Hallo! Ein AFM (atomic force microscope) schwebt bei mir auch schon länger im Kopf herum. Nun bin ich auf eine Idee gekommen, das Ganze einigermaßen simpel umzusetzen und zwar folgendermaßen: Ein Linienlaser leuchtet auf einen Cantileverarm, welcher mit seiner dünnen Spitze über das zu untersuchende Objekt im Kontaktmodus fährt. Das Objekt wird über zwei DVD-Schlitten in x- und y-Richtung schrittweise verstellt. Auf dem Cantileverarm ist ein kleiner Oberflächenspiegel fixiert. Über diesen wird der Laserstrahl auf einen Liniensensor (TSL1401) gelenkt. Dieser verfügt über 128 Pixel auf einer Länge von rund 7.5 mm. Macht also eine Pixelgröße von ca. 60 µm. Mit einem Arduino lese ich den Sensor aus und bestimme immer das Pixel mit der maximalen Helligkeit. Dies ist dann sozusagen mein z-Wert der Probe. Der TSL1401-Liniensensor kam schon bei meinem Arduino-Spektroskop zum Einsatz. Auf ebay.com (https://www.ebay.com/itm/276099046258) bin ich auf das günstigste Angebot gestoßen mit knapp 17 Euro inkl. Verand und VAT. Die xy-Verstellung mittels DVD-Schlitten habe ich auch schon umgesetzt und zwar bei meinem Lasergravierer. Diesen Aufbau werde ich nun für das AFM fast komplett übernehmen. Ich denke, dies wird ein einigermaßen krönendes Abschlussprojekt, denn ehrlich gesagt bin ich zwar nicht am Ende des Internets angekommen, aber am Ende spannender Physikprojekte für Fortgeschrittene ;-)
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Das klingt sehr spannend. Wie schätzt du denn die Auflösung der DVD-Schlitten-Positionierung ein? Ich kenne das bei AFMs nur zur groben Positionierung des Bildausschnittes, während das ganze für die eigentliche Messung dann per Piezo-Aktuatoren verschoben wird. VG
Christoph E. schrieb: > Ich denke, dies wird ein einigermaßen krönendes Abschlussprojekt, denn > ehrlich gesagt bin ich zwar nicht am Ende des Internets angekommen, aber > am Ende spannender Physikprojekte für Fortgeschrittene ;-) Einen Ruhestand kann ich mir bei Dir gar nicht vorstellen ...
Christoph E. schrieb: > Ein AFM (atomic force microscope) schwebt bei mir auch schon länger im > Kopf herum. Nun bin ich auf eine Idee gekommen, das Ganze einigermaßen > simpel umzusetzen Es gab da mal ein Projekt "AFM für Schüler" in Zusammenarbeit mit der PTB. Ein Problem dabei war m.E. das es kaum Proben mit interessanten Strukturen im Nanometerbereich gibt.
Der obige Aufbau ist für eine auch nur ansatzweise atomare Auflösung völlig ungeeignet, da er eher vibrationsverstärkend statt vibrationsdämpfend wirkt. Und die mechanische Auflösung eines DVD-Schlittens reicht auch bei weitem nicht aus. Für einen ordentlichen Aufbau verwendet man eher ein Dreibein, welches über die Probe gestülpt wird, oder einen zylindrischen Aufbau. Exemplarisch hier die Konstruktion eines generischen Rastersondenmikroskops: https://scientaomicron.com/en/Instruments/SPMs/TRIBUS-SPM Für die Feinpositionierung und insbesondere Abstandsregelung der Spitze setzt man Piezoantriebe ein. Dies kann z.B. auch ein einzelnen Piezoröhrchen sein, dessen Innenseite durchgängig und dessen Außenseite segmentiert metallbeschichtet ist. Entgegen Deinem Aufbau kratzt man eben nicht mit der Spitze über die Probenoberfläche und zeichnet dabei die Auslenkung des Lichtzeigers auf, sondern das ganze ist eine Regelschleife, bei der die Z-Komponente des Piezoantriebs so angesteuert wird, dass die Auslenkung des Hebels (Cantilever) bzw. bei einem Rastertunnelmikroskop der Tunnelstrom auf einem konstanten, sehr geringen Wert gehalten wird. Beim AFM gibt es auch die Möglichkeit, den Cantilever per Piezo oder elektrostatischem Feld zum Schwingen anzuregen und die Verstimmung der Resonanzfrequenz auszuwerten.
