Hi, gibt es irgendwo fertig Schaltungen oder Software um AVRs zu testen? Ich habe ca. 20 ATMEGA128-stamps von ett.co.t bekommen, die alle irgendwie kaputt sein sollen oder auch evtl. nicht. Ich würde die gerne möglich umfangreich testen um zu sehen für was die jweils noch zu gebrauchen sind. Leider hab ich dazu außer Lauflicht-Demos nichts brauchbares gefunden, kann mir aber nicht vorstellen, dass ich da der erste bin, der sowas braucht oder ist es eher selten, dass sich diese Dinger noch programmieren lassen und nur einzelne Ports verbrutzelt sind? Dazu hab ich noch ein "ET-AVR START KIT V1 EXP" übrig, dass ich dann ggf. zum Testboard umfunktieren könnte. Bin für jeden Hinweis dankbar.
Thomas schrieb: > Ich habe ca. 20 ATMEGA128-stamps von ett.co.t bekommen, die alle > irgendwie kaputt sein sollen oder auch evtl. nicht. Ich würde die gerne > möglich umfangreich testen Hi, Thomas, "was wäre, würde mir ein Karton Chips so angeboten?" - das interessiert mich. Annahmen: 1. Niemand schmeißt Prozessoren ohne Anlass weg. 2. Dich interessiert der Haufen Schrott nur für Bastelzwecke. 3. Dein Test soll deutlich billiger sein als ein ordentlicer Einkauf. 4. Daher suchst Du den Boundary Scan Test, den eine ordentliche Firma nach der Bestückung durchführt. 5. Aber der braucht einen Testautomaten mit Testadapter - und das ist für Hobbyisten wie mich unerschwinglich. 6. Die größte Wahrscheinlichkeit für die Herkunft der Chips: a) da hat jemand in die Auschusstonne des Herstellers gegriffen. In dem Fall hast Du vielleicht das Glück einer Charge, deren Fehler der Hersteller strenger bewertet als ein Bastler, b) Griff in die Abfalltonne einer Serviceeinrichtung. Sind Auslötspuren an den Chips sichtbar? 7. Die größte Wahrscheinlichkeit für Fehler nach 6b: Einzelne I/O-Pins sind verbrannt. Dein Glück könnte sein, dass Deine Anwendung genau die Pins nicht braucht. Was kostet Dich a) ein Testadapter, der ein Device under Test vergleicht mit einem Referenzmodell? Der beide über JTAG-ICE getrenn ansteuert zum Flashen? b) die Entwicklung einer Firmware, die alle I/O-Pins ansteuert? Thomas, meine Entscheidung angesichts meiner überfüllten Regale - Weg mit dem Schrott. Für meine Basteleien sind mir ebay-Chips weitaus billiger als die Verunsicherung, ob der Chip jetzt funktioniert oder der nächste gebrannt werden muss. Ciao Wolfgang
Die Frage ist ja was an den Chips defekt ist. Und da bietet so ein Schaltkreis viele Möglichkeiten. I/Os defekt. Flash teilweise defekt, RAM unzuverlässig, Referenzspannung des ADC außerhalb der Toleranz, ... Ein LED Lauflicht reicht da nicht aus um alle möglichen defekte zu erkennen.
Hi, also sowas wie memtest86+ für PCs wäre schon gut, man kann zwar nicht feststellen ob die Hardware ganz ganz ist aber ohne allzuviel dass sie kaputt ist. Zu Deinen Annahmen Wolfgang: Es ist eine Kiste aus einem Studentlabor, wo auch einige neue mit drunter sind. Ich kann allso davon ausgehen, dass alle mal funktioniert haben, aber zumindest bei einigen einzelne PINs verbruzelt sind. Ich würde das gerne relativ systematisch testen, da der Frust beim Experimentieren sonst so groß ist.
