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Forum: Mikrocontroller und Digitale Elektronik RAM-Test


Autor: Matze (Gast)
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Hallo zusammen,
ich bin auf der Suche nach einem RAM-test namens "Abraham".
Hab unter Google schon geschaut, aber nicht wirklich was vernünftiges
gefunden. Mir würde im Moment eigentlich die Funktionsweise des Tests
schon genügen. Gruß Matze

Autor: Michael U. (Gast)
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Hallo,

nie gehört...
Han zwar bei Google die Fax-Nummer von Abraham Lincoln gefunden 
(huch??????), aber nichts in Verbindung mit Ram.

Gibt es noch ein anders Stichwort in Verbindung damit?
Was soll das Besondere daran sein?

Gruß aus Berlin
Michael

Autor: Matze (Gast)
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Dieser Test soll den höchstmöglichen Fehlererkennungsgrad besitzen.

Eine Alternative zu diesem RAM-test wäre der "Galpat".
Dieser ist unter Google einigermaßen gut beschrieben. Um 
Sicherheitskritische Anwendungen abdecken zu können, schreibt der TÜV
den Abraham Test vor.

Autor: Thomas O. (kosmos)
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interessant, muss der RAM-Test vor dem eigentlichen Programm ablaufen 
oder während dessen?

Bekannt war mir bisher nur das die Programme bzw. Kennfelder durch eine 
Checksumme z.B. im Automotivbereich überprüft wurden.

Autor: Giga-Ohm (Gast)
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Hallo zusammen!

Ich weiß, der Beitrag ist schon recht alt, aber trotzdem will ich ihn 
mal ausgraben.

Frage: Hat jemand zu dem o. g. Test, oder generell 
Mikrocontroller-RAM-Tests, Informationen, bzw. Links wo es Infos dazu 
gibt?

Beste Grüße

Giga-Ohm

Autor: Stefan Wimmer (wswbln)
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Na, wenn "der TÜV" den Test vorschreibt, hat man doch evtl. schon einen 
Ansatzpunkt für mehr oder weniger intelligentes Nachfragen - oder?

Vielleicht kann auch Matze mittlerweile was dazu schreiben (so er diesen 
Thread noch verfolgt)?

Autor: jl (Gast)
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Naja, nachfragen kann man ja. Aber ich glaube nicht unbedingt das sie 
dir eine ausreichende Antwort geben werden. Da gibt es "Gutachter" die 
nur aus Normen zitieren können und unsinige Forderungen stellen weil da 
in einer alten Norm nach 3 Referenzen auf Verfahren verwiesen wird die 
aber nicht praktikabel sind.

Bei mir war es die Forderung nach einem CPU Test. Stand halt in einer 
Norm von 1984 die dann auf ein noch älteres Dokument verwies. Da war 
dann auch kein Diskutieren möglich. Es wurde halt ein primitiver Check 
der einen kleinen Teil abtestet ausgearbeitet (Haken dran).

JL

Autor: Thomas O. (kosmos)
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ob das überhaupt haltbar ist was dem TÜV da einfällt? Als Beispiel 
STVZO. Dort wird eine ausreichende Radabdeckung gefordert, mehr steht 
nicht drin und der TÜV hat dann selbst aufgestellte 
Durchführungsbestimmungen für die Abnahme und zusätzlich gibts noch eine 
ältere EU Richtlinie die der TÜV anerkennen muss.

Frag mal nach diesen Zulassungsbestimmungen vielleicht ist das KBA auch 
ne Adresse dafür.

Autor: Christoph Kessler (db1uq) (christoph_kessler)
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gegoogled nach "Abraham Ramtest" liefert mehrfach diese Literaturangabe:

"NTA article" is "Efficient Algorithms for testing Semiconductor Random 
Access Memories", Nair, Thatte and Abraham, IEEE Transactions on 
Computing, Vol.C-27, No.6, June 1978.

und daraufhin nach "NTA Ramtest" die Anfangsbuchstraben der drei 
Autoren:

NTA March Test
Specifies number of loops of NTA march(30N) test, per pass. Increasing 
the number of loops of any subtest increases the relative time spent on 
that subtest in each pass. This increase also increases the time taken 
to complete a pass. NTA march test attacks coupling and stuck at faults. 
NTA march is efficient at finding single, double, and some triple bit 
errors. Depending on the stride option, coupling faults between cells in 
adjacent columns, or rows that are targeted. Note that test time will be 
higher when row striding is selected because of greater page faults 
generated. For efficiency purposes, total memory is divided among 
available CPUs.

Hier philosophiert einer über RAM-Test-Strategien:
http://www.ganssle.com/articles/ramtest.htm

Autor: Christoph Kessler (db1uq) (christoph_kessler)
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und hier sind die bisherigen literarische Werke von Professor Abraham 
(geb.1948) aufgelistet:
http://www.cerc.utexas.edu/~jaa/resume.pdf

Autor: gast (Gast)
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Ist einer con euch im Bezug auf den Abraham Test weitergekommen?