Schon allein die Präparation der Tastspitze von wenigen Atomen Dicke dürfte für den Bastler ein Hauptproblem sein. https://www.specs-group.com/nc/specs/products/detail/kolibrisensor/
Hallo! Vielen Dank für eure Kommentare. Ich weiß schon, wie ein echtes AFM funktioniert. Meines soll ja nur dessen Arbeitsweise ähneln und auch keineswegs atomar auflösen. Im Micrometer-Bereich wäre ich schon mehr als zufrieden. Die Pixelgröße des TSL1401 beträgt rund 60 Micrometer. Die Steppermotoren der DVD-Laufwerke werde ich im Microschritt ansteuern und als Objekt stelle ich mir z.b. eine Münze vor. Mein AFM soll also eher zur Veranschaulichung der Messmethode dienen... Heute besorge ich einmal zwei alte DVD-Laufwerke.
Christoph E. schrieb: > Mein AFM soll also eher zur Veranschaulichung der Messmethode dienen... Das tut es doch überhaupt nicht, sondern führt die Schüler o.ä. völlig in die Irre. Eine mit Mühe darstellbare, makroskopische Oberflächenrauigkeit hat doch wenig mit der Oberflächenphysik auf atomarer Skala zu tun. Übrigens gibt es tatsächlich Messgeräte, die Deinem Aufbau ähneln und gezielt solche Rauigkeiten in verschiedenen Richtungen und mit unterschiedlichen Spitzengeometrien bestimmten. Das ganze aber als AFM zu bezeichnen wäre nicht korrekt. Genauso könnte man ein Silversterfeuerwerk als interstellare Raumfahrt bezeichnen. Schließlich schießt man ja Raketen in den Himmel, und anschließend leuchten ein paar Sterne auf.
Peter D. schrieb: > Schon allein die Präparation der Tastspitze von wenigen Atomen Dicke > dürfte für den Bastler ein Hauptproblem sein. Wenn man sehr, sehr glatte Oberflächen (z.B. Siliziumwafer) untersuchen will, reicht im Allgemeinen ein abgekniffener Draht o.ä. aus, um mittels STM (nicht AFM) eine atomare Auflösung zu erzielen, denn irgendein Atom wird sich immer an der Spitze befinden. Wenn die Oberfläche aber uneben ist, gibt es viele Geisterbilder, da die Spitze mal an der einen und mal an der anderen Stelle aufsetzt. Für Untersuchungen im Ultrahochvakuum bieten sich dünne Wolframdrähte an, für Untersuchungen an der Luft Platindraht. Luft besitzt aber den generellen Nachteil, dass schon der leiseste Schall und Luftzug direkt auf den Aufbau einwirkt.
Deutschland ist wahrlich das Land der Nörgler... Es gibt sogar ein "AFM" aus Lego und ich finde das extrem toll, auf diese Weise der Jugend/den Kindern Technik/Naturwissenschaft/Physik näher zu bringen. @Andreas: Vermutlich würdest du es sogar als besser erachten, über diese Dinge wie 99.9% meiner Lehrerkollegen wenn überhaupt nur zu schwafeln, anstatt experimentell etwas umzusetzen... Link: https://robinhsieh.com/lego-atomic-force-microscopy/ Übrigens, ein STM habe ich bereits umgesetzt, sogar mit Arduino: https://stoppi-homemade-physics.de/rastertunnelmikroskop/
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Christoph E. schrieb: > @Andreas: Vermutlich würdest du es sogar als besser erachten, über diese > Dinge wie 99.9% meiner Lehrerkollegen wenn überhaupt nur zu schwafeln, > anstatt experimentell etwas umzusetzen... Es ist ein großer Unterschied, ob man behauptet, dass es sich um ein AFM handele, oder ob es sich um ein makroskopisches Modell zur Veranschaulichung des Funktionsprinzips handelt. > Link: https://robinhsieh.com/lego-atomic-force-microscopy/ Das ist kein AFM, aber ein anschauliches Modell, um das Prinzip zu zeigen. > Übrigens, ein STM habe ich bereits umgesetzt, sogar mit Arduino: > https://stoppi-homemade-physics.de/rastertunnelmikroskop/ Das sieht doch schon ganz anders aus als Dein obiges "AFM", d.h. mit stabilem mechanischen Aufbau und durchaus korrekter Umsetzung mittels Piezos und Abstandregelung. Ich habe mich sowohl in meiner Diplomarbeit mit der Konstruktion eines STM befasst als auch eines selbst konstruiert. Leider liegt letzteres nur halbfertig herum.