Naja, was kann denn kaputt sein. Internas (Speicher, ALU) eher nicht, sondern die Peripherie. Z.B. Überspannung auf VCC oder nem Pin. Also erstmal die Stromaufnahme messen, einmal alle IOs High und einmal alle IOs Low. Und dann ein Testprogramm, was jeden Pin auf High setzt, prüft, Low setzt, prüft. Die Ausgabe über die UART nach Hypertherminal. Dann könnte noch sein, daß die Digitalstufen es überlebt haben, aber der AD-MUX geschrottet ist. Also z.B. über 1Meg etwa 1V an jeden ADC anlegen und auslesen, obs stimmt. Fertig. Peter
Ich kenne mich mit den AVRs nicht so aus, ob es da vielleicht einen Boundary Scan Test o.ä. gibt. Damit können so ziemlich alle Funktionen getestet werden, einschließlich I/O. Wird aber nicht so ganz einfach, da an Testsoftware heran zu kommen. Für den kommerziellen Einsatz sind deine Bausteine nicht mehr geeignet. Das sollte klar sein. Allenfalls für Bastelzwecke, da eben aus unbekannter Herkunft, bzw. voran gegangener unbekannter Behandlungsweise. Fürs Hobby, kann man da in die Software mal Speichertests o.ä. einbauen, aber das ist begrenzt. Als Student bastelte ich gerne mit Bauteilen vom Schrottplatz. Mir kamen da schon µC in industriellen Geräten unter, die der Thyristoransteuerung zum Phasenanschnitt der Netzspannung dienten. Z.B. 8048-er mit zerschossenem Pin, weil der Thyristor defekt wurde, Fremdspannung auf den Pin zurück wirkte, und das Gerät auf dem Schrott landete (gute Marke sogar: Philips). Der 8048 funktioniert mit eigener Software bis auf den einen Pin, aber man kann auch nie sicher sein, wie lange noch. Ein Defekt im Kristall, kann sich nach und nach flächenmäßig ausweiten, und auf andere Schaltungsteile übergreifen. Wie beim Steinschlag in der Windschutzscheibe, nur als groben Vergleich. Also, sowas wirklich nur für Bastelzwecke. Ansonsten sind sogar Halbleiter vom Schrott zu 99 Prozent noch in Ordnung, die schon 20 Jahre in Betrieb waren. Viele Geräte werden rein aus Zeitgeistgründen weg geworfen, oder weil Mechanik verschlissen ist, wobei die Elektronik in Ordnung ist (Kopierer, Drucker, Gastherme, etc.). Der zerschossene Pin war schon eine Ausnahme. Ich hab da Unmengen EPROMS, µC, TTL- und CMOS-Logik, OPs, Transistoren, mit denen ich oft täglich arbeitete, geht in der Regel einwandfrei, ich staune selbst. Wie Peter Dannegger schon schreibt: Überspannung beim Experimentieren, falsch geinterfacete Pins, ahnungslose Studis, sind so kritische Dinge bei Bauteilen aus dem Labor.
Hi, ja, wenn die Jungs einfach sagen würden, dass sie was verbraten haben wäre es natürlich die einfachste Lösung, aber da es ja peinlich ist (und sehr selten vielleicht unbemerkt ist) ist es nur eine theoretische Lösung. Ich werde mir dann ein Testboard machen und wie Peter es beschrieben hat testen. - Ich weiß jetzt wenigstens, dass es da wohl noch nichts fertiges in der Richtung gibt...
Peter Dannegger schrieb: > Fertig. Nicht ganz, da weißt du immer noch nicht ob die Digitalpins sich noch als Inputs eignen. -> zusätzlich input-Test für alle PINs (viel Spaß beim Ausgeben des Ergebnisses) Ferner sollte man noch für alle PINs (nicht nur die ADCs die ja schon indirekt getestet werden) die Leckströme messen und ggf. die Eingangsschutzdiodencharakteristik. Dann haben die AVRs auch noch Pull-ups die ggf. defekt werden können -> Pull-up Ströme messen. Gruß Anja
nicht zu vergessen von den ganzen restlichen Module, SPI, TWI, USART, ADC, TIMER, interne Oszis, ALUS, EEPROM, FLASH, SRAM
Ist aber eher unwahrscheinlich, dass die mittels Porgrammierung geschrottet wurden. Und zu guter letzt - auch auf Unis ist es nicht anders, wie so manchesmal hier im Forum: "Mein Programm funktioniert nicht. Da ich aber der Welt größter Programmierer mit 2 Stunden Erfahrung bin, ist ein Programmfehler völlig ausgeschlossen und der µC muss defekt sein. Bitte austauschen!"
Ich tippe mal auf einige falsche fusebits. Also ist sicher eine externe Taktquelle und HV-Programmer hilfreich.
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