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Forum: Mikrocontroller und Digitale Elektronik AVRs auf defekt prüfen?


Autor: Thomas (Gast)
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Hi,

gibt es irgendwo fertig Schaltungen oder Software um AVRs zu testen?

Ich habe ca. 20 ATMEGA128-stamps von ett.co.t bekommen, die alle 
irgendwie kaputt sein sollen oder auch evtl. nicht. Ich würde die gerne 
möglich umfangreich testen um zu sehen für was die jweils noch zu 
gebrauchen sind. Leider hab ich dazu außer Lauflicht-Demos nichts 
brauchbares gefunden, kann mir aber nicht vorstellen, dass ich da der 
erste bin, der sowas braucht oder ist es eher selten, dass sich diese 
Dinger noch programmieren lassen und nur einzelne Ports verbrutzelt 
sind?

Dazu hab ich noch ein "ET-AVR  START KIT V1 EXP" übrig, dass ich dann 
ggf. zum Testboard umfunktieren könnte.

Bin für jeden Hinweis dankbar.

Autor: WHorn (Gast)
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Thomas schrieb:
> Ich habe ca. 20 ATMEGA128-stamps von ett.co.t bekommen, die alle
> irgendwie kaputt sein sollen oder auch evtl. nicht. Ich würde die gerne
> möglich umfangreich testen

Hi, Thomas,

"was wäre, würde mir ein Karton Chips so angeboten?" - das interessiert 
mich.

Annahmen:
1. Niemand schmeißt Prozessoren ohne Anlass weg.
2. Dich interessiert der Haufen Schrott nur für Bastelzwecke.
3. Dein Test soll deutlich billiger sein als ein ordentlicer Einkauf.
4. Daher suchst Du den Boundary Scan Test, den eine ordentliche Firma 
nach der Bestückung durchführt.
5. Aber der braucht einen Testautomaten mit Testadapter - und das ist 
für Hobbyisten wie mich unerschwinglich.
6. Die größte Wahrscheinlichkeit für die Herkunft der Chips:
a) da hat jemand in die Auschusstonne des Herstellers gegriffen. In dem 
Fall hast Du vielleicht das Glück einer Charge, deren Fehler der 
Hersteller strenger bewertet als ein Bastler,
b) Griff in die Abfalltonne einer Serviceeinrichtung. Sind Auslötspuren 
an den Chips sichtbar?
7. Die größte Wahrscheinlichkeit für Fehler nach 6b: Einzelne I/O-Pins 
sind  verbrannt. Dein Glück könnte sein, dass Deine Anwendung genau die 
Pins nicht braucht.

Was kostet Dich
a) ein Testadapter, der ein Device under Test vergleicht mit einem 
Referenzmodell? Der beide über JTAG-ICE getrenn ansteuert zum Flashen?
b) die Entwicklung einer Firmware, die alle I/O-Pins ansteuert?


Thomas, meine Entscheidung angesichts meiner überfüllten Regale - Weg 
mit dem Schrott. Für meine Basteleien sind mir ebay-Chips weitaus 
billiger als die Verunsicherung, ob der Chip jetzt funktioniert oder der 
nächste gebrannt werden muss.


Ciao
Wolfgang

Autor: Matthias Herold (matthias-h)
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Die Frage ist ja was an den Chips defekt ist. Und da bietet so ein 
Schaltkreis viele Möglichkeiten. I/Os defekt. Flash teilweise defekt, 
RAM unzuverlässig, Referenzspannung des ADC außerhalb der Toleranz, ...
Ein LED Lauflicht reicht da nicht aus um alle möglichen defekte zu 
erkennen.

Autor: Thomas (Gast)
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Hi,

also sowas wie memtest86+ für PCs wäre schon gut, man kann zwar nicht 
feststellen ob die Hardware ganz ganz ist aber ohne allzuviel dass sie 
kaputt ist.

Zu Deinen Annahmen Wolfgang:

Es ist eine  Kiste aus einem Studentlabor, wo auch einige neue mit 
drunter sind. Ich kann allso davon ausgehen, dass alle mal funktioniert 
haben, aber zumindest bei einigen einzelne PINs verbruzelt sind.

Ich würde das gerne relativ systematisch testen, da der Frust beim 
Experimentieren sonst so groß ist.

Autor: Peter Dannegger (peda)
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Naja, was kann denn kaputt sein.
Internas (Speicher, ALU) eher nicht, sondern die Peripherie.
Z.B. Überspannung auf VCC oder nem Pin.

Also erstmal die Stromaufnahme messen, einmal alle IOs High und einmal 
alle IOs Low.
Und dann ein Testprogramm, was jeden Pin auf High setzt, prüft, Low 
setzt, prüft. Die Ausgabe über die UART nach Hypertherminal.

