RAM-Test

Hallo,

nie gehört...
Han zwar bei Google die Fax-Nummer von Abraham Lincoln gefunden 
(huch??????), aber nichts in Verbindung mit Ram.

Gibt es noch ein anders Stichwort in Verbindung damit?
Was soll das Besondere daran sein?

Gruß aus Berlin
Michael

Dieser Test soll den höchstmöglichen Fehlererkennungsgrad besitzen.

Eine Alternative zu diesem RAM-test wäre der "Galpat".
Dieser ist unter Google einigermaßen gut beschrieben. Um 
Sicherheitskritische Anwendungen abdecken zu können, schreibt der TÜV
den Abraham Test vor.

Hallo zusammen!

Ich weiß, der Beitrag ist schon recht alt, aber trotzdem will ich ihn 
mal ausgraben.

Frage: Hat jemand zu dem o. g. Test, oder generell 
Mikrocontroller-RAM-Tests, Informationen, bzw. Links wo es Infos dazu 
gibt?

Beste Grüße

Giga-Ohm

Naja, nachfragen kann man ja. Aber ich glaube nicht unbedingt das sie 
dir eine ausreichende Antwort geben werden. Da gibt es "Gutachter" die 
nur aus Normen zitieren können und unsinige Forderungen stellen weil da 
in einer alten Norm nach 3 Referenzen auf Verfahren verwiesen wird die 
aber nicht praktikabel sind.

Bei mir war es die Forderung nach einem CPU Test. Stand halt in einer 
Norm von 1984 die dann auf ein noch älteres Dokument verwies. Da war 
dann auch kein Diskutieren möglich. Es wurde halt ein primitiver Check 
der einen kleinen Teil abtestet ausgearbeitet (Haken dran).

JL

Ist einer con euch im Bezug auf den Abraham Test weitergekommen?

Ich finde einfach keine genauere Informationen über diesen Test ...

Danke.

Ich denk mal der TÜV hat ausführlichere Informationen zu dem Test, wenn 
sie schon überprüfen wollen dass er durchgeführt wird ;-)

Also bei uns war der TÜV (Nord) mit Galpat zufrieden,
Der Test muss allerdings ständig im Hintergund laufen und nicht nur bei 
Programmstart. Hängt wohl sehr vom Prüfer ab, was die fordern.

ich denke Christioph hat schon die richtige Antwort gegebe. Die 
zietierte Literaturstelle wird auch in der DIN EN 61508 bei der 
Beschreibung des RAM-Test "Abraham" zietiert.

Christoph Kessler (db1uq) schrieb:
> gegoogled nach "Abraham Ramtest" liefert mehrfach diese Literaturangabe:
>
> "NTA article" is "Efficient Algorithms for testing Semiconductor Random
> Access Memories", Nair, Thatte and Abraham, IEEE Transactions on
> Computing, Vol.C-27, No.6, June 1978.
>

>> "NTA article" is "Efficient Algorithms for testing Semiconductor Random
>> Access Memories", Nair, Thatte and Abraham, IEEE Transactions on
>> Computing, Vol.C-27, No.6, June 1978.

1978 hatte man RAM meist nur extern angebunden. Da macht ein RAM Test
natürlich Sinn um kalte Lötstellen oder Kurzschlüsse zu finden.
Bei heutigen CPUs mit internem RAM kann das ja nicht auftreten.
Und ein defektes RAM IN der CPU hat sicher einen Grund der
vorher schon ganz andere Dinge zerlegt hat. Ich halte solche
Tests für Blödsinn. Die sorgen nicht für Sicherheit. Ganz im
Gegenteil, die machen das System anfällig. Macht mal einen
RAM Test über einen Bereich der per DMA beschrieben wird;)

holger schrieb:
> Bei heutigen CPUs mit internem RAM kann das ja nicht auftreten.

Dafür gibt es andere Probleme: Die RAM-Zellen sind heute so klein daß 
der Datenerhalt bei manchen Prozessoren im Normalbetrieb nur noch mit 
aufwendigen fehlerkorrigierenden redundanzen (ECC) garantiert werden 
kann. Ein einziges Alpha-Teilchen im Kunststoff kann da bereits 
erheblichen lokalen Schaden anrichten.

Gruß Anja

> Und ein defektes RAM IN der CPU hat sicher einen Grund der
vorher schon ganz andere Dinge zerlegt hat.

Der sonstige Schaden dürfte sich in Grenzen halten, wenn ein einzelnes 
Bit ausfällt, weil das Fremd-Molekül sich endlich an die richtige Stelle 
gequält hat...