Hallo Leute, ich möchte die Kapazität eines Bauteils bestimmen. Ich habe ein Hameg LCR Meter und bei diesem kann Cp und Cs messen. Ich verstehe nicht wirklich den Unterschied, und welche Einstellung mir den "richtigen" Wert ausgibt. Ein Beispiel: LEVEL 1 V BIAS 0,5V f[Hz] 50 Cp 3,39E-10 Rp 6685 Cs 7,32E-04 Rs 6672 Ich habe zB gefunden, dass ich bei kleiner Kapazität und hoher Impedanz den Cp Wert nehmen soll und umgekehrt. Wie soll ich "klein" und "hoch" interpretieren? Viele Grüße und besten Dank für Infos!
Alex K. schrieb: > Ich verstehe nicht wirklich den Unterschied, und welche Einstellung mir > den "richtigen" Wert ausgibt. beide sind richtig und gleichwertig (auch wenn sie unterschiedliche Zahlenwerte haben). Das LCR-Meter misst einfach nur ein komplexes Z. Du kannst diese Z durch eine Parallelschaltung von Rp und Cp beschreiben. Oder durch eine Serienschaltung von Rs und Cs. Beide Ersatzschaltbilder ergeben das identische Z - und mehr Information als das komplexe Z liegt bei der Messung nicht vor. Welche Größe du nimmst kann z.B. davon abhängen, was du mit der Messgröße anstellen willst. Wenn du z.B. mehrere von diesen Kondensatoren parallel schalten willst, berechnet sich die Gesamtkapazität leichter über die Cp.
Ich hab es grad man nachgerechnet: so ganz exakt passen deine Werte nicht zueinander, aber grob kommt es schon hin. bei deinem "Bauteil" handelt es sich wohl eher um einen Widerstand als einen Kondensator, oder? Da ist die Beschreibung über das Parallel-ESB "üblicher". Aber wie gesagt: beide Beschreibungen sind für die eigentliche Messgröße (das komplexe Z) im Grund gleichwertig.
Alex K. schrieb: > ich möchte die Kapazität eines Bauteils bestimmen. Was ist das für ein "Bauteil"?
Es ist ein Halbleiterteil in der Testphase, dass auf Energiespeicherung untersucht werden soll
f[Hz] 50 Cp 3,39E-10 Rp 6685 Cs 7,32E-04 Rs 6672 Welches Modell passt lässt sich ja leicht herausfinden. Einfach auf 1V aufladen und dann mit 1kOhm entladen. Mit dem Digital-Oszilloskop die Zeitkonstante der Entladung messen.
Alex K. schrieb: > Es ist ein Halbleiterteil Warum erwartest du dann, dass ein Spulen-Kondensator-Widerstands-Messgerät da irgendwelche sinnvoll interpretierbaren Daten auswirft? > ein Halbleiterteil in der Testphase, dass auf Energiespeicherung > untersucht werden soll Auf welche Art soll die Energie dort gespeichert werden? Helmut S. schrieb: > Welches Modell passt lässt sich ja leicht herausfinden. Einfach auf 1V > aufladen und dann mit 1kOhm entladen. Mit dem Digital-Oszilloskop die > Zeitkonstante der Entladung messen. Wenn man vereinfacht davon ausgeht, dass sich das Ganze tatsächlich linear verhält. Aber gerade Halbleiterbauteile sind für ihr überraschend nichtlineares Verhaltens bekannt und werden genau deshalb eingesetzt.
Lothar M. schrieb: > Helmut S. schrieb: >> Welches Modell passt lässt sich ja leicht herausfinden. Einfach auf 1V >> aufladen und dann mit 1kOhm entladen. Mit dem Digital-Oszilloskop die >> Zeitkonstante der Entladung messen. > Wenn man vereinfacht davon ausgeht, dass sich das Ganze tatsächlich > linear verhält. Aber gerade Halbleiterbauteile sind für ihr überraschend > nichtlineares Verhaltens bekannt und werden genau deshalb eingesetzt. Ein Kpazitätsunterschied um Faktor 5000 sollte auch trotz Nichtlinearität erkennbar sein. Siehe Cp und Cs. Cp 3,39E-10 Rp 6685 Cs 7,32E-04 Rs 6672
Zumindest sorgt der Realanteil von 6680 Ohm in beiden Fällen für eine unterirdische Güte.
Achim S. schrieb: > Beide Ersatzschaltbilder ergeben das identische Z Allerdings nur für die Messfrequenz!
Helmut S. schrieb: > Ein Kpazitätsunterschied um Faktor 5000 sollte auch trotz > Nichtlinearität erkennbar sein. Siehe Cp und Cs. Dann verändere mal die Messamplitude. Du wirst dich wundern, wie sich das bei nichtlinearen Elementen in der Blackbox ("Bauteil") auf das "Ergebnis" auswirkt.
