System die erforderlichen Ressourcen bereit stellt, ist aber ein anderes Thema. Ich möchte Quasi-stationäre Signale messen mit ohne Dynamik;-) Als Beispiel sei hier mal die Temperaraturerfassung mal genannt. Gehört habe ich bisher: -Mehrere Kanäle für das selbe Signal -Verschiedene Mesströme udn Verstärkungen -Linearisierung mit z.b. Referenzwiderständen Dank/Gruß Jo
Vergiss es. Nimm einen besseren Wandler. Falls der Sensor denn mehr hergibt. Erst sollte man sich vergewaertigen wie genau ein Wert denn sein muss. Im Sinne von was geschieht wenn die Temperatur um x% daneben ist. Welche Stabilitaet muss ein Messwert denn haben. Ich habe zB Anwendungen vo die Temperatur auf +-2 Grad stimmen sollte, aber auf 0.01 Grad stabil sein muss.
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Zwölf M. schrieb: > au Vielen Dank für Deine Antwort. Würde ich gern. Aber um den Geldbeutel von meinem Chef zu schonen und damit dieser auch weiterhin 4x im Jahr in den Urlaub fahren kann, nehme ich einfach die billigere Variante. Mir geht's im Wesentlcihen darum, ein paar Tricks und Kniffe abzustauben. Eine ratiometrische Messung kann z.B. viele Fehler eliminieren, aber die Nichtlinearitäten sind mir ein Dorn im Auge. Ich meine hier im Forum auch shon mal was darüber gelesen zu haben, finde es aber auf Anhieb nicht. Bücher wälzen und Google bringt mich da im mom auch nicht weiter. Das sind einfach praktische Erfahrungswerte.
Zwölf M. schrieb: > Vergiss es. Nimm einen besseren Wandler So isses. Lies das Datenblatt (immer zu empfehlen) und suche einen ADC, dessen Fehler geringer sind als das was du brauchst. Das wird darauf hinauslaufen, dass der Wandler ein paar (wenige) Bit mehr hat als du benötigst. Das ist bei weitem die einfachste Lösung. Georg
Der Ursprung dieser Nichtlinearitaeten ist bekannt ? Das mit grossen Abstand das Guenstigste ist, diese nichtlinearitaeten wegzuschwatzen. Als nicht relevant.
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Joe J. schrieb: > Kann zwar Nichtlinearitäten, im Speziellen INL/DNL, mit in die > Fehlerrechnung aufnhemen. Finde es aber relativ hässlich und mcöhte > daher prüfen, ob ich diese nicht irgendwie doch eliminieren kann. Eleminieren kannst du die Effekte nur, wenn du sie kennst.. Dafür müssen sie ausreichend stabil sein, so dass du sie rausmessen und eine Weile später damit deine Messdaten korrigieren kannst.
Klar gibt es da Möglichkeiten! 1) Mit einem mindestens (!) 10-fach besser aufgelöstem UND (!) genauerem DAC ermittelst du die ADC-Fehlerkurve und trägst sie in eine Korrekturtabelle (EPROM, EEPROM) ein. Nicht ganz billig: Kostet Kalibrierzeit, Speicherplatz und etwas Korrektur-Rechenzeit. 2) Mehrere ADC parallel: Wenn sie nicht aus der selben Fertigungscharge stammen, die Fehler also stochastisch verteilt sind, vermindert sich der Fehler mit 4^n ADCs auf 1/2^n. Also: 4 ADCs Fehler -> 1/2 16 ADCs Fehler -> 1/4 64 ADCs Fehler -> 1/8 100 ADCs Fehler -> 1/10 Ist auch nicht ganz umsonst - ein Impedanzwandler für die ganzen ADCs muss auch noch her. Auf der Platine wirds richtig eng. 3) Ein BESSERER ADC kostet natürlich auch was ...
Wenn die Messzeit keine Rolle spielt: mehrfach messen (und wenn der Sensor selbst zu wenig Rauschen hat dafür sorgen, dass noch Rauschen drauf ist) Das SNR steigert sich um
Theoretisch wird es also bei 100 Messuengen um den Faktor 10 genauer.
Bastler schrieb: > Das SNR steigert sich um .... Durch mehrfaches messen kann man unter Umständen das SNR verbessern. Aber INL und DNL (um die es in der Frage eigentlich geht) werden dadurch nicht verringert.
Guten Morgen und vielen Dank für die ganzen Antworten! Folgendes habe ich mir vorgestellt: -Umschalten des ADC Messbereiches sowie Variieren der Sensorströme -WIe schon erwähnt, mehrere ADCs(die zeitlich versetzt sampeln) und dann interpolieren -Linearisierung mit Referenzwiderständen und Abgleich -Korrektur mit mehreren Messpunkten beim Abgleich(kann aber nur einmalig bei der Produktion z.b. erfolgen ab Werk. Praktikabel im Feld, vll. wenn der Kunde noch selber Referenzmessungen machen kann, aber es kommt stark auf die Anwendung an.) -.... Es geht einfachc um praktische Tipps. Vielleicht fällt ja jemandem noch was ein. Grüße und einen guten Start in die Woche!