Ich finde einfach keine genauere Informationen über diesen Test ...

Danke.

Autor: Sumynona (Gast)
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Ich denk mal der TÜV hat ausführlichere Informationen zu dem Test, wenn 
sie schon überprüfen wollen dass er durchgeführt wird ;-)

Autor: ttl (Gast)
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Also bei uns war der TÜV (Nord) mit Galpat zufrieden,
Der Test muss allerdings ständig im Hintergund laufen und nicht nur bei 
Programmstart. Hängt wohl sehr vom Prüfer ab, was die fordern.

Autor: Marcus Harnisch (mharnisch) Benutzerseite
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> Um Sicherheitskritische Anwendungen abdecken zu können, schreibt der
> TÜV den Abraham Test vor.

Mir ist nicht bekannt, dass "der TÜV" einen bestimmten Test
vorschreibt. Wenn Dir der einzelne Prüfer einen bestimmten Test
nahelegt, dann empfiehlt es sich natürlich den auch zu verwenden,
sofern keine technischen Gründe dagegen sprechen...

Ganz vereinfacht gesagt schreiben die verschiedenen Sicherheitsnormen
entweder Maximalwerte für das Restrisiko vor, bzw. Maximalwerte für
die Zeit nach dem auf einen auftretenden Fehler im System reagiert
werden muss. Wie Du das im Einzelnen erreichst, ist zum großen Teil
Deine Sache.

Der TÜV erstellt die Normen nicht, er überwacht nur deren Einhaltung.

Ein destruktiver Speichertest beim Startup ist relativ einfach und hat
eine recht kurze Laufzeit. Ich habe March CW wegen seiner geringen
Redundanz verwendet.

Ein erhaltender Speichertest (zur Laufzeit) ist algorithmisch
ebenfalls einfach, dauert aber ewig, da man immer nur Teile des
Speicher testen kann und die Daten umlagern muss. Die Redundanz ist
extrem hoch.

Über den Sinn dynamischer Speicher- und/oder CPU-Tests kann man sich
trefflich streiten! Hilft aber nicht unbedingt, mit dem Prüfer darüber
zu diskutieren.

Ich hatte mit dem TÜV Nord ebenfalls sehr gute Erfahrungen. Und ich
habe mit dem Prüfer diskutiert :-)

Gruß
Marcus
http://www.doulos.com/arm/

Autor: anton (Gast)
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ich denke Christioph hat schon die richtige Antwort gegebe. Die 
zietierte Literaturstelle wird auch in der DIN EN 61508 bei der 
Beschreibung des RAM-Test "Abraham" zietiert.

Christoph Kessler (db1uq) schrieb:
> gegoogled nach "Abraham Ramtest" liefert mehrfach diese Literaturangabe:
>
> "NTA article" is "Efficient Algorithms for testing Semiconductor Random
> Access Memories", Nair, Thatte and Abraham, IEEE Transactions on
> Computing, Vol.C-27, No.6, June 1978.
>

Autor: holger (Gast)
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>> "NTA article" is "Efficient Algorithms for testing Semiconductor Random
>> Access Memories", Nair, Thatte and Abraham, IEEE Transactions on
>> Computing, Vol.C-27, No.6, June 1978.

1978 hatte man RAM meist nur extern angebunden. Da macht ein RAM Test
natürlich Sinn um kalte Lötstellen oder Kurzschlüsse zu finden.
Bei heutigen CPUs mit internem RAM kann das ja nicht auftreten.
Und ein defektes RAM IN der CPU hat sicher einen Grund der
vorher schon ganz andere Dinge zerlegt hat. Ich halte solche
Tests für Blödsinn. Die sorgen nicht für Sicherheit. Ganz im
Gegenteil, die machen das System anfällig. Macht mal einen
RAM Test über einen Bereich der per DMA beschrieben wird;)

Autor: Anja (Gast)
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holger schrieb:
> Bei heutigen CPUs mit internem RAM kann das ja nicht auftreten.

Dafür gibt es andere Probleme: Die RAM-Zellen sind heute so klein daß 
der Datenerhalt bei manchen Prozessoren im Normalbetrieb nur noch mit 
aufwendigen fehlerkorrigierenden redundanzen (ECC) garantiert werden 
kann. Ein einziges Alpha-Teilchen im Kunststoff kann da bereits 
erheblichen lokalen Schaden anrichten.

Gruß Anja

Autor: User (Gast)
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> Und ein defektes RAM IN der CPU hat sicher einen Grund der
vorher schon ganz andere Dinge zerlegt hat.

Der sonstige Schaden dürfte sich in Grenzen halten, wenn ein einzelnes 
Bit ausfällt, weil das Fremd-Molekül sich endlich an die richtige Stelle 
gequält hat...

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