Dann könnte noch sein, daß die Digitalstufen es überlebt haben, aber der 
AD-MUX geschrottet ist. Also z.B. über 1Meg etwa 1V an jeden ADC anlegen 
und auslesen, obs stimmt.

Fertig.


Peter

Autor: Wilhelm F. (ferkes-willem)
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Ich kenne mich mit den AVRs nicht so aus, ob es da vielleicht einen 
Boundary Scan Test o.ä. gibt. Damit können so ziemlich alle Funktionen 
getestet werden, einschließlich I/O. Wird aber nicht so ganz einfach, da 
an Testsoftware heran zu kommen.

Für den kommerziellen Einsatz sind deine Bausteine nicht mehr geeignet. 
Das sollte klar sein. Allenfalls für Bastelzwecke, da eben aus 
unbekannter Herkunft, bzw. voran gegangener unbekannter 
Behandlungsweise.

Fürs Hobby, kann man da in die Software mal Speichertests o.ä. einbauen, 
aber das ist begrenzt.

Als Student bastelte ich gerne mit Bauteilen vom Schrottplatz. Mir kamen 
da schon µC in industriellen Geräten unter, die der Thyristoransteuerung 
zum Phasenanschnitt der Netzspannung dienten. Z.B. 8048-er mit 
zerschossenem Pin, weil der Thyristor defekt wurde, Fremdspannung auf 
den Pin zurück wirkte, und das Gerät auf dem Schrott landete (gute Marke 
sogar: Philips). Der 8048 funktioniert mit eigener Software bis auf den 
einen Pin, aber man kann auch nie sicher sein, wie lange noch. Ein 
Defekt im Kristall, kann sich nach und nach flächenmäßig ausweiten, und 
auf andere Schaltungsteile übergreifen. Wie beim Steinschlag in der 
Windschutzscheibe, nur als groben Vergleich. Also, sowas wirklich nur 
für Bastelzwecke.

Ansonsten sind sogar Halbleiter vom Schrott zu 99 Prozent noch in 
Ordnung, die schon 20 Jahre in Betrieb waren. Viele Geräte werden rein 
aus Zeitgeistgründen weg geworfen, oder weil Mechanik verschlissen ist, 
wobei die Elektronik in Ordnung ist (Kopierer, Drucker, Gastherme, 
etc.). Der zerschossene Pin war schon eine Ausnahme. Ich hab da Unmengen 
EPROMS, µC, TTL- und CMOS-Logik, OPs, Transistoren, mit denen ich oft 
täglich arbeitete, geht in der Regel einwandfrei, ich staune selbst.

Wie Peter Dannegger schon schreibt: Überspannung beim Experimentieren, 
falsch geinterfacete Pins, ahnungslose Studis, sind so kritische Dinge 
bei Bauteilen aus dem Labor.

Autor: Thomas (Gast)
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Hi,

ja, wenn die Jungs einfach sagen würden, dass sie was verbraten haben 
wäre es natürlich die einfachste Lösung, aber da es ja peinlich ist (und 
sehr selten vielleicht unbemerkt ist) ist es nur eine theoretische 
Lösung.

Ich werde mir dann ein Testboard machen und wie Peter es beschrieben hat 
testen. - Ich weiß jetzt wenigstens, dass es da wohl noch nichts 
fertiges in der Richtung gibt...

Autor: Anja (Gast)
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Peter Dannegger schrieb:
> Fertig.

Nicht ganz, da weißt du immer noch nicht ob die Digitalpins sich noch 
als Inputs eignen.
-> zusätzlich input-Test für alle PINs (viel Spaß beim Ausgeben des 
Ergebnisses)

Ferner sollte man noch für alle PINs (nicht nur die ADCs die ja schon 
indirekt getestet werden) die Leckströme messen und ggf. die 
Eingangsschutzdiodencharakteristik.

Dann haben die AVRs auch noch Pull-ups die ggf. defekt werden können
-> Pull-up Ströme messen.

Gruß Anja

Autor: Vlad Tepesch (vlad_tepesch)
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nicht zu vergessen von den ganzen restlichen Module,
SPI, TWI, USART, ADC, TIMER, interne Oszis, ALUS, EEPROM, FLASH, SRAM

Autor: Karl Heinz (kbuchegg) (Moderator)
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Ist aber eher unwahrscheinlich, dass die mittels Porgrammierung 
geschrottet wurden.

Und zu guter letzt - auch auf Unis ist es nicht anders, wie so 
manchesmal hier im Forum:
"Mein Programm funktioniert nicht. Da ich aber der Welt größter 
Programmierer mit 2 Stunden Erfahrung bin, ist ein Programmfehler völlig 
ausgeschlossen und der µC muss defekt sein. Bitte austauschen!"

Autor: Matthias (Gast)
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Ich tippe mal auf einige falsche fusebits. Also ist sicher eine externe 
Taktquelle und HV-Programmer hilfreich.

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