Forum: HF, Funk und Felder PASS/FAIL-Test beim R&S ZVL invertieren


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von Bernd (Gast)


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Hallo,

vielleicht hat jemand von euch eine Idee, wie der PASS/FAIL-Test beim 
R&S ZVL invertiert werden kann.

Das Problem: Mit dem R&S ZVL soll ein Bauteil geprüft werden und 
PASS/FAIL angezeigt werden. Gut ist das Bauteil, wenn ein ausgeprägter 
Dip zu sehen ist (S11 <-20dB). Die Frequenz an welcher der Dip auftaucht 
ist leider nicht konstant, es reicht aber wenn irgendwo im Sichtbereich 
die -20dB unterschritten werden.

Leider bekomme ich die Prüfung mit dem eingebauten Limit check oder 
Ripple test nur „invertiert“ zum Laufen, d.h. FAIL wird angezeigt wenn 
die Limitline durchbrochen ist bzw. der Ripple zu groß ist.
Die beiden Screenshots zeigen das Problem, wird bei der Limitline 
"upper" gewählt ist der Bereich des Dips zwar auf pass, fail aber wegen 
dem Bereich über der Linie. Bei "lower" ist das genau umgedreht, es ist 
fail wegen dem Bereich des Dips.
Beim Ripple test genau das selbe, der Test steht auf fail weil der 
Ripple zu groß ist.

Das Handbuch zum ZVL ist unter [1] zu finden, hilft aber bei meinem 
Problem nicht wirklich weiter.
Gibt es eine Möglichkeit zur Invertiertung des PASS/FAIL-Tests?

Viele Grüße
Bernd

[1] 
https://cdn.rohde-schwarz.com/pws/dl_downloads/dl_common_library/dl_manuals/gb_1/z/zvl_1/ZVL_Operating_en_09.pdf

von Chris K. (kathe)


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Versuch mal Segmented limit lines.
Rules for Limit Line Definition siehe Page 207
Aber ich frage mich was du wirklich messen willst?
>Gut ist das Bauteil, wenn ein ausgeprägter
>Dip zu sehen ist (S11 <-20dB). Die Frequenz an welcher der Dip auftaucht
>ist leider nicht konstant, es reicht aber wenn irgendwo im Sichtbereich
>die -20dB unterschritten werden.

Irgendein Dip im Sichtbereich von 890 - 950 Mhz ist schon ein sehr 
großer Bereich im HF Bereich. Solch ein "Zufallsfilter" macht in der HF 
Technik doch keinen Sinn.
Was soll dein Filter wirklich machen?


Gruß Chris

von Bernd (Gast)


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Chris K. schrieb:
> Versuch mal Segmented limit lines.
> Rules for Limit Line Definition siehe Page 207
Im Screenshot habe ich das mal ausprobiert. Vier Bauteile vermessen und 
damit die Limitlines aus den Maximal- und Minimalwerten + Offset 
erzeugt. Bauteil #5 reißt diese natürlich. Jetzt könnte man n Bauteile 
vermessen und daraus die Limitlines generieren. Das Problem ist dabei, 
dass diese Limitlines ein "Schlauch" bilden der so breit ist dass 
Bauteile ohne Dip als gut erkannt werden.

Chris K. schrieb:
> Aber ich frage mich was du wirklich messen willst?
Den Dip :)
Chris K. schrieb:
> Irgendein Dip im Sichtbereich von 890 - 950 Mhz ist schon ein sehr
> großer Bereich im HF Bereich. Solch ein "Zufallsfilter" macht in der HF
> Technik doch keinen Sinn.
> Was soll dein Filter wirklich machen?
Die Prüfung ist ein Zwischenschritt vor dem Verbauen des Bauteils um 
Fertigungsprobleme wie eine vergessene Lötstelle oder eine anderweitig 
unterbrochene Verbindung zu erkennen. Durch Fertigungstoleranzen 
verschiebt sich die Frequenz des Dips, das ist aber kein Problem da ein 
Abgleich im verbauten Zustand erfolgt. Fehlt der Dip ist was faul und es 
kann ggf. noch nachgearbeitet werden. Wenn das Teil verbaut ist kommt 
man nachträglich nicht mehr dran, da hilft nur noch der 
Schrottcontainer.

von Chris K. (kathe)


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Bernd schrieb:
> Jetzt könnte man n Bauteile
> vermessen und daraus die Limitlines generieren. Das Problem ist dabei,
> dass diese Limitlines ein "Schlauch" bilden der so breit ist dass
> Bauteile ohne Dip als gut erkannt werden.

