Hallo. Ich bin da im Netz auf etwas gestoßen, was mich fasziniert hat. Ein Tester, mit dem ich die Pins an einem IC bzw an einem Schaltkreis abtasten kann und das Teil sagt dann "ok" oder "defekt"... https://www.electronicrepairegypt.com/uploads/3/9/0/1/3901930/_fados7f1_user_manual.pdf Kann das wirklich funktionieren ? Es müssten doch sämtliche Daten von sämtlichen IC´s darin gespeichert sein in sämtlichen Konstellationen ?! Man misst im Schaltkreis ohne aus zu löten. Ich hab irgendwann mal gelernt, um ordentlich zu messen, muss man auslöten. Was haltet ihr davon ? Funktioniert so etwas wirklich ? Wenn ja, wie geht das von statten ? Danke Gruss Jan
http://www.hobby-bastelecke.de/messen/oszi_komponententester.htm http://www.elexs.de/oszi3.htm Beitrag "Komponententester fürs Oszi"
Jan H. schrieb: > Funktioniert so etwas wirklich ? Wenn es da doch steht. Ich glaub nicht, dass jemand im Internet Lügen erzählt.
Jan H. schrieb: > Kann das wirklich funktionieren ? Es müssten doch sämtliche Daten von > sämtlichen IC´s darin gespeichert sein in sämtlichen Konstellationen ?! Nein, der Tester ist dumm und weiß garnichts. Es ist ein einfacher oder etwas besserer Kennlinienschreiber. Einige Hameg Oszilloskope hatten früher so einen "Komponenten Tester" eingebaut. Man kann Kurzschluß, Unterbrechung,Widerstand, Kapazität und Diodenkennlinien erkennen. Gugel hilft Dir für weitere Erkenntnisse:http://www.hobby-bastelecke.de/messen/oszi_komponententester.htm MfG
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Jan H. schrieb: > Hallo. > > Ich bin da im Netz auf etwas gestoßen, was mich fasziniert hat. Ein > Tester, mit dem ich die Pins an einem IC bzw an einem Schaltkreis > abtasten kann und das Teil sagt dann "ok" oder "defekt"... Das ist kein Schaltkreistester, sondern ein Bauteil- oder Komponententester! Lerne bitte, Begriffe sprechend ihrer Bedeutung zu gebrauchen. Das erleichtert dir sowohl das Verständnis als auch die Verständigung mit anderen. > Kann das wirklich funktionieren ? Es müssten doch sämtliche Daten von > sämtlichen IC´s darin gespeichert sein in sämtlichen Konstellationen ?! > Man misst im Schaltkreis ohne aus zu löten. Ich hab irgendwann mal > gelernt, um ordentlich zu messen, muss man auslöten. Was haltet ihr > davon ? Funktioniert so etwas wirklich ? Wenn ja, wie geht das von > statten ? Du stellst echt merkwürdige Fragen. Hättest du besser mal die Beschreibung gelesen, oder kannst du kein Englisch? Dann haste ein echtes Problem! Und schaue dir die von den anderen gegebenen Beispiele an. PS: Du plenkst. https://de.wikipedia.org/wiki/Plenk
Jan H. schrieb: > Ich bin da im Netz auf etwas gestoßen, was mich fasziniert hat. Ein > Tester, mit dem ich die Pins an einem IC bzw an einem Schaltkreis > abtasten kann und das Teil sagt dann "ok" oder "defekt"... Ja, das ist alles schonmal dagewesen: http://www.elv.de/ELV-IC-Tester/x.aspx/cid_726/detail_34660 http://www.elv.de/IC-Tester-ICT-95-Teil-13/x.aspx/cid_726/detail_34107 (http://www.nemetzpower.de/Forum64/ICTester.pdf) Diverse "Alles-Programmer" chinesischer Herkunft, die auf ebay verhökert werden, können/konnten das auch oft - quasi "nebenbei". Beispiel: http://www.ebay.de/itm/USB-Universal-Programmer-Support-13000-ICs-EPROM-FLASH-CPLD-MCU-Adapters-/171008781232?hash=item27d0eaebb0 (unter Punkt 10 der "Features" wird die Sache kurz angedeutet, und eine genaue Auflistung der unterstützten Teile findest Du ganz am Ende der folgenden Liste: http://www.autoelectric.XX/minipro/MiniProSupportList.txt , statt des "XX" musst Du "cn" einfügen, der Spamfilter will's so...) Hier noch ein paar Beispiele für Bastellösungen: http://www.8051projects.info/proj.php?ID=82 http://www.8051projects.info/proj.php?ID=73
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Nachfolgenden IC-Tester für die Serien 74xx und 4xxx nutze ich, mit allerdings dem einen o. anderen fragwürdigen Resultat => http://www.ebay.de/itm/New-IC-Tester-74-40-45-Series-lC-Logic-Gate-Tester-Digital-Meter-/161357671385 So habe z.B. mal ca. 50 St. neue MH7442 allesamt als <BAD> getestet bekommen... Ingo
Ingolf O. schrieb: > So habe z.B. mal ca. 50 St. neue MH7442 allesamt als <BAD> getestet > bekommen... Die waren bestimmt für Feuchtraum-Einsatz spezifiziert. MfG Paul
Ingolf O. schrieb: > So habe z.B. mal ca. 50 St. neue MH7442 allesamt als <BAD> getestet > bekommen... Ich hatte da auch 50% Fehler auf meinem China Programmer. Vermutlich, weil der 7442 zu viel Strom zieht.