Peter D. schrieb: > Schon allein die Präparation der Tastspitze von wenigen Atomen Dicke > dürfte für den Bastler ein Hauptproblem sein. Cantilever "präperiert" man nicht, sonderen kauft sie fertig. Zumal das ein Verschleissteil ist.
Christoph E. schrieb: > Meines soll ja nur dessen Arbeitsweise ähneln und auch > keineswegs atomar auflösen. Im Micrometer-Bereich wäre ich schon mehr > als zufrieden. Prizipbedingt funktioniert ein AFM nur im Sub-µm-Betrieb. Eine Münze wäre da viel zu grob. Dafür gibt es andere Messgeräte.
Andreas S. schrieb: > Wenn man sehr, sehr glatte Oberflächen (z.B. Siliziumwafer) untersuchen > will, Siliziumoberflächen kann man nur im UHV untersuchen, da sich auf dem Silizium praktisch sofort ein Oxydhaut bildet. Man kann dann nur noch auf der SiO2-Schicht rummessen.
Andreas S. schrieb: > Es ist ein großer Unterschied, ob man behauptet, dass es sich um > ein AFM handele, oder ob es sich um ein makroskopisches Modell zur > Veranschaulichung des Funktionsprinzips handelt. Ja, so ein Modell kann recht hübsch sein, um die Funktion zu erklären. Irgendetwas messen kann man mit einem solchen Modell aber nicht. Ich denke, für den TE wäre eher ein Rauheitsmessgerät passend.
Harald W. schrieb: > Andreas S. schrieb: > >> Wenn man sehr, sehr glatte Oberflächen (z.B. Siliziumwafer) untersuchen >> will, > > Siliziumoberflächen kann man nur im UHV untersuchen, da sich auf dem > Silizium praktisch sofort ein Oxydhaut bildet. Man kann dann nur noch > auf der SiO2-Schicht rummessen. Das stimmt durchaus. Und wenn Du nicht absichtlich sinnentstellend zitieren würdest, dann hättest Du auch meinen Hinweis auf Wolframspitzen für UHV-Zwecke erwähnt. Ich habe an keiner Stelle behauptet, dass es möglich wäre, Silizium mit z.B. Platinspitzen an Luft zu untersuchen. In meiner Diplomarbeit habe ich - neben dem zeitaufwändigen Teil mit der Entwicklung des STM - das Wachstum von Eisensiliziden auf Silizium untersucht. Natürlich nicht an Luft, sondern im UHV mit gelegentlicher Zugabe von Eisenpentacarbonyl.
Harald W. schrieb: > Ich denke, für den TE wäre eher ein Rauheitsmessgerät passend. Genau das baut er doch gerade, allerdings nur für eine Vorzugsrichtung. ;-)
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Andreas S. schrieb: >> Ich denke, für den TE wäre eher ein Rauheitsmessgerät passend. > > Genau das baut er doch gerade, allerdings nur für eine Vorzugsrichtung. > ;-) Bei uns wurde der Begriff "Rastersondenmikroskopie" für ganz unterschiedliche Geräte zur Untersuchung von Oberflächenstruk- turen benutzt. Interessannt fand ich da z.B. ein Messgerät, welches mit Hilfe eines Cantilevers durch den ein Lichtstrahl geleitet wurde, Auflösungen unterhalb der halben Lichtwellen- länge erreicht wurde (SNOM). Mein Hinweis bezüglich der Si- Oberflächen war eigentlich nicht an Dich gerichtet, sondern eher an den TE, um anzudeuten, das manche Messungen doch deutlich komplizierter sind, als er es sich vorstellt. Meine Lehre habe ich übrigens in einem Betrieb gemacht, welcher Rauheitsmessgeräte herstellte. Mit solchen Geräten konnte man man bereits vor dem 2.Weltkrieg horizontale Auflösungen unter- halb eines Mikrometers erzielen.
