Guten Abend zusammen! Ich habe mal ein Programm geschrieben, daß so lange abwechselnd 0x00 unf 0xff an eine EEPROM-Speicherstelle in einem Atmega8 schreibt, bis diese kaputt ist. "Eigentlich ganz einfach." dachte ich... Ein- und Ausgabe schön über nen Terminalprogramm (was auch soweit klappt), aber irgendwas stimmt scheinbar mit meinen EEPROM-Routinen nicht! Denn ich habe an einer Stelle mittlerweile weit über 4 Mio. Schreibzugriffe! Und spezifiziert sind die mit gerade mal 10000. Ich finde es echt nicht. der Inhalt der zu zerstörende Speicherstelle wird sogar vor jedem neuen Reinschreiben ausgegeben, und da kann ich sehen, DASS die Werte sich scheinbar wirklich ändern, die Schreibzugriffe also stattfinden... Würde mich echt freuen, wenn ihr da mal drüber gucken könntet... Danke schonmal! Gruß, Jojo
Eeproms halten anscheinend sehr viel aus: http://hackaday.com/2010/06/14/update-flash_destroyer-final-destroys-eeprom/
Joachim A. schrieb: > aber irgendwas stimmt scheinbar mit meinen EEPROM-Routinen nicht! Du solltest zwischendurch mal die Versorgungsspannung abschalten und/oder vor dem Lesen länger warten. So eine ausgeleierte EEPROM-Zelle hält die geschriebenen Daten schon noch locker ein paar Sekunden... :-o Nur eben nicht mehr die garantierten 10 Jahre... :-(
Und wozu dient der Test? Im Datenblatt steht ausdrücklich und explizit die Mindestzahl von Schreibzyklen. Ein sinnvoller Test prüft also, ob nach dieser Mindestzahl von Schreibzyklen alles noch stimmt ---> IC hat Spezifikation bestanden. Ein sinnfreier Test dagegen prüft irgendetwas anderes, z.B. beschreibt es das EEPROM einige Millionen Male. Wenn das EEPROM jetzt immer noch tut, geht der sinnfreie Tester hin und sucht seinen Fehler. Bernhard
Dann lies mal die Spec genau. Die 10000 sind gültig über den gesamten Versorgungsspannungs und Temperatur Bereich. Bist du im optimalen Bereich halten die Zellen fast ewig. Mach den gleichen Versuch mal bei z.b. 80 °C ( ich gehe mal davon aus das der EEPROM auf -20 bis +85 °C ausgelegt ist) und du wirst sehen das die Anzahl der Schreibzyklen gewaltig einbricht.
... Und spezifiziert sind die mit gerade mal 10000 ... Das EEPROM im ATMega8 ist mit 100 000 Schreibzyklen angegeben.
Ok, danke erstmal für die Antworten... @Martin: da hast du natürlich recht... da ist die eine "0" wohl beim eintippen verloren gegangen :) . @Lothar: danke für den Hinweis. Einmal hatte ich die Spannung schon aus, bei ca. 3 Mio. Zugriffen. Das war gestern, heute sind es bereits 4 Mio. Aber ok, ich kann ja mal längere Pausen einfügen. Aber eine Sekunde ist mir da doch zu lang ;) ... @Bernhard: auch wenn es in den Forenregeln nicht "ausdrülich und explizit" drin steht kann aber doch davon ausgegangen werden, daß sinnfreie Kommentare auch keine Mindestanzahl von "Prima"-Stempeln ins Fleiß-Heftchen gibt. Aber genau so, wie der Eine gern sinnfrei testet macht de Andere eben gern sinnfreie Kommentare. Jeder so, wie er will :) . Dann geh ich mal vorsichtig davon aus, daß dann eben noch ab Ablauf gefeilt werden sollte... Danke erstmal! Gruß
Hallo, ich habe beruflich mit EEPROMs im Automotive Bereich zu tun. Die Anforderungen in dem Bereich sind ziemlich streng was Temperaturbereich und Anzahl der Schreibzyklen betrifft. Es gibt da mehrdimensionale Diagramme, die die Anzahl der Zyklen angeben abhängig von vielen Parameter. Es gibt da auch die Aussage, dass nicht die Zelle an sich das schwächste Glied ist, sondern die Ladungspumpe zur Erzeugung der Programmierspannung.
Der Hersteller garantiert das der Inhalt des EEPROMs, auch nach den 100000ten Programmieren zehn Jahre erhalten bleibt. (Innerhalb des spezifizierten Temperaturbereiches). Da hab ich was von Infineon dazu gefunden: http://av.rds.yahoo.com/_ylt=A0geumA6QmRMxQIBEDiTLaMX;_ylu=X3oDMTBvdmM3bGlxBHBndANhdl93ZWJfcmVzdWx0BHNlYwNzcg--/SIG=15bkktftu/EXP=1281725370/**http%3a//www.infineon.com/dgdl/ap0805710_XC8xx_eeprom_emulation.pdf%3ffolderId=db3a30431375fb1a01138c57204603bd%26fileId=db3a30431689f44201169021e82c00b1 Also muss dein Test eigentlich nach dem x-ten EEPROM Schreiben nun in zehn Jahren weitergeführt werden. Beim Chiptest (auf dem Wafer !) wird diese Zeit durch sog. "baken" des Wafers bei 225 Grad Celsius abgekürzt: http://www.tmworld.com/article/325423-EEPROMs_store_calibration_data.php
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