Wolfgang schrieb: > Helmut S. schrieb: >> Ein Kpazitätsunterschied um Faktor 5000 sollte auch trotz >> Nichtlinearität erkennbar sein. Siehe Cp und Cs. > > Dann verändere mal die Messamplitude. Du wirst dich wundern, wie sich > das bei nichtlinearen Elementen in der Blackbox ("Bauteil") auf das > "Ergebnis" auswirkt. Selbst wenn sich das C um Faktor 2 ändert, gegen den Faktor 5000 der Kapazität der beiden Modelle ist das nichts. Deshalb mein Vorschlag mal eine simple RC-Entladung zu vermessen.
Helmut S. schrieb: > Wolfgang schrieb: >> Helmut S. schrieb: >>> Ein Kpazitätsunterschied um Faktor 5000 sollte auch trotz >>> Nichtlinearität erkennbar sein. Siehe Cp und Cs. >> >> Dann verändere mal die Messamplitude. Du wirst dich wundern, wie sich >> das bei nichtlinearen Elementen in der Blackbox ("Bauteil") auf das >> "Ergebnis" auswirkt. > > Selbst wenn sich das C um Faktor 2 ändert, gegen den Faktor 5000 der > Kapazität der beiden Modelle ist das nichts. Deshalb mein Vorschlag mal > eine simple RC-Entladung zu vermessen. Kokolores. Wenn das ein Halbleiter ist, sagen wir mal eine Diode, dann sind alle Meßwerte nur Hausnummern. Ein anderer Bias oder eine andere Meßfrequenz wird wieder ganz andere Zahlen auswerfen. Und das ist auch ganz normal und korrekt so. Wenn die Modellierung nicht paßt, dann kann man nichts vernünftiges messen. Genausogut könnte man einen Benzinkocher als Auto modellieren und dann versuchen, den Kilometerverbrauch zu messen.
Wolfgang schrieb: > > Dann verändere mal die Messamplitude. Du wirst dich wundern, wie sich > das bei nichtlinearen Elementen in der Blackbox ("Bauteil") auf das > "Ergebnis" auswirkt. Ich würde eher die Messamplitude klein halten und die Biasspannung variieren. Daraus kann man eher das Verhalten des Bauteils ableiten.
Hallo, danke für eure zahlreichen Antworten und Gedankenanstöße! Leider blicke ich überhaupt nicht durch. Unter dem Link findet ihr eine Messreihe, Vielleicht hat ja jemand Lust da einen Blick drauf zu werfen und mir vielleicht zu sagen, was da überhaupt vor sich geht. https://docs.google.com/spreadsheets/d/1fRkc-TGZzzejYlbpuDMrvDFGGVybF_qStGj-WNkM8zw/edit?usp=sharing Vielen Dank
Alex K. schrieb: > danke für eure zahlreichen Antworten und Gedankenanstöße! Da waren übrigens im Verlauf des Threads noch ein paar Fragen aufgekommen: was ist das Ergebnis der "Entladungsmessung"? Und mich würde nach wie vor interessieren, auf welche Art und in welcher Menge dieser unbekannte Halbleiter Energie speichern können soll.
Lothar M. schrieb: > Alex K. schrieb: >> danke für eure zahlreichen Antworten und Gedankenanstöße! > Da waren übrigens im Verlauf des Threads noch ein paar Fragen > aufgekommen: was ist das Ergebnis der "Entladungsmessung"? Die Messung über das Oszi gibt mir ein C von knapp 6 nF > Und mich würde nach wie vor interessieren, auf welche Art und in welcher > Menge dieser unbekannte Halbleiter Energie speichern können soll. Dazu kann ich leider im Moment nichts schreiben.
Lothar M. schrieb: > Alex K. schrieb: >> Es ist ein Halbleiterteil > Warum erwartest du dann, dass ein > Spulen-Kondensator-Widerstands-Messgerät da irgendwelche sinnvoll > interpretierbaren Daten auswirft? Weil mir aktuell nur dieses zur Verfügung steht und mir gesagt wurde, es eignet sich um Kapazitäten zu bestimmen.
Alex K. schrieb: > Die Messung über das Oszi gibt mir ein C von knapp 6 nF Dann hast du jetzt also 3 (oder mehr) verschiedene Kapazitätsmessverfahren und 3 (oder mehr) unterschiedliche Ergebnisse. Fazit: ganz offensichtlich lässt sich dein Bauteil nicht als Kondensator darstellen und hat deswegen auch keine bezifferbare Kapazität... > Weil mir aktuell nur dieses zur Verfügung steht und mir gesagt wurde, es > eignet sich um Kapazitäten zu bestimmen. Dann sag dem, der das sagt, dass es für diese spezielle Aufgabe hier offenbar nicht geeignet ist.
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