Harald W. schrieb: > Interessannt fand ich da z.B. ein Messgerät, > welches mit Hilfe eines Cantilevers durch den ein Lichtstrahl > geleitet wurde, Auflösungen unterhalb der halben Lichtwellen- > länge erreicht wurde (SNOM). Und jetzt ratet mal, welcher deutsche VoIP-Telefonhersteller früher ganz andere Produkte herstellte...
Ein brauchbares DVD-Laufwerk habe ich bereits besorgt und zerlegt. Angeschlossen an den Arduino + Schrittmotormodul erhalte ich für 1000 Schritte einen Weg von 26 mm. Macht also 26 µm/step; damit wäre ich eigentlich zufrieden... Einen 5mW-Linienlaser hatte ich auch noch in meiner Bastelkiste. Jetzt muss ich noch ein möglichst gleiches DVD-Laufwerk besorgen, dann kann ich mich um den mechanischen Aufbau des xy-Tisches kümmern. Was ich als Spitze verwenden werde, bin ich noch nicht sicher. Ich werde es einmal mit einem sehr dünnen aber dennoch steifen, kurzen Drahtstück probieren. Nickel oder noch besser Wolfram würden sich vom Elastizitätsmodul her wohl gut eignen. Müsste ich noch besorgen... Und an die vielen Klugscheißer hier die meinen, meinen Aufbau kann ich nicht AFM nennen: Warum habe ich wohl bloß im Titel das Attribut "für Arme" gebraucht? Nachtrag: Nickel-Chromdraht hätte ich sogar noch da vom Versuch zur thermoelektrischen Spannungsreihe/Seebeckeffekt
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Christoph E. schrieb: > Ein brauchbares DVD-Laufwerk habe ich bereits besorgt und zerlegt. > Angeschlossen an den Arduino + Schrittmotormodul erhalte ich für 1000 > Schritte einen Weg von 26 mm. Macht also 26 µm/step; damit wäre ich > eigentlich zufrieden... Ja, deutlich gröber als wenn Du den Tonabnehmer aus einem gewöhnlichen Plattenspieler nehmen würdest. > Und an die vielen Klugscheißer hier die meinen, meinen Aufbau kann ich > nicht AFM nennen: Warum habe ich wohl bloß im Titel das Attribut "für > Arme" gebraucht? Wenn ich mit dem Fingernagel eine Oberfläche abtaste nenne ich das auch wenn ich arm bin nicht "AFM".
Langsam geht es voran. Ich habe jetzt einen anderen Weg bei der Tastspitze eingeschlagen und werde es mit einer Zirkelspitze versuchen. Diese habe ich an einem dünnen Alublech fixiert und einen Oberflächenspiegel darauf montiert. Mal schauen, wie sich dieser Aufbau dann bewährt. Den Laser und den Liniensensor werde ich mit einer dritten Hand positionieren, da bin ich dann einfach viel flexibler als bei einem festen Stativaufbau. Die Amazonbestellung ist bereits unterwegs zu mir... Heute müsste auch das zweite DVD-Laufwerk bei mir ankommen. Das werde ich dann gleich für den xy-Tisch zerlegen.
Der xy-Tisch ist soweit fertig. Leider habe ich mir beim Bohren einen DVD-Schlitten ruiniert. Den musste ich danach kleben und hoffe, dass er jetzt noch hält. Für die Halterung des Cantilevers verwende ich einen Viereckstahl und eine M8 Gewindestange. Dann kann ich die Höhe des Cantilevers auch schön einstellen... Jetzt warte ich eigentlich nur noch auf den TSL1401 Liniensensor aus China. Bis dieser ankommt, wird es aber noch dauern. Inzwischen werde ich den mechanischen Aufbau komplettieren.
So, ein erster Testlauf noch ohne Liniensensor ist vollbracht und es funktioniert eigentlich alles so wie es soll. Im Moment lasse ich mir noch Zufallsgrauwerte am Display anzeigen...
