Hallo, ich habe hier schon viele interessante Beiträge gelesen und möchten mich nun neben dem Löten auch ein wenig mehr mit der Elektronik beschäftigen. Bisher habe ich nur mit Multimeter, ESR meter usw gearbeitet um geräte zu reparieren. Nur komme ich nicht mehr weiter, wenn es drum geht herrauszufinden ob ein DSP Chip oder ein Ram bei z.B. einem Synth defekt sind. Dazu überwege ich nun mir ein Oszi oder einen Logic analyzer zu kaufen. Und genau das wäre meine Frage. Womit wären solche Messungen möglich, also Ic Bausteine, DSP´s und Rams auf funktion zu prüfen in eingeschaltetem Zustand. Gedanken dauz habe ich mir schon gemacht z.B. mit dem Oszi den datenstrom (Strombewegung)des Ram anzeigen lassen und mit einem daneben z.B. vergleichen. Wäre über jede Hilfe dankbar, weil ich da wirklich auf dem Schlauch stehe und mit nicht recht vorstellen wie ich das richtig messen kann. MfG Stefan
Wenn du noch kein Oszilloskop hast, dann fang damit an. Der Logic Analyser ist auch ein nettes Messgerät aber wenn da nicht das rauskommt was du erwartest, nimmst du auch zu aller erst das Oszilloskop um zu sehen, ob die Signale gut genug sind (also anständig "digital"). Wenn du das Geld zur Verfügung hast, lohnt sich auf alle Fälle ein Oszilloskop mit 4 Kanälen, zwei sind schon sehr schnell knapp.
>Gedanken dauz habe ich mir schon gemacht z.B. mit dem Oszi den >datenstrom (Strombewegung)des Ram anzeigen lassen und mit einem daneben >z.B. vergleichen. Ja und wenn nur eine Zelle im Ram kaputt ist meinst du das die Ströme messbare Unterschiede haben???? So ein Quatsch. >Wäre über jede Hilfe dankbar, weil ich da wirklich auf dem Schlauch >stehe und mit nicht recht vorstellen wie ich das richtig messen kann. So sieht es aus. Gruß Jonas
@ Christoph Z. dankef für die antwort, also ist eines der beiden geräte schon richtig bzw. gibt es kein anderes welches genau dafür da ist?
Stefan schrieb: > gibt es kein anderes welches genau dafür da ist? Ds Ding ist doch eigentlich, daß ICs und DSPs (DSPs sind auch ICs) nicht durch eine simple Messung als defekt oder in Ordnung eingestuft werden können. Da müßtest du sämtliche Funktionen, die diese ICs beinhalten, testen und auch alle Anschlußpins mit allen möglichen Bitmustern. Für den Vergleich mit einer anderen funktionierenden Baugruppe könnte man zwar einzelne Signale mit zwei Kanälen eines Oszis vergleichen, aber dazu müßte die beiden Baugruppen auch völlig zeitsynchron laufen, sonst wirst du auf jeden Fall Unterschiede feststellen. Auch bei einem RAM zu Beispiel, wie schon angesprochen, können einelne Zellen defekt sein. Das wirst du so einfach nicht rausmessen können. Auch bei anderen ICs (µC) kann durchaus mal ein Port oder auch nur ein Pin defekt sein und der Rest des Prozessors ist noch in Ordnung. Kurze Zusammenfassung: Es kann kein Gerät geben, was dir sagt: "Dieses IC ist in Ordnung oder defekt". Aber bei der Eingrenzung eines Fehlers können Oszi und Logikanalyzer sehr hilfreich sein. Vorausgesetzt, man weiß, was an einem bestimmten Punkt der Schaltung für ein Signal anliegen muß.
Es gibt für den profesionellen Platinentest noch die Möglichkeit des "boundary scan". Das lohnt aber nur für eine Serie. Und die eingesetzten ICs müssen dafür geeignet sein. Damit lassen sich defekte ICs und Leiterplattenfehler feststellen.
Hi, professionelle 'legacy' IC-Tester kosten locker mal den Preis eines Luxuskleinwagens, aber die einfacheren Tests macht man wie gesagt per boundary scan, bzw. kann über das zugrundeliegende JTAG-Protokoll typischerweise noch eine Menge anderes auf dem Chip getestet werden. SRAMs und asynchrone Bausteine testet man typischerweise am lebenden Objekt, für defekte Ramzellen also eher direkt an einem Test-Prozessor. SDRAM- bzw. DDRAM-Timings zu monitoren benötigt Analyzer, die wiederum etwa preislich im Kleinwagenbereich liegen.. Für einfache Chips ist schon ein Buspirat ab 25€ geeignet.
Wenn die Bausteine Boundary-Scan fähig sind, kann man schon viel machen. Aber auch DDR-RAMs usw. sind da mittlerweile gut testbar. Wir arbeiten mit dem Göpel System und da haben die mit VarioTap mittlerweile eine Software, die solche RAMs direkt über die entsprechenden Funktionen des Prozessors anspricht. Klappt auch bei den FPGAs, da können die über eigene IP Cores z.B. auch die schnellen transceiver testen. Wir hatten uns das mal vorführen lassen, war schon beeindruckend. Aber leider nicht ganz billig.
Eigentlich ist boundary scan ziemlich einfach, das könnte jeder Mikrocontroller übernehmen. Man muss nur derart tief in die Bedeutung jedes einzelne Bits einsteigen, eine Automatisierung der Programmierung der Testroutine ist kaum möglich. Eine große Sammlung der BSDL-Files vieler Hersteller gibts hier http://www.bsdl.info/index.htm
Einfach ist das schon. Die Kunst besteht ja dann darin, aus der Netzliste des CAD Systems die passenden Bauelemente automatisch zu erkennen, die Verbindung der BS-Zellen herzustellen und dann auch noch möglichst effizient, als mit wenig Testschritten alle testbaren Leitungen abzutesten, und zwar auf Kurzschluss mit GND, Kurzschluss mit VCC, Kurzschluss mit einer anderen Leitung oder halt nicht angeschlossen. Da sind bei den Herstellern sicherlich viele Mannjahre reingeflossen.
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