Prüfung von Elektronik bei Wareneingang

Es besteht die Möglichkeit, Platinen mit einem speziellen Prüfgerät und 
einem Adapter, der aus vielen Nadeln besteht, zu prüfen. Auf der 
Leiterkarte wird möglichst für jedes Netz ein Prüfpunkt vorgesehen, auf 
dem sich dann die Nadel verbinden kann. Mit dem Prüfgerät kann dann im 
Prinzip jedes Netz einzeln getestet werden.

Siehe auch: http://de.wikipedia.org/wiki/In-Circuit-Test

Das kann der Hersteller selbst machen oder der Anwender macht es in 
seiner Wareneingangsprüfung.

Bei größeren Bausteinen (Prozessoren, FPGA), bei denen man nicht mehr 
alle Netze mit einem Testpunkt versehen kann, hat man als Alternative 
die Möglichkeit über JTAG zu prüfen:

http://de.wikipedia.org/wiki/Boundary_Scan

Ok, E-Test und so direkt beim Bestücker ist klar. Nur wenn ich jetzt 
z.B. Platinen mit leerem uC bekomme, die noch einzeln programmiert 
werden, dann würde ich mir ja Stichproben herauspicken wollen und die 
testen.

Dafür müsste ich mir dann einen Adapter bauen, oder wie sieht sowas aus? 
Bei einem richtigen Funktionstest will ich dann ja auch sehen, ob das 
Display es tut usw.

Vielfach wird das so gemacht, zumindest bei den Platinen welche selbst 
programmiert werden:
Platinen kommen im Nutzen rein und dieser Nutzen ist so konstruiert, daß
man mit einem Stecker, auch Edge-connector alle Platinen programmieren 
kann
und da wird entweder zuerst ein Testprogramm raufgegeben, und dann das
eigentliche Programm, oder auch das endgültige Programm, welches dann 
beim
ersten Start die Testfunktionalität beinhaltet und danach im eeprom oder 
Flash diese Testfunktionalität sperrt. Auch ist es üblich, von einem uC
io/pins auf die andere Platine gehen zu lassen und mit dem anderen uC 
dann
das Pattern zu validieren, um die Lötstellen zu testen. Zwar wird der 
Stecker
selbst so nicht getestet, aber der Rest.

Wenn der Bestücker einen In-Circuit-Test wie oben beschrieben macht, 
musst du gar nichts mehr machen, da reicht ein abschließender 
Funktionstest deines Gerätes. Ich bezweifel aber, dass das Standard ist, 
da sehr sehr teuer. In der Industrie ist das sicherlich üblich, aber 
dort geht es auch um entsprechende Stückzahlen und teure Baugruppen.

E-Test bezieht sich ja nur auf die unbestückte Platine und ist deutlich 
einfacher.

Standard ist AOI Prüfung. Wenn E-Test gemacht wird, dann wird auch der
uC damit mitprogrammiert.