Mittlerweile ist der Linearsensor aus China angekommen, ich bringe ihn aber nicht wirklich zum Laufen. Ich habe aber auch so meine Bedenken, dass es sich gar nicht um einen TSL1401 handeln könnte. Dieser sollte nämlich 128 Pixel haben. In der Vergrößerung sieht man rechts vom Sensor aber 64 pins. Von daher könnte es sich auch um einen TSL201R mit 64 Pixel handeln. Aufgrund dieser Vermutung habe ich ihn dann ein wenig anders angesteuert und das Resultat auf processing (Quelle: https://arduining.com/2014/03/26/using-the-linear-sensor-array-tsl201r-with-arduino/) mir angeschaut. Das hat einmal so halbwegs funktioniert und etwa auf Abdunkelung des Sensors reagiert, mittlerweile scheint der Sensor aber tot zu sein. Vom analogen Ausgang kommt fast kein Signal mehr... Hat jemand von euch bereits Erfahrungen mit dem TSL1401 bzw. mit der Ansteuerung des Chips? Ich hatte ja diesen bereits in meinem Arduino-Spektroskop im Einsatz und eigentlich keine Probleme gehabt. Das war aber nicht der DIP-8 Chip sondern ein Modul mit Objektiv. Ein solches habe ich mir jetzt zur Sicherheit auch noch auf aliexpress bestellt: https://de.aliexpress.com/item/4001057790766.html. Noch einmal 50 Euro... Gut, der DIP-8 TSL1401 Chip, welcher nun zu spinnen scheint, war mit 13 Euro verdächtig günstig.
So, die TSL1401 Chips und das Kameramodul sind angekommen. Und beide funktionieren wie sie sollen. Was mich aber doch erstaunt sind die Preisunterschiede. Für zwei Chips habe ich inkl. Versand rund 15 Euro bezahlt, für das Kameramodul, welches eigentlich auch nur aus dem Chip, etwas Hühnerfutter und einer Linse besteht, immerhin 50 Euro. Letzteres hätte ich mir angesichts der funktionierenden Chips aber ersparen können. Der Linienlaser übersteuert aber den Chip. Daher werde ich einen Neutraldichtefilter der Stärke 1.0 (= Abschwächung auf 10^-1 = 10%) von Kodak verwenden. Den hatte ich noch da vom Photonen-Experiment. Damit sollte dann der Peak im Spektrum nicht nur niedriger, sondern hoffentlich auch schmäler sein. Jetzt habe ich eigentlich alle Teile für das AFM beisammen und kann mich an den finalen Aufbau machen. Wenn dieser fertig ist, melde ich mich wieder...
Es gibt im Thingiverse CNC Lasergravierer auf DVD Basis: https://www.thingiverse.com/thing:3521286
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Danke, Rüdiger. Einen Lasergravierer auf Basis von zwei DVD-Laufwerken habe ich schon umgesetzt. Problem bei diesem Aufbau ist, dass sich der Tisch nur in einer Richtung bewegt und der Laser auch seine Position ändert. Bei meinem AFM brauche ich aber einen XY-Tisch, denn der Cantilever muss am selben Ort bleiben, da er ja vom stationären Laser bestrahlt wird... Habe den Liniensensor mit 2 Stück 1.0 Neutraldichtefilter abgedunkelt. Jetzt erhalte ich einen schön schmalen Peak im "Spektrum".