>Die Prüfung ist ein Zwischenschritt vor dem Verbauen des Bauteils um
>Fertigungsprobleme wie eine vergessene Lötstelle oder eine anderweitig
>unterbrochene Verbindung zu erkennen. Durch Fertigungstoleranzen
>verschiebt sich die Frequenz des Dips, das ist aber kein Problem da ein
>Abgleich im verbauten Zustand erfolgt.

Habe ich einen Denkfehler oder versuchts du so viel wie Möglich vorher 
als gut zu selektieren um im nächsten Schritt einen aufwendigen Abgleich 
noch zuzulassen.

Wieso nicht das Bauteil besser selektieren damit später der teuere 
Abgleich nicht mehr stattfinden muss?
Jetzt musst du nur noch die Kriterien /Limits beim Messen finden damit 
im späteren Prozess des Abgleichs möglichst wenig unternommen werden 
muss, dafür sollte aber das Löten und der Prozess eher das geringere 
Problem sein außer bei Handlötung.

Da aber das zu vermessende Bauteil noch immer unbekannt ist und die 
Prozesschritte unbekannt sind ist es fast unmöglich weitere Ratschläge 
zu geben.

PS: Scheint wohl dsa der Dip um 865-870 Mhz sein soll. Also irgendein 
Modul für 866/868 MHz.
Das ist ja noch halbwegs DC.
Tritt ein Schritt zurück und betrachte mal die Prozesskette vor deinem 
und nach deinem Punkt .....

: Bearbeitet durch User
von Chris K. (kathe)


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Willst du 866 bis 868 herausfiltern?
Eine untere Limitline für den herauszufilternden Bereich macht kein Sinn 
denn
 es gilt ein Signal muss um mindestens so und so viel dB gefiltert 
werden.
Was interessiert es mich wenn der Filter hier anstatt 30 dB nun 50 dB 
Filtert, nichts denn dieses Bauteil ist besser wie viele andere. ....

Wo liegen die Eckpunkte für den Filter und um wieviel kann abgeglichen 
werden?
Wo muss das Passband sein und welcher Pegel muss später vorhanden sein?
Um wieviel dB muss das Signal in einem gewissen Frequenzbereich 
gefiltert werden?
Wie groß muss der Dip mindestens sein?

Wenn dies klarer wird solltest du wohl andere Limtlines finden können.
Ansonsten kann ich dir ja mal so etwas Malen worauf ich aktuell keine 
Lust habe.

von Bernd (Gast)


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Leider habe ich nun auch vom R&S Support erfahren dass der 
PASS/FAIL-Test nicht invertiert werden kann.
Die Limit Lines können nur als "upper" oder "lower" definiert werden und 
der Trace muss entweder darunter oder darüber liegen. Schade.

Vielen Dank noch für eure Bemühungen das Problem zu umschiffen, 
allerdings ist die Limitline alles was ich brauche um 
gut/schlecht-Trennung durchzuführen.

Chris K. schrieb:
> Habe ich einen Denkfehler oder versuchts du so viel wie Möglich vorher
> als gut zu selektieren um im nächsten Schritt einen aufwendigen Abgleich
> noch zuzulassen.
> Wieso nicht das Bauteil besser selektieren damit später der teuere
> Abgleich nicht mehr stattfinden muss?
Kein Denkfehler, wenn der Dip vorhanden ist ist das Bauteil gut. Eine 
weitere Selektion wird gar nicht gebraucht, wenn das Bauteil prinzipiell 
OK ist funktioniert auch der Rest damit. Der Abgleich am Ende ist 
relativ einfach, das übernimmt ein µC mit einstellbaren Kapazitäten 
(DTC). Da wird das innerhalb weniger Sekunden durchgenudelt und kostet 
nix (außer die DTCs). Nur ist dieser Abgleich eben nicht beim 
Herstellprozess vom Bauteil möglich und sinnvoll.

von Walter Tarpan (Gast) (Gast)


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Lässt sich der Vierpol beim Test evtl. anders beschalten, dass aus dem 
Dip ein Peak wird?

von Marcel B. (mabu1)


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Du hattest explizit erwähnt, dass die Pass Fail Maske auf einer Trace 
sitzt. Kannst du vielleicht einfach "-S21" oder |S21| oder so nehmen und 
bei deinen Grenzwerten das Vorzeichen ändern?

Nur so ein spontaner Gedanke ;) Habe noch keinen Maskentest für sowas 
erstellt bisher, daher kenne ich mich mit den Details beim ZVL nicht 
aus.

: Bearbeitet durch User
von Bernd (Gast)


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Vielleicht hilft es ja, wenn Du den Span auf 5 MHz reduzierst.
Oder Du holst Dir die Messdaten in einen PC und machst die Bewertung mit 
einer eigenen Software.

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