Atmel SAM D5X MCU - Möglichkeit des automatischen Hardwaretest bzw. boundary scan alias JTAG

[TFox (Gast)]

Hallo Zusammen,
ich habe schon versucht die Antwort zu finden, leider ist mir dies nicht 
gelungen bzw. das Problem sitzt vor der Tastatur.

Jedenfalls, ich benutze in meiner Schaltung einen Atmel SAM D5x/E5x und 
bin auf der Suche nach einer Möglichkeit, meine Schaltung automatisiert 
auf Bestückungsfehler zu testen. Dies würde ich gerne mit einer Art 
boundary scan durchführen.
Jedoch verfügt die SAM D5x Familie wohl nicht über die JTAG Option, 
jedoch über die Möglichkeit des SWD (Serial wird debugging) bzw. ARM 
Debugging. Soweit ich es aber bis jetzt aus der Dokumentation 
herausgelesen habe, ist es nicht möglich, einzelne Pins gezielt für 
Testzwecke zu manipulieren? Oder doch?
Kennt sich jemand hiermit aus? Bzw. weiß vielleicht wonach ich 
eigentlich in der Doku suchen muss?

Lieben Gruß und Danke im Voraus.

[A. B. (Gast)]

(Fast) Alles, was im Adressraum der CPU sichtbar ist, kann man auch über 
das Debug-Interface erreichen (sofern das NVMCTRL security bit noch 
nicht gesetzt ist).

Folglich kann man zumindest alle als GPIO verwendbare Pins nach Belieben 
via Debug-Adapter konfigurieren. Andere Pins aber halt i. d. R. nicht. 
Insbesondere reine Analog-Pins nicht (das ginge bei JTAG boundary scan 
aber auch nicht). Und die für SWD benutzen sind dabei natürlich auch 
tabu.