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Es ist ja seit dem letzten update "etwas" Zeit vergangen, da ich mich seitdem um andere Physikprojekte gekümmert habe. Nun widmete ich mich wieder dem Aufbau meines atomic force microscopes. Zuerst veränderte ich die Anzeige des Intensitätsverlaufs, da ich ja hierfür nur eine Linie und kein färbiges Spektrum benötigte. Dieser wird mir dann nach dem Einschalten des AFMs gleich angezeigt. So kann ich den Liniensensor gut positionieren, sodass sich der Peak zu Beginn in etwa in der Sensormitte befindet. Der mechanische Aufbau ging relativ zügig vonstatten. Wie gewohnt schaute währenddessen meine Küche wie eine Werkstatt aus. Mit Spannung erwartete ich den ersten Testlauf. Als Testobjekt musste eine 2 Euro Münze herhalten. Laut ChatGPD besitzt deren Profil Höhenunterschiede zwischen 80 und 200 µm, also nicht gerade viel. Die gute Nachricht: Ich erhielt ein Bild. Die weniger guten Nachrichten: Die Zirkelspitze blieb an den Profilkanten hängen und neigte sich schräg und der Kontrast des Bildes war sehr gering. Um Abhilfe zu schaffen bastelte ich eine seitliche Führung der Zirkelspitze. Jetzt sollte sie sich nur noch nach oben und unten bewegen können. Und ich vergrößerte den Abstand Cantileverarm-Liniensensor, damit sich der Laserstrich über eine größere Strecke nach oben und unten bewegt. Dazu musste ich aber auch meinen bisher eingesetzten 5 mW Laser gegen einen mit 100 W wechseln, da sonst der Intensitätspeak zu gering ausgefallen wäre. Jetzt erhalte ich ein kontrastreicheres Bild. Aber es ist noch einiges zu tun, denn drücke ich die Zirkelspitze zu fest auf die Münze, haben meine DVD-Laufwerke Schwierigkeiten, sich ohne Störungen zu bewegen. Die Zirkelspitze darf aber auch nicht zu locker auf die Münze drücken, denn dadurch könnte sie etwa bei "tiefen" Mulden den Kontakt verlieren. Hier ist noch einiges an Feinabstimmung zu erledigen. Mit dem Zwischenergebnis bin ich aber dennoch zufrieden, denn es zeigt bereits deutlich Muster auf meinem Bildschirm. Ich werde mir auf der Münze aber eine aussagekräftigere Stelle suchen mit schärferen Profil... Wenn es Neuigkeiten gibt, geht es hier weiter. Und keine Angst, dieses Mal dauert es keine 11 Monate ;-) P.s.: ...und ich lasse mich wie immer nicht von Nörglern und Besserwissern aufhalten, die zwar unbedingt ihren Senf dazu geben müssen aber selbst nichts umsetzen. Denn mein Motto lautet frei nach Erich Kästner "Es gibt nichts gutes, außer man tut es"
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> P.s.: ...und ich lasse mich wie immer nicht von Nörglern und > Besserwissern aufhalten, die zwar unbedingt ihren Senf dazu geben müssen > aber selbst nichts umsetzen. Denn mein Motto lautet frei nach Erich > Kästner "Es gibt nichts gutes, außer man tut es" Erich Kästner ist ja auch als genialer Ingenieur, Techniker und Physiker bekannt... > Ich erhielt ein Bild. Die weniger guten Nachrichten: Die > Zirkelspitze blieb an den Profilkanten hängen und neigte sich schräg und > der Kontrast des Bildes war sehr gering. Sorry dich desillusionieren zu müßen, aber das da ist kein Bild sondern verrauschte Scheiße. Da erkennt man weder Münze noch deren Motiv. Vielleicht übt man besser mit dem Silkprint oder Kupfer auflagen eines PCB-Lineals wie dieses: https://www.ramser-elektro.at/wp-content/uploads/2019/01/Platinen-Lineal-PCB-Ruler-7-Ramser-Elektrotechnik-Webshop.jpg
Christoph E. schrieb: > Als Testobjekt musste eine 2 Euro Münze herhalten. Laut ChatGPD > besitzt deren Profil Höhenunterschiede zwischen 80 und 200 µm, > also nicht gerade viel. Naja, derart "grobe" Profile misst man eher mit Tastschnittmess- geräten. Ein "echtes" AFM nimmt man eher für um den Faktor 1000 kleinere Höhenunterschiede bis runter zu Bruchteilen von nm. :-)
@Bradward B.: zuerst einmal, besser machen und dann kritisieren. Dann, was verstehst du nicht an dem Wort "frei" nach Erich Kästner? Und drittens, das Bild ist ca. Ein 4x4 mm kleiner Ausschnitt der Münzoberfläche. Da wird einem sowieso nicht gleich die Münze ins Auge springen. Es sind wie schon erwähnt meine ersten Bilder mit meinem Apparat. Da geht bestimmt noch vieles besser und das werde ich auch versuchen in den nächsten Tagen. @Harald W.: Danke für den Hinweis, wozu ein AFM eigentlich verwendet wird. Wusste ich ohne deinen Hinweis nämlich nicht (Ironie aus...) Um nochmals (!) darauf hinzuweisen: Es soll ein AFM für Arme sein (siehe Titel), also bewusst kein ernstzunehmender Konkurrent zu einem echten AFM. Aber eben eine Nachahmung mit möglichst einfachen Mitteln und bei geringen Kosten. Und damit sich der Kreis wieder schließt: Besser machen...