Jakob schrieb: > 1) Mit einem mindestens (!) 10-fach besser aufgelöstem UND (!) > genauerem DAC ermittelst du die ADC-Fehlerkurve und trägst sie > in eine Korrekturtabelle (EPROM, EEPROM) ein. Wie kommst Du denn auf die Anforderung 10-fach? Bringt mich aber auf eine Idee: Ginge evtl. auch mit einem Integrierer? Müsst man einfach mal eine Schaltung entwerfen. Angenommen, ich möchte relativ gut Auflösen(20-Bit) habe aber einen beschissenen INL. Das erste Verfahren - schwierig umsetzbar. Das zweite - TBC. :9)
> > Angenommen, ich möchte relativ gut Auflösen(20-Bit) habe aber einen > beschissenen INL. Das erste Verfahren - schwierig umsetzbar. > Das zweite - TBC. > > :9) Und ja, ich könnte auch einen besseren ADC nehmen. Das Ganze ist eine eher theoretische Betrachtung. Dieser Rüstungsaufwand dient eher meinen potenziellen, zukünftigen Projekten. Meine HOffnung ist, etwas von den alten Haasen lernen zu können.
Joe J. schrieb: > Aber um den Geldbeutel > von meinem Chef zu schonen und damit dieser auch weiterhin 4x im Jahr in > den Urlaub fahren kann, nehme ich einfach die billigere Variante. Mach das. Spare 50ct am Wandler und gebe dafür dann irgendwas zwischen 10 und 50 Euro pro Stück für die Kalibrierung aus. Ist eine sichere Methode daß der Chef nicht mehr lange so häufig in Urlaub fahren kann. ;)
Der Andere schrieb: > Joe J. schrieb: >> Aber um den Geldbeutel >> von meinem Chef zu schonen und damit dieser auch weiterhin 4x im Jahr in >> den Urlaub fahren kann, nehme ich einfach die billigere Variante. > > Mach das. Spare 50ct am Wandler und gebe dafür dann irgendwas zwischen > 10 und 50 Euro pro Stück für die Kalibrierung aus. > Ist eine sichere Methode daß der Chef nicht mehr lange so häufig in > Urlaub fahren kann. > > ;) Ich argumentiere mal so: Es ist nicht nur der Wandler. Je nach System kommt schnell mal eben ein Muxer dazu, dann brauche ich für die Verarbeitung einen uC und evtl. ncoh eine externe Referenz und alles zzg. Beschaltung ung Bestückung. Vll. kann ich aber auch einfach alles mit einem uC erschlagen, der einen Wandler mitbringt, der eben nicht so gut ist. uCs mit 20-Bit DeltaSigma gibt es inzwischen ja auch schon für wenig Geld. Beispiel: http://www.cypress.com/products/32-bit-arm-cortex-m3-psoc-5lp Abgesehen von den Systemkosten, spielt hier die Lagerhaltung, Bauteilemanagement, Design und Fehleranfälligkeit usw. schon eine Rolle. Sollte man alles berücksichtigen imho. Hieraus ergeben sich im Übrigen noch weitere ANforderungen: -Systemkosten möglcihst gering -Systemressourcen gering(Also ein FPGA oder so sollte ausser Betracht gelassen werden)
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Joe J. schrieb: > Sollte man alles berücksichtigen imho. Genau. Und wenn man das tut kommt man praktisch immer zum gleichen Ergebnis: dass man lieber einen ADC verwendet, der die geforderte Spec von sich aus erfüllt, als mit irgendwelchen hanebüchenen Alternativmethoden (Parallelbetrieb mehrerer ADCs, aufwändige Kalibrierungen die einem dann doch wieder davondriften ...) einen zu schlechten ADC gut genug machen zu wollen. Solchen Aufwand spendiert man vielleicht, wenn es den passenden ADC nicht gibt oder die Kosten für ihn exorbitant sind. Wenn du mal professionelle 6-1/2-stellige Multimeter entwickeln willst, solltest du durchaus all diese Alternativkonzepte durchdenken und durchrechnen. Solange das nicht der Fall ist (also fast immer), kauft man einfach den passenden ADC. Joe J. schrieb: > Meine HOffnung ist, etwas von den > alten Haasen lernen zu können. Dann hör auf das, was dir die alten Hasen sagen: Zwölf M. schrieb: > Vergiss es. Nimm einen besseren Wandler. georg schrieb: > So isses. Lies das Datenblatt (immer zu empfehlen) und suche einen ADC, > dessen Fehler geringer sind
Joe J. schrieb: > Kann zwar Nichtlinearitäten, im Speziellen INL/DNL, mit in die > Fehlerrechnung aufnhemen. Finde es aber relativ hässlich und mcöhte > daher prüfen, ob ich diese nicht irgendwie doch eliminieren kann. Über welche Auflösung reden wir? Was für Fehler erwartest du? DNL, INL, missing codes, Monotoniefehler? Eine durchhängende Transferkurve (INL) könnte man gegebenenfalls wegkalibrieren, das ist aber aufwändig. Wenn es nicht um Metrologie geht ist ein Wandler der den Anforderungen genügt die richtige Entscheidung. > Als Beispiel sei hier mal die Temperaraturerfassung mal genannt. > > Gehört habe ich bisher: > -Verschiedene Mesströme udn Verstärkungen Verschiedene Messströme nimmt man um die Eigenerwärmung des Sensors wegzurechnen (und Polaritätswechsel um Thermospannungen zu eliminieren). Die Verstärkung sollte so gewählt werden, dass der Wandelbereich optimal ausgenutzt. Jeder weitere Umschaltung würde die Messgenauigkeit verschlechtern. Wenn es nicht um Metrologie geht, dann ist einen Wandler welcher den Anforderungen genügt zu kaufen die richtige Entscheidung.
@All: Vielen Dank für die Beiträge. Wieder was gelernt.
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