Nun, 50% sind deutlich besser als meine 100%! :D Der gen. Grund könnte auch auf meine zuletzt als <BAD> getesteten nagelneuen 7407 hinweisen.
Schaltkreistester hatte ich schon im letzten Jahrtausend. Deren Aussage war jedoch auf Grund von Kontaktproblemen und Zeitverhalten nie 100% zuverlässig.
ich glaube das nennt sich ICT https://de.wikipedia.org/wiki/In-Circuit-Test und wurde in der Industrie immer verwendet, zu letzt in meiner Zeit auch als Kombitester von SPEA. Zuerst wurden die Baugruppe auf einen Adapter gelegt mit vielen Nadeln https://www.google.de/search?q=ICT+Adapter&client=firefox-b&source=lnms&tbm=isch&sa=X&ved=0ahUKEwi78dKp04rQAhWLXBoKHUGnCPsQ_AUICCgB&biw=1280&bih=900 dann wurden die Bauteile alle getestet, manche dabei sogar schon programmiert und dann wurde ein Funktionstest gemacht welches die Umgebungsbedingungen an die Baugruppe legte, Power, Einschaltsequenz, In und Out Bedingungen. https://www.spea-ate.de/index.php?id=318&L=0
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Ich nutze den ELV IC-Tester Modell 95 noch immer gerne, denn der ist voll programmierbar, d.h. kann man damit alles testen, was sich irgendwie digital beschreiben lässt! Der Name ICT95 war und ist irreführend, denn es ist ein IC-Tester, KEIN In-Circuit-Tester, wie das Kürzel ICT unterstellen würde. Da er leider nur unter den DOS-basierenden Windows-Varianten, also bis max. WinME funktioniert (persönlich getestet auf Win95b und Win 3.11 wfw) und auch nur 5V Versorgung unterstützt, stellt sich natürlich die Frage nach einem Nachfolger etc. Wie gesagt: ich finde an dem Ansatz genial, das man mit einer einfachen Makro-Sprache selbst neue Prüfdefinitionen hinzufügen oder die bestehenden bearbeiten kann. Ein Manko für die Portierung in die Jetzt-Zeit ist allerdings sein Anschluss an die Parallel-Schnittstelle, die als solche wirklich physikalisch vorhanden und mit allen Zugriffsrechten verfügbar sein muss, da jedes Bit dieser Schnittstelle ausgenutzt wird, teils sogar mehrfach ;o) Meine Herangehensweise wäre nun, eine neue, mit lokaler Eigenintelligenz, sprich Controller ausgestattete Version zu bauen und zu programmieren, die über USB zwar die Kommandos und Skripte bekommt, diese aber selbst ausführt. (aus heutiger Ressourcensicht könnte man auch sagen: man embedded einfach ein Win3.11 und macht dieses über USB verfügbar, aber das wäre zu viel Aufwand ...) Ich hätte die damalige HW einfach etwas modernisiert, um sie mit Spannungen ab ca. 2.5V aufwärts kompatibel zu machen und somit für die meisten heutigen Logikfamilien, Speicher etc. nutzbar zu halten. Am Parallelinterface hätte ich im Wesentlichen festgehalten, aber eben nicht mehr trickreich über den LPT-Port eines PC, sondern über entspr. Controllerports realisiert. Auf dem Controller liefe dann auch der Interpreter für die Testfälle, sowie eventuell ein kleines HMI für PC-unabhängige Nutzung, z.b. im Batch-Betrieb. Vorteil wäre halt auch, das man die doch umfangreiche TTL- und CMOS-Typen nicht alle neu erfassen zu bräuchte! Von den fernöstlichen Programmern und deren Fähigkeiten bin ich nicht so überzeugt, meist ist das ziemliche Vapor-Ware oder Wortspielereien mit den Specs. Da stecke ich lieber etwas eigene Arbeit rein ;o) Wenn sich Jemand berufen fühlt, mitzuhelfen oder was beizutragen (so sind z.b. weitere damals für den ELV ICT95 erstellte Testroutinen immer gern gesehen!), dann immer zu! Danke! PS: Ihr merkt schon: der Winter naht, ich brauch ne Aufgabe ...
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