Christoph E. schrieb: > Um nochmals (!) darauf hinzuweisen: Es soll ein AFM für Arme sein (siehe > Titel), also bewusst kein ernstzunehmender Konkurrent zu einem echten > AFM. Aber eben eine Nachahmung mit möglichst einfachen Mitteln und bei > geringen Kosten. > Und damit sich der Kreis wieder schließt: Besser machen... Nun, es gab da mal ein Schülerprojekt für ein "echtes" AFM. Da wurden natürlich fertige Cantilever verwendet, weil man die nicht selbst bauen kann. Vielleicht findet man die Beschreibungsseiten ja noch im INET. Merke: Nicht alles, was eine Oberfläche abtastet, ist ein AFM. Aber vielleicht nennst Du ja ein Geländemotorradrennen, wo es immer auf und ab geht auch ein AFM-Rennen. :-)
@Harald W.: Ich kenne das von dir gemeinte Projekt denke ich. Aber ein gekaufter Cantilever um viel Geld ist genau das, was ich hier bei meinem Projekt eben vermeiden wollte. Und Projekte, die dann nur mit universitärer Hilfe umgesetzt werden können, sind auch absolut nicht mein Ziel gewesen. Also kann man bei mir auch nicht wirklich von Themaverfehlung sprechen. Denn meine Intention war ein möglichst einfaches Mikroskop in starker Anlehnung an ein AFM. Und übrigens: Echte AFMs arbeiten zum Teil auch im Kontaktmodus, also im Prinzip völlig gleich wie meines... Und nochmals eine Wiederholung: 1.) Meine Bilder werden bestimmt noch besser und dies bei einem Gesamtbudget von 50 Euro. 2.) Kritisieren ist das denkbar einfachste auf der Welt. Sieht man auch gerade gut an bestimmten politischen Parteien. Selber machen ungleich schwerer. Und soweit ich das überblicke, bin ich einer von ganz wenigen, die hier auf microcontroller.net ihre eigenen Projekte vorstellen. Und das in einem (ehemaligen?) Ingenieursland wie Deutschland, traurig eigentlich...
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So, inzwischen habe ich weitere Aufnahmen mit meinem Mikroskop machen können. Die Software habe ich auch umgeschrieben: Anstatt in beide x-Richtungen zu scannen, scanne ich jetzt nur immer von links nach rechts. Dadurch werden die Konturen schärfer. Eine 1 cent Münze konnte schön abgerastert werden (siehe Anhang). Und dann habe ich mich noch an einer Lochrasterplatine versucht. Man erkennt den Buchstaben K. Die Cu-Auflage beträgt ja rund 35 µm. Wenn ich die Distanz zum Liniensensor noch weiter erhöhen würde, ginge noch einiges bzgl. Kontrast. Ich gebe aber zu bedenken, dass beim Abfotografieren des Display-Bilds gehörig viel Kontrast verloren geht. Ich müsste die Grauwerte digital einlesen und dann am Computer erst ein Bild erstellen. Visuell ist auf dem Display also um einiges mehr zu erkennen als dann auf dem Foto. Damit ist dieses Projekt für mich abgeschlossen. Gekostet hat mich der Spaß ca. 75 Euro. Bin mit den Ergebnissen aber sehr zufrieden, viel mehr hatte ich mir eigentlich nicht erhofft. Ein Pixel am Bildschirm entspricht rund 10 µm. Und von meinen Kritikern erwarte ich nun, mir mit ähnlichen Budget bessere Ergebnisse zu liefern. Aber da wird natürlich nichts kommen, denn (fast) alle haben nur eine riesige Klappe ohne was dahinter... Mehr Informationen: https://stoppi-homemade-physics.de/atomic-force-microscope-afm/
Peter D. schrieb: > Schon allein die Präparation der Tastspitze von wenigen Atomen Dicke > dürfte für den Bastler ein Hauptproblem sein. Eigentlich wirft man den Cantilever weg, wenn der Tastspitzenradius grösser als 30nm ist. :-) Die Kosten sind mit ca. 20€ überschaubar.
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